Дипломы, курсовые, рефераты, контрольные...
Срочная помощь в учёбе

Создание государственной системы обеспечения единства измерений нового поколения в области дилатометрии

ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Потребность в измерении теплового расширения существует практически во всех современных отраслях техники и технологий, использующих точное сопряжение деталей, функционирующих при переменных температурах. К ним относятся авиационная и космическая техника, электронная промышленность, приборои машиностроение. Точные знания величин температурных коэффициентов линейного расширения (TKJIP) материалов… Читать ещё >

Содержание

  • Введение
  • Глава 1. Анализ состояния действующей системы обеспече- 15 — 40 ния единства измерений в области дилатометрии и разработка современных требований к ее совершенствованию
    • 1. 1. Задачи системы обеспечения единства измерений в дила- 15−18 тометрии
    • 1. 2. Анализ современного состояния эталонной и норматив- 19−31 ной базы в области дилатометрии
    • 1. 3. Анализ и оценка соответствия существующей системы и 32−36 ее возможностей перспективным требованиям к метрологическому обеспечению измерений ТКЛР твердых тел
    • 1. 4. Выбор направления совершенствования системы обеспе- 36−40 чения единства измерений ТКЛР твердых тел
  • Выводы
  • Глава 2. Пути построения нового ГПЭ и системы передачи 41−82 размера единицы ТКЛР
    • 2. 1. Анализ существующих методов измерения ТКЛР твер- 43 — 60 дых тел, их классификация, точностные характеристики и предельные возможности
    • 2. 2. Выбор и обоснование метода измерений ТКЛР материа- 60 — 63 лов для создания первичного эталона единицы ТКЛР и разрядных эталонов ТКЛР
    • 2. 3. Исследование тепловых процессов в интерференцион- 63 — 78 ных дилатометрах, и их влияние на точность измерений
  • ТКЛР материалов
    • 2. 3. 1. Тепловые процессы в камере термокриостата. Опреде- 64 — 73 ление преобладающего механизма теплопереноса
    • 2. 3. 2. Расчетная модель процессов теплообмена в камере 73 — 78 термокриостата дилатометра
    • 2. 4. Разработка структуры нового ГПЭ и системы передачи 78 — 81 единицы ТКЛР
  • Выводы
    • Глава 3. Аппаратура для нового Государственного первич- 83 — 132 ного эталона единицы ТКЛР. Конструкция и функционирование установок эталонного комплекса
    • 3. 1. Общая характеристика аппаратуры для нового эталона 85 — 87 единицы TKJIP
    • 3. 2. Описание метода измерения ТКЛР твердых тел
    • 3. 3. Оптические схемы дилатометров, входящих в эталонный 91−93 комплекс
    • 3. 4. Аппаратура для нового эталона единицы ТКЛР 93−102 3.4.1 Низкотемпературная установка — эталонный 93 интерференционный дилатометр ДИС
    • 3. 4. 2. Высокотемпературная установка — эталонный 99интерференционный дилатометр ДИВ
    • 3. 5. Компьютерная управляющая измерительная система эта- 102 — 119 лонного комплекса
    • 3. 5. 1. Характеристики аппаратного комплекса автоматизиро- 102 — 106 ванной системы
    • 3. 5. 2. Система считывания и обработки визуальной инфор- 106 — 114 мации
    • 3. 5. 3. Измерение и регулирование температуры
    • 3. 6. Обработка результатов измерения температурных коэф- 119 — 126 фициентов линейного расширения
    • 3. 7. Пользовательский интерфейс управления эксперимен- 126−130 том
  • Выводы
    • Глава 4. Теоретический анализ погрешностей измерения на 133−167 эталонных дилатометрах
    • 4. 1. Погрешность и неопределенность результата измерений
    • 4. 2. Анализ систематических и случайных составляющих по- 135 -150 грешности измерения ТКЛР
    • 4. 2. 1. Анализ погрешностей измерения удлинения
      • 4. 2. 1. 1. Анализ систематических погрешностей измерения 137−141 удлинения
      • 4. 2. 1. 2. Экспериментальное определение характеристик со- 141−145 ставляющих случайной погрешности измерения удлинения
      • 4. 2. 2. Погрешность измерения температуры и ее изменения 145 — на эталонных дилатометрах
    • 4. 3. Ожидаемая оценка погрешности и неопределенности 150 — 154 результата измерения ТКЛР по результатам анализа составляющих погрешностей
    • 4. 4. Методика аттестации мер ТКЛР на эталонных дилато- 155−158 метрах
    • 4. 5. Экспериментальное определение погрешности измере- 158−160 ния ТКЛР на эталонных дилатометрах
    • 4. 6. Сопоставление полученных данных с данными других 160 — 166 авторов
  • Выводы
  • Глава 5. Система передачи единицы ТКЛР
    • 5. 1. Средства передачи единицы ТКЛР. Эталонные меры 169 — 178 ТКЛР
    • 5. 2. Средства передачи. Эталонные дилатометры. 178−185 ft 5.3. Рабочие средства измерения ТКЛР материалов
      • 5. 3. 1. Интерференционный дифференциальный дилатометр 186−215 типа ДИД
      • 5. 3. 2. Дилатометры типа ДИАН
      • 5. 3. 3. Относительные дилатометры ДКТ- 40 и ДКТ-50 218 — 221 5.4. Проект новой поверочной схемы для средств измерений 221 — 226 единицы ТКЛР твердых тел
  • Выводы

Создание государственной системы обеспечения единства измерений нового поколения в области дилатометрии (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Потребность в измерении теплового расширения существует практически во всех современных отраслях техники и технологий, использующих точное сопряжение деталей, функционирующих при переменных температурах. К ним относятся авиационная и космическая техника, электронная промышленность, приборои машиностроение. Точные знания величин температурных коэффициентов линейного расширения (TKJIP) материалов являются необходимыми для группы приоритетных направлений, связанных с критическими технологиями федерального уровня значимости в промышленности, нанои оптоэлектронике.

Необходимость технологического контроля и сертификации по TKJIP возникает при производстве новых конструкционных материалов различного назначения. Применение этих материалов при переменных температурах, использование соединений материалов с разными TKJIP также требуют знания величины TKJIP с высокой точностью. Таким образом, в развитом технологическом обществе потребность в измерениях TKJIP почти столь же высока, как и в основных видах измерений.

Аппаратура и средства измерения TKJIP материалов развиваются в соответствии с растущими требованиями науки и технологий. Так, например, в последнее время требования к точности рабочих средств измерений (РСИ), в частности дилатометров, осуществляющих контроль TKJIP в высокотехнологичных отраслях промышленности, приблизились к возможностям приборов эталонного комплекса. Кроме того, современная техника все больше ориентируется на качественно новые, искусственно созданные материалы, в т. ч. материалы, не допускающие точной механической обработки, неоднородные по составу, а также пленки, волокна, пористые тела. Поэтому важным направлением деятельности в дилатометрии становится разработка и создание системы метрологического обеспечения измерений TKJIP новых материалов, которые не были охвачены старыми методами измерений. Это особенно важно для тех материалов, для которых TKJIP является сертифицируемым параметром.

В период после утверждения ГОСТ 8.018−82 на средства измерений TKJIP твердых тел [1] в технике измерения TKJIP был достигнут существенный прогресс, найдены технические решения, обеспечивающие возможность повышения точности по сравнению с возможностями утвержденного эталона. Постоянная модернизация государственного первичного эталона (ГПЭ) единицы TKJIP, автоматизация процесса измерений, расширение номенклатуры мер TKJIP привели к тому, что удалось в несколько раз повысить точность поверки, расширить класс поверяемых РСИ, что отвечает современным требованиям науки и промышленности. Однако такие измерения не согласуются с действующей поверочной схемой на средства измерений ТКЛР твердых тел (ГОСТ 8.1 882).

Все это обуславливает необходимость разработки системы обеспечения единства измерений ТКЛР твердых материалов, которая объединит разработки и достижения последних лет и приведет систему метрологического обеспечения измерения ТКЛР твердых тел в соответствие с современными и прогнозируемыми на перспективу требованиями народного хозяйства.

Целью работы является разработка системы обеспечения единства измерений ТКЛР твердых тел в широком диапазоне температур.

Поставленная цель потребовала решения следующих задач:

— анализа и систематизации наиболее точных методов измерений ТКЛР;

— разработки, теоретического и экспериментального исследования методов воспроизведения единицы TKJIP;

— теоретического обоснования, проектирования и создания комплекса ГПЭ единицы TKJIPs.

— разработки и исследования методов и средств передачи размеров единицы TKJIP от первичного эталона вторичным эталонам, эталонным СИ и РСИ;

— разработки и создания методов и средств измерений ТКЛР новых классов материалов и их метрологического обеспечения.

Основные положения, выносимые на защиту.

1. Основы построения новой системы обеспечения единства измерений в области дилатометрии, включая проект новой поверочной схемы для средств измерения ТКЛР твердых тел.

2. Комплекс аппаратуры, предназначенный для нового государственного первичного эталона единицы ТКЛР твердых тел в диапазоне температур 90−1800 К, и результаты его исследования.

3. Результаты теоретических и экспериментальных исследований составляющих погрешности измерения ТКЛР.

4. Метод измерения удлинения с применением многопараметрической обработки интерференционной картины на основе использования матричного видеопреобразователя.

5. Результаты разработки и исследования вторичных эталонов единицы ТКЛР ВЭТ 24−1-84, ВЭТ 24−2-88, ВЭТ 24−3-03 и рабочих эталонов (образцовых мер ТКЛР) 2-го разряда.

6. Результаты разработки и исследования высокоточных РСИ ТКЛР малорасширяющихся материалов для нужд базовых метрологических лабораторий различных отраслей промышленности.

Научная новизна работы заключается в следующем: 1. Создана новая система обеспечения единства измерений в области дилатометрии, ориентированная на современные и перспективные требования науки и технологий.

2. На основе проведенных исследований создан комплекс аппаратуры для нового ГПЭ единицы ТКЛР для диапазона температур 90 — 1800 К.

Стандартная неопределенность результата измерений ТКЛР, оцениваемая по типу, А при трех независимых измерениях для интервала температур ft 1.

100 К, составляет (0,05-^-0,46)х 10″ К" в зависимости от температуры и ТКЛРстандартная неопределенность результата измерений ТКЛР, оцениваемая по типу В, в зависимости от значений температуры и ТКЛР составляет (0,03*8,4)х 10'8 К" 1.

3. Впервые в дилатометрии применен новый метод считывания интерференционной картины и ее последующего анализа в реальном времени с помощью матричных видеопреобразователей. Реализация этого метода в аппаратуре для нового государственного первичного эталона единицы ТКЛР обеспечила возможность уменьшения погрешности измерения удлинения в три-пять раз по сравнению с комплексом эталонных установок 1982 года.

4. Разработана модель тепловых процессов в криостатах интерференционных дилатометров, на основе которой получены численные решения для оценивания составляющих погрешности измерения температуры. Впервые выявлена ранее не учитываемая составляющая погрешности измерения температуры — погрешность несоответствия температур образца и термометра.

5. Теоретически обоснован и экспериментально исследован метод измерения ТКЛР композиционных материалов с малым тепловым расширением, положенный в основу создания дилатометра нового поколения для контроля ТКЛР композиционных материалов, а также материалов, не допускающих точной механической обработки и неоднородных по составу.

6. Впервые даны значения ТКЛР силицированного карбида кремния и % монокристаллического двойного вольфрамата натрия (NaBi (W04)2) перспективных материалов для науки и промышленности.

Практическое значение и реализация результатов работы.

1. Разработан комплекс аппаратуры, являющийся основой для построения? нового ГПЭ единицы ТКЛР. Комплекс обеспечивает возможность повышения точности измерений удлинения на эталонных дилатометрах в три — пять раз, основанную на применении нового способа объективного отсчета дробной части порядка интерференции. Подготовлены материалы к переутверждению эталона.

2. Созданы и внедрены в практику три вторичных эталона, два рабочих эталона (образцовых дилатометра) 1-го разряда и рабочие эталоны (образцовые меры ТКЛР) 2-го разряда, в том числе пять типов мер из новых, ранее не использовавшихся материалов, что обеспечило передачу размеров единицы ТКЛР от ГПЭ рабочим средствам измерений.

3. Создан и внедрен в практику дилатометр ДИД-2 для измерения ТКЛР % композиционных материалов, что позволило обеспечить контроль и сертификацию материалов по ТКЛР в процессе производства, в том числе неоднородных и не допускающих точной механической обработки. Прибор позволяет повысить точность измерения ТКЛР композиционных материалов с малым тепловым расширением (oKl lO" 6 К" 1) в 10 раз. Технические решения, реализованные в данном приборе, защищены патентом (№ 2 089 890 от 16 февраля 1993 г.).

4. Разработаны, созданы и внедрены в базовые метрологические лаборатории ряда отраслей промышленности высокоточные РСИ ТКЛР материалов: дилатометр ИДС-2 (ГОСНИИКС-1975 г.), ИДС-3 (НИИКП -1976 г.), ИДС-4 (Обнинск, НИИ «Технология» — 1980 г.), ДИД-1 и ДИД-2 (Новосибирский электродный завод — 1993 г., ОАО «Уралэлектродин» -1986 г.).

Разработан и выпускается малыми сериями высокоточный кварцевый дилатометр типа ДКТ для диапазонов температуры 20 — 520 °C и 20 — 900 °C. Ф Дилатометры этого типа используются в научно-исследовательских институтах, центральных заводских лабораториях предприятий различного профиля.

5. Разработаны: методика выполнения исследований TKJIP твердых тел на ГПЭ единицы ТКЛР, методики поверки вторичных эталонов — мер TKJIP, разрядных рабочих эталонов (образцовых дилатометров) 1-го разряда и (образцовых мер TKJIP) 2-го разряда (МИ 28−2003) и методики поверки РСИ.

6. Выполнено комплексное обеспечение методиками измерения и данными по ТКЛР работ по созданию большого зеркала астротелескопа по международному проекту «SALT» .

7. В государственную систему стандартных справочных данных в области теплового расширения включены значения ТКЛР пяти материалов (монокристаллического оксида алюминия различной ориентации, молибдена, алюминия, сплава «пирос», силицированного карбида кремния).

Диссертационная работа содержит введение, пять глав, заключение и четыре приложения.

Выводы.

Пятая глава посвящена рассмотрению системы передачи единицы ТКЛР от ГПЭ разрядным рабочим эталонам (образцовым средствам) и рабочим средствам измерения ТКЛР.

1. Определены требования к материалам для эталонных мер ТКЛР.

2. Приведены результаты исследования ТКЛР ряда материалов с целью использования их в качестве эталонных мер ТКЛР и исследования временной стабильности мер ТКЛР из различных материалов. Разработанный набор мер охватывает диапазон температур от -180 °С до 1500 °C и значений ТКЛР (0,01 -25) 10″ 6 К" 1.

3. Описаны конструкции рабочих эталонов 1-го разряда — дилатометров, разработанных в лаборатории и используемых для поверки рабочих эталонов 2-го разряда — мер ТКЛР, и рабочих дилатометров для ведомственных лабораторий.

4. Дилатометры типа ДИД, ДИАН и ДКТ представляют собой новые типы приборов, которые позволили распространить методы прецизионной дилатометрии на новые классы материалов и обеспечили контроль и сертификацию их по ТКЛР.

5. Предложен проект новой поверочной схемы для средств измерения ТКЛР твердых тел взамен ГОСТ 8.018−82, представленной к утверждению в Госстандарт России.

Таким образом, комплекс разработанных приборов и мер ТКЛР позволяет реализовать предложенную схему передачи единицы ТКЛР от ГПЭ образцовым и рабочим средствам измерения ТКЛР.

Заключение

.

Основным результатом выполненной работы является решение крупной научно-технической проблемы, имеющей важное хозяйственное значение, -создание основ построения современной системы обеспечения единства измерений ТКЛР твердых тел в широком диапазоне температур.

Исследование включает разработку новых методов измерений ТКЛР и способов обработки результатов, создание комплекса установок для измерения ТКЛР, начиная с аппаратуры для ГПЭ и кончая рабочими средствами измерения теплового расширения материалов. Уровень точности воспроизведения единицы ТКЛР новой аппаратурой для ГПЭ в настоящее время составляет (0,05 + 8,4) 10'9 К" 1- по сравнению с предыдущей реализацией эталона точность измерений ТКЛР повышена в 2 — 3 раза.

Совокупность решенных в диссертации задач охватывает функционирование всех ступеней системы метрологического обеспечения от нового эталона единицы ТКЛР и поверочной схемы до различных мер сравнения и нескольких типов рабочих средств измерения. Большое внимание уделено созданию рабочих приборов и средств их поверки — мер ТКЛР. Эти разработки используются предприятиями различного профиля. Один из предложенных типов приборов стал базовым контрольным средством измерения ТКЛР материалов в электродной промышленности. Все это подтверждает актуальность, востребованность и практическую важность работ, составивших основу диссертации.

Таким образом, выполненный комплекс исследований включал разработки по всем основным четырем составляющим системы обеспечения единства измерений в области дилатометрии: научных и организационных основ, технических средств, правил и норм, необходимых для достижения единства и требуемой точности измерений. Наиболее значимыми результатами являются:

Разработанный метод измерения удлинения с применением многопараметрической обработки интерференционной картины на основе использования матричного CCD видеопреобразователя, обеспечившего:

— расширение методических и информационных возможностей дилатометрических измерений;

— повышение точности измерения удлинения исследуемых образцов в 2−5 раз.

Создание комплекса аппаратуры, предназначенного для нового государственного первичного эталона единицы ТКЛР твердых тел в диапазоне температур 90−1800 К. Погрешность воспроизведения единицы ТКЛР характеризуется стандартной неопределенностью, оцениваемой по типу A, ua — (0,05 -0,46) 10'8 К" 1, стандартной неопределенностью, оцениваемой по типу .В, ив = (0,03−8,4) Ю-8 К-1.

Проведение теоретико-экспериментального анализа составляющих погрешностей измерения на эталонных дилатометрах и разработку основанной на нем методики измерения ТКЛР, обеспечивающей получение результатов с СКО до 0,5 Ю-9 К-1.

Создание и внедрение в практику средств передачи единицы ТКЛР: трех вторичных эталонов, двух образцовых дилатометров 1-го разряда и образцовых мер ТКЛР 2-го разряда из семнадцати материалов с диапазоном ТКЛР от 0,0110″ 6 К" 1 до 25 10″ 6 К" 1, что обеспечило передачу размеров единицы ТКЛР от ГПЭ рабочим средствам измерений.

Реализацию предложенного, теоретически и экспериментально исследованного метода измерения ТКЛР композиционных материалов с малым тепловым расширением. Метод положен в основу проектирования и создания дилатометра нового поколения для контроля ТКЛР композиционных материалов, а также материалов, не допускающих точной механической обработки и неоднородных по составу.

6. Разработку и исследование высокоточных рабочих средств измерения материалов для нужд базовых метрологических лабораторий различных отраслей промышленности.

7. Проведение исследований ТКЛР новых конструкционных материалов, что позволило внедрить в метрологическую практику новые меры ТКЛР, обеспечивающие поверку высокоточных РСИ, ранее не поверявшихся.

8. Создание нормативных документов, в том числе ГОСТ, методик поверки и методик выполнения измерений, а также стандартных справочных данных по ТКЛР различных материалов.

В целом, можно обоснованно считать, что итогом работы явилось создание современной системы обеспечения единства дилатометрических измерений, которая позволит решать актуальные задачи, возникающие в современных отраслях техники и технологий, в том числе: распространить разработанные высокоточные методы определения ТКЛР на более широкий круг материалов и расширенный температурный диапазон, обеспечить высокоточными и доступными средствами измерения ТЬСЛР отраслевые и промышленные лабораторииобеспечить средствами поверки и калибровки средства измерения ТКЛР всех звеньев поверочной схемы.

Достигнутый в новой аппаратуре для ГПЭ единицы ТКЛР уровень точности воспроизведения единицы ТКЛР 0,5 10″ 9 К" ! достаточно высок и соответствует уровню, имеющемуся в национальных метрологических институтах развитых стран, а также, предположительно, окажется достаточным для удовлетворения запросов науки и промышленности на доступную прогнозированию перспективу порядка десяти лет.

Показать весь текст

Список литературы

  1. ГОСТ 8.018−82 «ГСИ. Государственный первичный эталон и государственная поверочная схема для средств измерения ТКЛР твердых тел в диапазоне температур 90 1800 К» // М.: Издательство стандартов, 1982, -Юс.
  2. ГОСТ 16 263–70. Метрология. Термины и определения. // М.: Изд. стандартов, 1972, -52с.
  3. РМГ 29−99. Государственная система обеспечения единства измерений. Метрология. Основные термины и определения. // Минск, Изд. стандартов, 2000, -47 с.
  4. ГОСТ 1.25−76 Метрологическое обеспечение // М.: Изд. стандартов, 1976,6 с.
  5. ГОСТ Р 8.000−2000 Государственная система обеспечения единства измерений. Основные положения // М.: Изд. стандартов, 2000, 4 с.
  6. ГОСТ 8.158−75 «Государственный специальный эталон и общесоюзная поверочная схема для средств измерения ТКЛР твердых тел в диапазоне температур 4,2 90 К» // М.: Издательство стандартов, 1975, -4 с.
  7. ГОСТ 8.018−75 «ГСИ. Государственный первичный эталон и общесоюзнаяповерочная схема для средств измерения температурных коэффициентов линейного расширения в диапазоне температур 90−1100 К» // М.: Издательство стандартов, 1975, -8 с.
  8. Ю.И. «Спорные вопросы современной метрологии в химическом анализе» // С-Пб, 2003 г., -303 с.
  9. I.P., Mears T.W., Michaelis R.E. «The Role of Standard Reference Materials in Measurement Systems» // NBS Monograph 148., Washington, NBS, 1975.
  10. T.A. «Thermal Expansion of Copper from 20 to 800 К Standard Reference Material 736» // J. of Appl. Phys., 1970, vol. 41, N 13, p. 50 965 101.
  11. A. «Thermal expansion, Gruandeisen parameter and temperature depedence of Cattice vibration frequencies of aluminum oxide» // Canad. J. Of Phys., 1965, vol. 43, N 4, p. 523−531.
  12. SJ. «An absolute interferometric dilatometer» // J. Phys. E: Sci. Instrum., 1977, v. 10, p.525−530.
  13. Birch K.P., Okaji MM J. Phys. E: Sci. Instrum., 1988, 27, p.2813−2815.
  14. R.B. «Absolute dilatometry using a polarization interferometer» // J. of Phys. E: Scientific Instruments, 1975, v. 8, p. 600 602.
  15. M., Imai H. «Practical measurement system for the accurate determination of linear thermal expansion coefficient» // J. Phys. E: Sci. Instrum., 1984, 17, p. 669−673.
  16. M., Imai H. «High precesion dilatometry for measurements of thermal expansion of solids»// J. Phys. E: Sci. Instrum., 1987, 20, p. 887−891.
  17. M. «Thermal Expansion Measurements of Some Reference Materials by a Thermo-Mechanical Analyzer» // Proc. Thermophysical Properties 9 the 9th Japanese Symposium, 1988, 9,13.
  18. American Society for Testing and Materials 1993 ASTM E 831−93.
  19. American Society for Testing and Materials 1995 ASTM E 228−95.
  20. American Society for Testing and Materials 1999 ASTM E 289−99.21. 1990 British Standard 1902, section 5.322. 1989 British Standard 1902, section 5.423. 1995 British Standard EN 821−1, part. 1.
  21. G.K. «Reference materials at low temperatures» // AJP, Conference Proceedings, «Thermal Expansion 1973», N 17, N.Y., 1974, p. 1−8.
  22. T.A. Hahn, R.K. Kirby «Thermal expansion of fused silica from 80 to 1000 К stsandard reference material 739» // AIP, Conference Proceedings, «Thermal Expansion — 1971», N 3, N.-Y., 1972, p. 13−24.
  23. T.A.Hahn «Thermal expansion of single crystal sapphire from 293 to 2000 K. Standard reference material 732» // AIP, Conference Proceeding, «Thermal Expansion 6», N-Y, London, 1978, p. 191−201.
  24. R.K., Hahn T.A. «Standard Reference Material 737 Tungsten» // AIP, Conference Proceedings, «Thermal Expansion 1971», N 3, N.-Y., 1972, p. 87−95.
  25. R.E. Edsinger, M.L. Reily, J.F. Schooley «Thermal Expansion of Platinum and Platinum-Rhodium Alloys» // J. of Research NBS, 1986, v. 91, N 6, p. 333 355.
  26. Guide to NIST // U.S. Department of Commerce, USA, 1998.
  27. M. Okaji, K.P. Birch «Intercomparison of interferometric Dilatometers at NRLM and NPL» // Metrologia, 1991, 28, p. 27−32.31. http://www.matweb.com
  28. ILI Ltd, Index House, Ascot, Berkshire SL5 7EU, UK.
  29. Granta Design, Trumpington Mews, 40B High Street, Trumpington, Cambridge CB2 2LS, UK.
  30. ESM Software, 2234 Wade Court, Hamilton, OH 45 013, USA.
  31. А.Н., Компан Т. А., Малютина Т. И., Шевченко Е. Б. «Состояние и перспективы развития метрологического обеспечения средств измерения ТКЛР в диапазоне температур 90−1800 К» // «Измерительная техника», 1986 г., № 9, с.33−35.
  32. А.Н., Компан Т. А., Малютина Т. И., Шевченко Е. Б. «Проблемы метрологического обеспечения предприятий машиностроения в области дилатометрии в XII пятилетке» // «Измерительная техника», 1988 г., № 10, с. 62−63.
  33. А.Н., Компан Т. А., Малютина Т. И., Шевченко Е. Б. «Состояние метрологического обеспечения в области дилатометрии» // Труды X Всесоюзного совещания по термометрии, Л., 1989 г., с. 27 — 30.
  34. Г. П. «Система обеспечения единства измерений переменного электрического напряжения: состояние» // С-Пб.: издательство Санкт-Петербургского государственного университета, 2002 г.-43 с.
  35. Физический энциклопедический словарь // М., Советская энциклопедия, 1984 г, 944 с.
  36. А.Н. «Методы и приборы для определения температурных коэффициентов линейного расширения материалов», М., Изд-во стандартов, 1972 г., — 140 с.
  37. Т.А. «Дилатометрия» В кн. «Российская Метрологическая Энциклопедия» // С.-Пб., изд-во «Лики России», 2001 г., с.455−460.
  38. С.И. «Тепловое расширение твердых тел»// М.: Наука, 1974, -291 с.
  39. В.А. «Современное состояние эталонов длины и методы точного измерения длины» // Л., изд-во ВНИИМ, 1941, -120 с.
  40. Wilmer Souder W., Hidnert P. «Measurement of the thermal expansion of fused silica.» // Sci.Pap.Bur.Stand., 1926, p.524.
  41. J., Thomas W. «Die thermische Ausdehnung von Quarzglas im Tempera-turbereich von 0 bis 1060 °C.» // Z. Phys., 1963,175, p.337−344.
  42. I., Kimura T. «Thermal Expansion of Fused Quartz» // Metrologia, 1969, N 5, p.50−55.
  43. B.D., Kirby R.K. «An Apparatus for Measuring Thermal Expansion at Elevated Temperatures."// J. Res. NBS, Engin. Instr., 1967, 71C, p.85−91.
  44. В.Я., Петухов В. А. „Установка для точного измерения теплового расширения металлов при высоких температурах“ // „Приборы и техника эксперимента“, 1970, № 5, с.239−240.
  45. В.Н., Аблекова З. П., Гудкова Г. К., Абелиов Я. П. „Оптический дилатометр для определения линейного расширения волокон, пленочных и эластичных материалов в широком диапазоне температур“ // Заводская лаборатория, 1978, т.44, № 12, с. 1505−1506.
  46. В.И., Алымов В. Т., Вишневский З. Н. „Дилатометр для ускоренного исследования теплового расширения полимерных материалов“ // „Измерительная техника“, 1979, № 12, с. 56−57.
  47. R.E., Rothrock B.D., Kirby R.K. „Optical Comparator for Thermal Expansion Measurement“ // 1998, Cindas Data Series in Material Properties, v. l-4, Thermal Expansion of Solids ed R.E. Taylor (Materials Park, OH: ASM International) ch 9, p.225−242.
  48. В. Я. „Дилатометр“ // „Приборы и техника эксперимента“, 1999, № 6, с. 130−132.
  49. И.И., Шерстюков Н. Г. „Тепловое расширение меди в интервале -185 -г 300 °С“ // „Измерительная техника“, 1968, № 12, с. 39−44.
  50. Yamada N., Abe R., Okaji M. „A calibration method for measuring thermal expansion with a push-rod dilatometer“ // Meas. Sci. Technol., 2001, N 12, p. 2121−2129.
  51. J. „Push-rod dilatometer for elevated temperatures“// J. Mater. Sci., 1979, 14, p. 371−378.
  52. P. S. „Thermal Expansion of vitreous silica up to 900 °C“// 1998, Cindas Data Series in Material Properties, v. 1−4, Thermal Expansion of Solids ed R.E. Taylor (Materials Park, OH: ASM International), p. 165−180.
  53. W.J., Grain C. „Thermal Expansion of Alpha Alumina.“ // Advances in X-ray Analysis, 1962, N 5, p. 238−243.
  54. А. „Ионная проводимость кристаллов“// M.: Гос. изд-во Ин.лит., 1962, -222 с.
  55. Р. Физическая оптика // М.: Наука, 1965, -631 с.
  56. Я.С., Малышев В. М. „Установка для измерения ТКЛР твердых тел интерференционным способом“ // „Измерительная техника“, 1974, № 7, с. 34−35.
  57. А.Н. „Интерференционный дилатометр ДИ-2“ -в кн.: Исследования в области температурных измерений // Труды ВНИИМ. М.: Изд. стандартов, 1966, вып. 87 (147), с. 20−28.
  58. К., Nishida S., Nomura S. „A Highly Sensitive Interferometric Dila-tometer“ // Jap. J. Appl. Phys., 1982, v. 21, # 4, p. 596−599.
  59. G. „Instrumentation for Fringe Counting in Dilatometric Measurements“ // Compendium of Thermophysical Property Measurement Methods, 1992, v. 2, ed K.D. Maglic, A. Cezairliyan and V.E. Peletttsky (New York: Plenum) ch. 20, p. 569−599.
  60. T.A. „Fabry-Perot Interferometr for Precise Measurements of Thermal Expansion“ // Cindas Data Series in Material Properties, v. 1−4, Thermal Expansion of Solids ed R.E. Taylor (Materials Park, OH: ASM International) 1998, ch 6, p.181−192.
  61. A. „Laser-based Polarizing Interferometers“// Meas. Sci. Technol., 1994, 5, p. 694−703
  62. M., Yamada N., Moriyama H. „Advances in Thermal Expansion Measurements“ // Metrologia, 2000, 37, p. 165−171.
  63. G.A., Ottonello P., Piano E. „Thermal expansion measurements by speckle interferometry“ // Appl. Opt., 1980, v. 19, N 7, p. 1032−1033.
  64. Kim S., Kim J.H., Lee J. K., Jarng S.S. „Speckle interferometry for Thermal Expansion „III. Mater. Sci. Lett., 1997,16, p. 1753−1756.
  65. W.A., Hagy H.E. „Precision Thermal Expansion Measurements on Low Expansion Optical Materials“ // Appl. Opt., 1968, vol. 7, p. 825−832.
  66. Т., Oquino N. „A Focused Beam Type Laser Interferometric Dilatome-ter“ // Jap. J. Appl. Phys., 1975, 14, Suppl. 14−1, p. 397−401.
  67. W.R., Pagnin R.A. „A helium-neon laser for thermal expansion measurements“ // Image Technol., 1971, v. 13, N 6, p. 19−22.
  68. W.D. „Development of a Laser Interferometric Dilatometer“ // Thermal Expansion 7, Plenum Press, N.Y., 1974, p. 55−65.
  69. E.A., Guensther A.H. „An automated optical dilatometer for in-homogeneously expanding material“ // Thermal Expansion 1973“, AJP. Conference Proceedings N.Y., 1974, N 17, p. 167−176.
  70. T.C., Дей C.M., Кинг В, Педерсон Д. О. „Высокотемпературный лазерный интерферометр для измерения теплового расширения и температурной зависимости оптической длины“ // „Приборы для научных исследований“, 1984, № 2, с.3−7.
  71. J.D., Finnie J. „Method for Measuring Small Thermal Expansion with Single Frequency He-Ne Laser“ //Rev. Scient. Instr., 1968, vol. 39, N 5, p. 654−657.
  72. Jacobs S.F., Berthold III J.V., Osmundsen J. „Ultraprecise measurement of Thermal Expansion Coefficients -recent progress“ // „Thermal Expansion — 1971“, AJP. Conference Proceedings N.Y., 1972, N 3, p. 1−12.
  73. J.D. James, J.A. Spittle, S.G. R. Brown, R.W. Evans „A review of measurement for the thermal expansion coefficient of metals and alloys at elevated temperatures“ // Meas. Sci. Technol., 2001, N 12, R5-R15.
  74. М.Г., Широков К. П. „Международная система единиц СИ“ // М., Изд. стандартов, 1968, -64 с.
  75. ГОСТ 8.057−80 „Эталоны единиц физических величин“ В кн. „Основополагающие стандарты в области метрологического обеспечения“ // М., Изд. стандартов, 1983, с. 108 112.
  76. Т.А. „Разработка и создание средств метрологического обеспечения прецизионных дилатометров для исследования материалов с близкими к нулю ТКЛР“ // Диссертация на соискание ученой степени к.т.н., 1985,-220 с.
  77. Т.А. „Особенности измерения и регулирования температуры в высокоточных интерференционных дилатометрах“ // „Измерительная техника“, 1980, № 1, с. 44 45.
  78. Т.А. Компан „Метод расчета погрешности, вызванной неравенством температур образца и термометра при измерениях на интерференционных дилатометрах“ // „Измерительная техника“, 1986, № 9, с.40−42.
  79. Н.А. „Теоретические основы измерения нестационарных температур“ // „Энергия“, Ленинградское отделение, 1967 г., 299 с.
  80. Н.А., Андреева Л. Б. „Тепловой расчет термостатов“ // Л., Энер-гоатомиздат, 1984, -172 с.
  81. В.П. Исаченко, В. А. Осипова, А. С. Сукомел „Теплопередача“ // М., Энер-гоиздат, 1981, — 416 с.
  82. М.А., Михеева И. М. „Основы теплопередачи“ // М.: „Энергия“, 1973 г.,-319 с.
  83. Справочник по теплообменникам: В 2-х т./пер. с англ. под ред. О.Г. Мар-тыненко и др. М.: Энергоатомиздат, 1987.
  84. П.Л., Юрьев Ю. С., Бобков В. П. Справочник по теплогидравли-ческим расчетам. М.: Энергоатомиздат, 1984 г.
  85. А.Д. и др. Справочник по точным решениям уравнений тепло- и массопереноса. М.: Факториал, 1998.
  86. В.Н., Цибулин В. Г. Введение в Maple. Математический пакет для всех. М.: Мир, 1997.
  87. Манзон Б.М. Maple V Power Edition. М.: „Филинъ“, 1998.
  88. В.П. Математическая система Maple V R3/R4/R5. М.: „СОЛОН“, 1998.
  89. МИ 2230−92 Рекомендация. ГСИ. „Методика количественного обоснования поверочных схем при их разработке“ // С.-Петербург, НПО „ВНИИМ им. Д.И. Менделеева“, 1992, -25 с.
  90. ГОСТ 8.061−80 ГСИ. „Поверочные схемы“ // М., Изд. Стандартов, 1981 г.
  91. А.Н., Компан Т. А., Коренев А. С., Малютина Т. И., Шевченко Е. Б. „Государственный первичный эталон единицы TKJIP твердых тел“ // „Метрологическая служба в СССР“, 1983 г., № 1, с. 19−21.
  92. А.Н., Компан Т. А., Малютина Т. И., Шевченко Е. Б. „Новый государственный эталон и государственная поверочная схема для средств измерения TKJIP твердых тел в диапазоне температур 90−1800 К“ // „Измерительная техника“, 1986 г., № 9, с. 31 32.
  93. Т.А. „Государственный первичный эталон единицы TKJIP твердых тел“ В кн. „Российская Метрологическая Энциклопедия“ // С.-Пб., изд-во „Лики России“, 2001 г., с.461−463.
  94. М.Ф. „Интерференция света и ее применение“ // М.-Л., Объединенное научно-техническое издательство, 1937, -95 с.
  95. А.Н., Компан Т. А., Коренев А. С., Шевченко Е. Б. „Автоматизированный эталонный дилатометр ДИС-7“ // Материалы III Всесоюзного совещания по низкотемпературным и теплофизическим измерениям и их метрологическому обеспечению“ // М., 1982 г. с. 53 54.
  96. П.Г. „О дилатометрии твердого тела и некоторых ее применениях“ //ЖНХ, 1956, т.1, вып. 6, с. 1350−1357.
  97. А.Н., Шевченко Е. Б. „Установка для исследования теплового расширения твердых тел при низких температурах“ В кн.: Исследования в области линейных измерений» // Труды ВНИИМ, М.-Л.: Изд. стандартов, 1968, вып. 101 (161), с. 146−152.
  98. Т., Altman H.W., Johnston H.L. «Coefficients of Thermal Expansion of Solids at Low Temperatures» // J. Am. Ceram. Soc., 1954, vol. 76, N. 5, p. 5289−5293.
  99. Т. А., Коренев A.C., Лукин, А .Я. «Автоматизированная система высокого разрешения для обработки изображений при интерференционных дилатометрических измерениях» // Труды 2-ой международной конференции «Физмет-98», С.-Пб., 1998, стр. 38.
  100. Т.А., Коренев А. С., Лукин А. Я. «Автоматизированная система дилатометрических измерений с многопараметрической обработкой интерференционной картины» // «Измерительная техника», 2001, № 6, стр. 31−35.
  101. Д.А., Барат В. А. «Применение вейвлет-преобразования для анализа сигналов с импульсными составляющими» // «Измерительная техника», 2001, № 1, с. 41 43.
  102. ИЗ. Дремин И. М. «Дальние корреляции частиц и вейвлеты» // «Успехи физических наук», 2000 г., том 170, № 11, стр. 1235−1244.
  103. JI.P., Чеховской В. Я. «Термическое расширение молибдена в диапазоне температур О К Тпл» // «Теплофизика высоких температур», 1991, том 29, № 1, стр. 94 -100.
  104. А.Н., Романов В. Н., Малютина Т. И. «Сравнение моделей, применяемых для описания дилатометрического эксперимента»// «ТВТ», 1978, т. 16, № 5, с. 1041−1045.
  105. П.Э. «Определение движения по результатам измерений» // М., изд-во «Наука», 1976.
  106. Ф.П. «Численные методы решения экстремальных задач» // М., «Наука», 1976, -518 с.
  107. А.Н., Романов В. Н. Малютина Т.И. «Обработка результатов дилатометрических измерений» // «Измерительная техника», 1980, № 1, с. 39−42.
  108. П.В., Зограф И. А. «Оценка погрешности результатов измерений» // Л., Энергоатомиздат, 1991,-301 с.
  109. Н.В. Смирнов, И.В. Дунин-Барковский «Курс теории вероятности и математической статистики» //М., изд-во «Наука», 1969 г.
  110. Дж.Форсайт, М. Малькольм, К.Моулер. «Машинные методы математических вычислений» // М., Изд. «Мир», 1980.
  111. ГОСТ 8.381−80. «ГСИ. Эталоны. Способы выражения погрешностей» // М.: Изд. Стандартов, 1981, -9 с.
  112. Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement: First edition.-ISO // Switzerland, 1993
  113. Mutual recognition of national measurement standards and of calibration and measurement certificates issued by national metrology institutes. // Paris, 14 Oktober 1999, CIPM.
  114. В.А. «Подходы к применению „Руководства по выражению неопределенности измерения“ в России» // «Измерительная техника», 2000, № 5, с. 35−38.
  115. МИ 2552−99. Рекомендация. ГСИ. Применение «Руководства по выражению неопределенности измерения» // СПб.: ГП «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева», 1999.
  116. Н. «The Dispersion of Air Between 2500 A and 6506 A» // J. Opt. Soc. Amer., 1951, vol. 41, N 5, p. 295−299.
  117. K.P., Downs MJ. «An Updated Edlen Equation for the Refractive Index of Air» // Metrologia, 1993, N 30, p. 155−162.
  118. Методы обработки результатов наблюдений при измерениях (под ред. Широкова К.П.) // Труды метрологических институтов СССР, М. JL, Изд. стандартов, 1972, вып. 134 (194), -118 с.
  119. ГОСТ 8.207−76. «Прямые измерения с многократными наблюдениями. Методы обработки результатов наблюдений.» // М.: Изд. стандартов, 1979,-10 с.
  120. В.И., Кочан В. А. «Перегрев платиновых термометров сопротивления измерительным током» // «Теплофизика высоких температур», 1965. № 4, с. 661−664.
  121. А.Н. «Точность контактных методов измерения температуры» // М.: Изд. стандартов, 1976, -220 с.
  122. И.И. «Некоторые законы термоэлектрической неоднородности» // Труды метрологич. институтов СССР, Изд. стандартов, 1975, вып. 171(231), с. 11−15.
  123. А.Н. «Основы пирометрии» // М., Изд. «Металлургия», 1971.
  124. Д.Ф. «Расчет погрешности термопары от термоэлектрической неоднородности ее электродов» // Труды метрологических институтов СССР, М. Л., Изд. стандартов, 1969, 105 (165), с. 107 — 114.
  125. Е.Ф. «Обработка результатов» // М.: Изд. стандартов, 1973, -130с.
  126. Jacobs S.F., Norton М.А., Berthold III J.W. «Dimensional stability of fused silica and several ultralow expansion materials» //"Thermal Expansion -1973″, AJP, Conference Proceedings N 17, N.Y., 1974, p. 280−296.
  127. В.А., Чеховской В. Я., Богдасаров Х. С. «Монокристаллическая окись алюминия образцовое вещество в дилатометрии» // «Теплофизика высоких температур», 1973, № 5, стр. 1083 — 1087.
  128. В.А., Чеховской В. Я. «Таблицы стандартных справочных данных. Молибден, монокристаллическая окись алюминия, сталь 12Х18Н10Т. Температурный коэффициент линейного расширения. ГССД № 50−83.» // М: Изд. стандартов, 1984, -9 с.
  129. G.K., Roberts R.B. «Thermal Expansion of A1203» // 8th European Thermophysical Properties Conf. High Temp.- High Press., 1983, N 15, p.321.
  130. Touloukian Y.S. a.o. In: Thermophysical Properties of Matter. // TPRC Data Series, Plenum Press, 1977, v. 12, 13.
  131. R.B. «Thermal Expansion of Silicon at Low Temperatures» // In: Thermal Expansion 6th, Plenum Press, N.Y., 1978, p. 164−168.
  132. R.B. «Precise Measurement of Silicon Single Crystal Thermal Expansion»//-J. Appl. Phys., 1981, v. 14, N 12, p. 1386−1388.
  133. МИ 28−36−2003 «Методика поверки образцовых мер ТКЛР 2-го разряда» // «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева», 2003 г.
  134. А.Н., Компан Т. А., Шевченко Е. Б. «Средства метрологического обеспечения высокоточных дилатометров для исследования материалов с близкими к нулю ТКЛР» // «Измерительная техника», 1984, № 3, с. 36- 37.
  135. Т.А. «Разработка образцовых мер ТКЛР 2-го разряда» // Сб. реф. НИР и ОКР, 1989, № 8, сер. 23, с. 36.
  136. А.Н., Компан Т. А., Латышева Е. И., Павлова Г. А. «Долговременная стабильность концевых мер ТКЛР из кварцевых стекол различных марок» // Измерительная техника, 1990, № 4, с. 38−39.
  137. A.N., Kompan Т. A., Maljutina T.I. «Studdies of reference materials over the temperature range 90−1500 К» // XIIIMEKO World Congress Measurement and progress, Beijing China, 1991, p. 110−111.
  138. Т.А., Родина Н. А. «Таблицы стандартных справочных данных. Материалы для образцовых мер ТКЛР. Молибден, алюминий. Температурный коэффициент линейного расширения. ГСССД № 181−97″ // М., Изд. стандартов, 1998 г.
  139. Т.А., Коренев А. С., Родина Н. А. „Таблицы стандартных справочных данных. Материалы для образцовых мер ТКЛР. Силицированный карбид кремния. ГСССД № 194−2001″ // М., Изд. стандартов, 2001 г.
  140. Т.А., Коренев А. С., Лукин А. Я., Антонов П. И., Крымов В. М., Москалев А. В. „Эталонные меры теплового расширения из монокристаллического оксида алюминия для широкого диапазона температур“ // „Измерительная техника“, 1999 г., № 8, стр. 3 8−42.
  141. О., Sharov A., Galyavov I., Kompan Т., Swiegers J., Swat A. „Demonstrating the suitability of Sitall for SALT primary mirror“ // Proceedings of SPIE"Large Ground-based Telescopes“, Waikoloa, Hawaii, USA, 2002, v.4837, part 1, p. 795−804.
  142. Т.А., Шаров А. А. „Модернизация рабочего дилатометра для обеспечения высокоточного контроля однородности материалов по ТКЛР“ // Труды 3-ей Международной конференции „ФИЗМЕТ-2002″, г. С.-Петербург, 2002 г.
  143. П.И., Затуловский Л. М., Костыгов А. С. и др. „Получение профилированных монокристаллов и изделий способом Степанова“ // Л.:1. Наука“ 1981, -280 с.
  144. Т.А. „Многофункциональная мера ТКЛР из кристаллического кварца“ //"Измерительная техника», 1989 г., № 6, с. 28−29.
  145. Т.А., Самсонов В.М «Тепловое расширение монокристаллического вольфрамата натрия-висмута» // «Неорганические материалы» (Известия РАН), 1995 г., № 4, с. 4−6.
  146. V.M. «Heavy scintillators for Scientific and Industrial Applications» // Proceedings of the «CRISTAL 2000″ International Workshop. Chamonix, 1993.
  147. . T. „LTEC Control of samples from composite silicon carbide“ // 6th IMEKO SYMPOSIUM „Metrology for Quality Control in Production“, Vienna, Austria, 1998, p. 351−352.
  148. A.H., Компан Т. А., Федотов Д. А. „Исследование теплового расширения силицированного карбида кремния“ В кн.: Тезисы докл. 2-ой Московской международной конференции по композитам. // М., 1994, с. 232−233.
  149. А.Н., Компан Т. А., Коренев А. С., Малютина Т. И., Ильин Г. Л. „Автоматические интерференционные дилатометры для диапазона температур 90 -1500 К“ // Электронная техника, 1991, серия 8, вып. 5 (147), с.16−18.
  150. А.Н., Компан Т. А., Шевченко Е.Б."Установка для исследования теплового расширения малорасширяющихся материалов» // «Измерительная техника», 1980, № 1, с. 48−50.
  151. Патент РФ № 2 089 890 «Интерференционный дилатометр для измерений ТКЛР малорасширяющихся твердых материалов» // Аматуни А. Н., Компан Т. А., Шувалов В. И., Тагабилев Г. Х., Мочалов В. В. (Опубл. 16 февраля 1993 г.)
  152. Kompan Т.A., Korenev A.S."Precision interferometric dilatometer for measuring of thermal expansion of non-homogeneous materials.'7/XIV IMEKO CONGRESS, 1997,1−6 Juni, Tampere, Finland, vol. VI, p.194−197
  153. Т.А. «Тепловое расширение твердых тел. Обеспечение единства измерений, исследования, разработки» // «Главный метролог», 2003, № 5, с. 26−31.
  154. И.М., Жуковец Ж. Г. и др. «Исследование свойств ситаллов системы ЫгО-А^Оз-РгОб-ЗЮг» // Оптико-механическая промышленность, 1980, № 9, с.26−28.
  155. Т.А., Коренев А. С. Абсолютный метод измерения ТКЛР низкоразмерных компонентов композиционных материалов В книге «Физическая метрология. Теоретические и прикладные аспекты» // г. С.-Пб, Изд-во КН, 1996, с 315−317.
  156. W. L. «Measurement of Thermal Expansion by X-ray Diffraction» // Proc. Cambridge Phil. Soc. 1913, v. 17, N 1, p. 43.
  157. Ч. «Введение в физику твердого тела»// М.: Изд. «Советская энциклопедия», 1984, -944 с.
  158. R.O., Baluffi B.W. «X-ray Stady of Deuteron Irradiated Cooper neer 10 K»//Phys. Rev., 1958, vol.109,N4,p. 1142−1152.
  159. O.G., Batchelder D.N., Simmons R.O. «X-ray Diffraction Study of Argon Crystal Growth» // J. of Appl. Phys., 1965, vol. 36, N 9, p. 2682−2685.
  160. Г. М., Шафрановский И. И. «Кристаллография» 4 изд. // М., Госгеолиздат., 1964, 242с.
  161. Д., Смит Д. К. «Высокотемпературная камера Дебая Шере-ра» // «Приборы для научных исследований», 1968, т.39, № 10, с. 88−91.
  162. А.У., Новиков В. П. «Высокотемпературная рентгеновская камера» // «Заводская лаборатория», 1982, № 9, с. 68−69.
  163. Venudhar J.C., Prasad T.R., Igengar L., Krishna Rao K.V. «X-ray studies on the precision of Pd-Ag-Au equiatomic percent alloy"// J. Less. Common. Metals., 1979, vol. 66, N 2, p. PI 1-P15.
  164. .М. «Применение фоторегистрации движущихся интерференционных полос для измерения термооптических постоянных стекол и кристаллов» // «Оптико-механическая промышленность», 1980, № 3, с. 21−27.
  165. Nix F.C., McNair D. «An Interferometric Dilatometer with Photographic Recording» // Rev. Scient. Instr., 1941, vol. 12, N 2, p. 66−70.
  166. J.B. «An apparatus for photographing interference phenomena» // J. Res. Nat. Bur. Stand., 1945, vol. 35, N 3, p. 157−186.
  167. В.Д., Прицкер В. И. «Интерполятор синус-косинусного сигнала высокой разрешающей способности» // «Измерительная техника», 1980, № 1, с. 42−43.
  168. G. «Das Laser Dilatometer — ein neur Weg in der Dilatometrie» // GJt. Fachzeitschrift fur das Laboratorium, 1976, 20. Jg., Mai, s. 441−442.
  169. С.С. «Автоматическое измерение линейных приращений в интерференционных дилатометрах» // В кн.: Труды Ленинградского политехнического института, 1982, № 381, с. 99−102.
  170. Гуров И. П «Автоматизация измерений температурного удлинения образцов в высокоточных интерференционных дилатометрах методами машинной обработки изображений» // Метрология, 1982, № 5, с. 3−8.
  171. И., Брульхарт М., Хильдер Х. Р., Цшокке-Гренахер И. «Многоканальная оптическая система детектирования для интерферометра Фабри-Перо» // Приборы для научных исследований, 1984, № 2, с. 7−13.
  172. A.D. «Use of Cer-Vit Material in Low Expansion Reference Optical Cavities» // J. Appl. Opt., 1967, vol. 6, N 6, p. 1138−1139.
  173. Р.Ф., Сурис P.А. «Гетеродинные приемники оптического и инфракрасного диапазона» //В кн.: «Материалы V зимней школы по физике полупроводников», Л.: Изд. ЛИЯФ, 1973, с. 345−359.
  174. Е.Р., Парыгин В. Н. «Методы модуляции и сканирования света» // М.: «Наука», 1970, -295 с.
  175. В.П. «Измерение коэффициентов температурного расширения материалов с помощью лазерного интерферометрического дилатометра» // Квантовая электроника, 1974, т.1., № 10, с. 2131−2137.
  176. А.С. 379 862 (СССР). Прецизионный лазерный дилатометр // Егоров В. П., Черненький В. И. Опубл. в Б.И., 1973, № 20.
  177. В.А., Жидовинов A.M. «Лазерная дилатометрическая установка для измерения ТКЛР малорасширяющихся материалов от — 60 до 100 °С» // Электронная техника, 1981, серия 8, вып. З (89), с. 38−40.
  178. В.А., Чеховской В. Я., Багдасаров Х. С. «Монокристаллическая окись алюминия образцовое вещество в дилатометрии» // Теплофизика высоких температур, 1973, т.11, № 5, с. 1083 — 1087.
  179. П.Г., Лифанов И. И., Шерстюков Н. Г. «Усредненные кривые температурных коэффициентов удлинения монокристаллических кварцев и корундов» // Измерительная техника, 1966, № 9, с. 9 13.
  180. Y.B., Scuderi T.G., Cleek G.W. «Thermal Expansion of A1203 Crystals and Ceramics»// J. Amer. Ceram. Soc., 1962, v.45, N 7, p. 319.
  181. A.N., Malyutina T.I., Chekhovskoi V.Ya., Petukhov V.A. «Standard samples for dilatometry» // High Temperatures High Pressures, 1976, vol. 8, p. 565 — 570.
  182. J.B. «Dimensional Stability of Pd, Pt and Rh» // Physica, 1932, vol. 3, p. 240.
  183. J. «Physical Properties of Platinum» //- In: U.S. Bureau of Mines. Inform. Circular, 1962, N 8107, p. 10 15.
  184. Holborn L., Day A. «Die termische Ausdehnung Platines» // Annalen der Physik, 1901, Br. 4, S. 104.
  185. T.A., Kirby R.K. «Thermal Expansion of platinum» // In: 3rd AIP Symp., Proc. № 4, N.-Y., 1969, p. 87−95.
  186. Thermophysical Properties of Materials // American Institute of Physics, Handbook, 3rd ed. N.-Y., 1969 -(Section 4−65)
  187. Edwards J.W., Speiser R., Johnston H.L. J. Appl. Phys., 1951, v. 22, p. 4Ж
  188. Я.А. «Образование вакансий и тепловое расширение платины" — ФТТ, 1967, т. 9, вып. 5, с. 1528.
  189. А.Н., Е.Б. Шевченко «Результаты исследования температурного коэффициента удлинения плавленого кварца и стекла сорта 23» // Труды институтов Госкомитета, 1965, вып.78 (138), с. 90−98.
  190. А.Н., Шевченко Е. Б., Малютина Т. И. «Термическое расширение кварцевого стекла» // Труды метрологических институтов СССР, 1972, вып. 131 (191), с. 116.
  191. J.A., Blaisdell В.Е. -Proc. Amer. Acad. Arts Sci., 1941, v. 74, N 11, p. 381−389.
  192. Bruckner R. Glastechn. Ber., 1964, Bd37, S, 413,459, 500.
  193. A.M. «Изменение показателя преломления плавленого кварца с изменением температуры» // «Оптико-механическая промышленность», 1962, № 2, с. 41−43.
  194. F.P., Swenson С.A. «Thermal Expansion of copper» //J. of Appl. Phys., 1977, v. 48, N 3, p. 853 865.
  195. И.И., Шерстюков Н. Г. «Тепловое расширение меди в интервале — 185 ч- 300 °С» // «Измерительная техника», 1968, № 12, с. 39 44.
  196. White G. K, Roberts R.B. «Problems in presenting key values: linear expansivity of copper» // High Temperatures High Pressures, 1980, v. 12, p. 311 — 316.
  197. A.H., Шевченко Е. Б. «Тепловое расширение меди при низких температурах» // Труды метрологических институтов СССР, 1974, вып. 155 (215), с. 87−93.
  198. А.Р., Cezairliyan A. «Thermal Expansion of Molybdenum at High Temperatures» // Jnt. J. Thermophys., 1985, v. 6, p. 695.
  199. R.M., Gnievek J.J. «Thermal expansion of technical solids at low temperatures» // Wash.: NBS (US), Monogr. 29,1961.
  200. A., Brooks C.R. «Thermal Expansion of molybdenum» // Jnt. J. Thermophys., 1984, v. 5, p. 403.
  201. A.E. «Thermophysical properties of molybdenum» // Jnt. J. Thermophys., 1985, v.6, p.367.
  202. JI.P., Чеховской В. Я., Бергман Г. А. «Таблицы стандартных справочных данных. Молибден. Калорические свойства твердой фазы от 30 К до температуры плавления при атмосферном давлении. ГССД № 105−87». // М., Изд. стандартов, 1988 г.
  203. В.П., Мамалуй А. А. и др. «Тепловое расширение ниобия, молибдена и их сплава при низких температурах» // Украинский физический журнал, 1969, т.14, № 5, с.746−750.
  204. В. Э., Чеховской В. Я., Латыев Л. Н. и др. «Теплофизические свойства молибдена и его сплавов.» Справочник // М.: Металлургия, 1990.
  205. G.K., Smith T.F., Carr R.H. «Thermal Expansion of Cr, Mo and W at Low Temperatures» // Gryogenics, 1978, v. 18, N 5, p. 301 303.
  206. C.B., Петухов В. А., Чеховской В. Я. «Высокотемпературный фотоэлектрический дилатометр» // «Измерительная техника», 1986, № 10, с.33−35.
  207. Hidnert Р. J. Res. NBS, 1943, v. 30, N 2, p. 101−104.
  208. С.A. «Measurements Thermal Expansivity of aluminum at Low Temperatures» //J. Phys. Chem. Ref., 1983, Data 12, p. 179.
  209. Каталог технических ситаллов // M.: Стройиздат, 1969, 387с.
  210. Berthold III J.W., Jacobs S.F. «Ultraprecise thermal expansion seven low expansion materials» // J. Appl. Opt., 1976, v. 15, N 10, p. 2344 2347.
  211. Г. А. «Свойства и структура стекол системы Si02 ТЮ2» Физика и химия стекла, 1982, т. 8, № 4, с. 395 — 405.
  212. J., Kagawa Н. «On Unusually low Thermal Expansion Found in the Irreversible Fe-Ni Alloys» // J. Of Phys. Soc. of Japan., 1970, v.28, N 6, p. 14 451 451.
  213. M., Kobayashi U. «Mossbauer Spectra in Fe-ni Invar Allous» // J. Phys. Soc. of Japan., 1984, v. 56, N 6, p. 2111−2119.
  214. H.M. «Основы технологии ситаллов», 2-ое изд. // М.: Стройиздат, 1979, -359 с.
  215. А.И. «Ситаллы и фотоситаллы» // М.: Машстрой, 1966, -348 с. Роусон Г. «Неорганические стеклообразующие ситаллы» // М.: Мир, 1970, -312 с.
  216. И.М., Жуковец Ж. Г. и др. «Исследование свойств ситаллов системы Li20-Al203-P205-Si02» // «Оптико-механическая промышленность», 1980, 3 9, с.26−28.
  217. W. «Entwicklung einer Eukryptit-glaskeramik groser mechanischer und thermischer Festigkeit in Abhangigkeit von der Entglasungzeit und entglasung-stemperatur.» // Glasstechn. Ber., 1963, Band 36, N 11, s. 444−453.
  218. D.A., Chese G.A. «Glass-ceramics for High Precision Reflective Optic Applications» // Appl.opt., 1968, v.7, N 5, p. 813−817.
  219. Berthold III J.W., Jacobs S.F., Norton M.A. «Dimensional Stability of Fused Silica, Invar, and Several Ultralow Thermal Expansion Matherials» // «Metrologia», 1977, vol. 13, N 1, p. 9−16.
  220. А.А., Кондратьев Ю. Н. и др. «Вязкость и кристаллизация си-таллообразующих стекол с добавками окислов фосфора и титана» // «Оптико-механическая промышленность», 1982, № 6, с. 33−36.
  221. Прецизионные сплавы с особыми свойствами теплового расширения и упругости // М.: Изд. Стандартов, 1972, -152 с. 239. «Прецизионные сплавы» Справочник под ред. Б. В. Молотилова, 2-е изд. // М.: Металлургия, 1983, -439 с.
  222. В.Н., Короткова Т. Г. и др. «Отечественные и зарубежные прецизионные сплавы с заданным ТКЛР» // М.: изд. «Черметинформация», 1982, -74 с.
  223. Г. А. «Свойства и структура стекол системы Si02 ТЮ2» // «Физика и химия стекла», 1982, т.8, № 4, с. 395 —405.
  224. П. «Исследование свойств бинарных силикатных стекол, содержащих 10−20 вес.% ТЮ2» // «Физика и химия стекла», 1975, т.1, № 6, с. 551−558.
  225. Г. А., Аматуни А. Н. «Физико-химические свойства стекол с низким коэффициентом теплового расширения в системе Si02 ТЮ2» // Известия АН СССР. Неорганические материалы, 1975, Т.П. № 9, с. 16 861 689.
  226. Ю.С., и др. «Скорость и поглощение ультразвука в легированных кварцевых стеклах» // «Физика и химия стекла», 1979, т.5, № 3, с. 320−323.
  227. .М., Жукова Л. А., Агре И. М. и др. «Исследования Si02, легированного двуокисью титана» // Известия АН СССР. «Неорганические материалы», 1977, т.13, № 4, с.668−670.
Заполнить форму текущей работой