Дипломы, курсовые, рефераты, контрольные...
Срочная помощь в учёбе

Сканирующая силовая спектроскопия наноструктурированных полимерных и биологических систем

Диссертация: Сканирующая силовая спектроскопия наноструктурированных полимерных и биологических систем
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Диссертационной работы обусловлена необходимостью разработки новых методов для исследования поверхностного распределения топографических механических и адгезивных характеристик полимерных и биологических систем в нанометровом диапазоне при помощи комбинации АСМ и ССС. Выбор объектов исследования (наноструктурированных блок сополимеров, многослойных самоорганизующихся пленок на основе амфифильных… Читать ещё >

Содержание

  • Глава 1.
  • Фундаментальные принципы атомно-силовой микроскопии (обзор литературы)
    • 1. 1. Устройство и принцип работы АСМ постоянного контакта
    • 1. 2. Взаимодействие зонда АСМ и поверхности образца
      • 1. 2. 1. Силы Ван-дер-Ваальса
      • 1. 2. 2. Капиллярные силы
      • 1. 2. 3. Гидрофобный эффект
      • 1. 2. 4. Минимизация силы взаимодействия зонда и поверхности
    • 1. 3. АСМ прерывистого контакта
    • 1. 4. АСМ модуляции силы
    • 1. 5. АСМ в жидкой среде
    • 1. 6. Применение АСМ для исследования биологических объектов
    • 1. 7. Режим снятия силовых кривых и метод ССС
    • 1. 8. Применение АСМ и ССС для исследования полимерных систем
  • Глава II.
  • Определение механических характеристик поверхности при помощи АСМ и ССС (теоретическая часть)
    • 2. 1. Силовые кривые АСМ
    • 2. 2. Теория контактных деформаций
      • 2. 2. 1. Теория Герца
      • 2. 2. 2. Теория Джонсона-Кендалла-Робертса (ДКР)
      • 2. 2. 3. Теория Дерягина Муллера Топорова (ДМТ). щ 2.2.4 Теория Магиса-Дагдейла (МД)
      • 2. 2. 5. Трудности связанные с применением теории контактных деформаций для интерпретации данных АСМ и ССС
      • 2. 2. 6. Силовое картирование поверхности
    • 2. 3. Программное обеспечение NanoScale Explorer
      • 2. 3. 1. Анализ силовых кривых в программе NanoScale Explorer
      • 2. 3. 2. Определение усредненного калибровочного коэффициента
  • Глава III.
  • Исследование поверхностных свойств нанострукгурированных * полимерных систем при помощи методов АСМ и ССС
    • 3. 1. АСМ блоксополимеров
      • 3. 1. 1. Материалы и оборудование
      • 3. 1. 2. Результаты АСМ исследования пленок СБС блоксополимера. 71 3.1.3 Силовое картирование СБС блоксополимера
    • 3. 2. АСМ самоорганизующихся многослойных пленок на основе амфифильных полиэлектролитов
      • 3. 2. 1. Материалы и оборудование
      • 3. 2. 2. Формирование многослойных полимерных пленок
      • 3. 2. 3. Силовое картирование многослойных пленок полиэлектролитов
  • Глава IV.
  • Атомно-силовая микроскопия вирусов
    • 4. 1. АСМ вирусов на неспецифических подложках
      • 4. 1. 1. Материалы и оборудование
      • 4. 1. 2. Нанесение вирусных частиц на поверхность подложки
      • 4. 1. 3. Результаты АСМ исследования вирусов
    • 4. 2. АСМ вирусов на подложках обладающих иммунологической специфичностью
      • 4. 2. 1. Материалы и методы
      • 4. 2. 2. Результаты АСМ исследования вирусов
    • 4. 3. Исследование микромеханики вирусов при помощи метода ССС

Сканирующая силовая спектроскопия наноструктурированных полимерных и биологических систем (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Стремительное развитие биотехнологий обуславливает необходимость создания инструментов и методов для изучения характеристик биологических и полимерных систем в нанометровом диапазоне. Атомно-силовая микроскопия (АСМ) является одним из основных инструментов для исследования поверхности различных систем с разрешением порядка нескольких нанометров. С момента своего появления в 1986 году [1] АСМ прочно заняла свое место среди других высокочувствительных методов анализа поверхности. Благодаря своей универсальности и возможности работы с широчайшим спектром различных поверхностей, атомно-силовой микроскоп является на сегодняшний день одним из самых распространенных представителей семейства сканирующих зондовых микроскопов, которых объединяет наличие микроскопического зонда, осуществляющего сканирование выбранного участка поверхности. Метод АСМ возник как продолжение метода сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), который появился в 1981 году[2,3], при этом в случае АСМ взаимодействие между зондом и образцом носит силовой характер. На основе атомно-силового и туннельного микроскопов лишь за двадцать лет существования возникли многочисленные методы исследования поверхности различных объектов и их локальных физических свойств, например, такие как магнитно-силовой микроскоп, оптический ближнепольный микроскоп [4−6]. Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) объединяет все эти методы и постоянно пополняется новыми, что говорит о широких возможностях и перспективности метода СЗМ. Конструкция современных АСМ такова, что один прибор позволяет реализовать несколько методов СЗМ, такие приборы получили название многомодовых АСМ. АСМ позволяет достигать разрешения порядка нескольких нанометров в плоскости образца и разрешение порядка 0.1 нм по нормали к поверхности образца, а различные режимы работы прибора дают возможность строить топографические карты поверхности, оценивать распределение сил трения между зондом и образцом, исследовать вязко-упругие характеристики поверхности, и строить тем самым многомерный образ анализируемых объектов, отражающий не только их топографию, но и в ряде случаев особенности внутренней организации.

Следует отметить, что задачу неразрушающего воздействия во время АСМ — эксперимента, а также иммобилизации изучаемого объекта на поверхности твердой подложке, предстоит решать исследователю для каждого выбранного объекта заново, так как, зачастую, ранее разработанные методики изучения не всегда успешно подходят для нового объекта. Методическая часть экспериментальной работы: выбор подложки, режимов и условий сканирования, занимает большую часть времени и не менее важна, чем полученные в результате успешно проведенного эксперимента данные.

Топографическая информация, полученная при помощи АСМ, может быть дополнена информацией о локальных поверхностных свойствах объекта за счет применения метода сканирующей силовой спектроскопии (ССС) [7]. Этот метод является естественным продолжением метода АСМ и основан на возможности измерения отклика поверхности образца в ответ на приложенную силу давления со стороны зонда микроскопа. Учитывая, что величина этой силы составляет всего несколько наноньютонов (нН), метод ССС позволяет исследовать локальные микрои наномеханические свойства поверхности, а возможность построения карты поверхностного распределения этих свойств параллельно с получением информации о топографии существенно расширяет набор характеристик описывающих исследуемый объект. Такая информация особенно интересна при анализе образцов с пониженной механической жесткостью поверхности, т. е. биологических и полимерных систем.

Актуальность темы

диссертационной работы обусловлена необходимостью разработки новых методов для исследования поверхностного распределения топографических механических и адгезивных характеристик полимерных и биологических систем в нанометровом диапазоне при помощи комбинации АСМ и ССС. Выбор объектов исследования (наноструктурированных блок сополимеров, многослойных самоорганизующихся пленок на основе амфифильных полиэлектролитов, сформированных по технологии «слой-за-слоем» (СЗС) и вирусных частиц) объясняется растущим интересом к разработке новых функциональных материалов, на основе СЗС технологий для биомедицинских приложений, а также необходимостью развития новых диагностических подходов для обнаружения опасных для человека болезнетворных агентов.

Цели диссертационной работы:

— Исследование методами АСМ и ССС поверхностного распределения механических и топографических свойств наноструктурированных полимерных систем и изучение полимерных пленок сформированных по технологии «слой-за-слоем».

— Получение новой информации о морфологических и структурных свойствах отдельных вирусных частиц на основе данных АСМ и ССС.

— Исследование возможности применения АСМ и ССС на начальных этапах анализа образцов на предмет обнаружения опасных вирусов.

— Разработка новых подходов для исследования локальных механических характеристик поверхности методами АСМ и ССС.

Для достижения поставленных целей был проведен ряд экспериментальных исследований, представленных в диссертационной работе, а также было разработано многофункциональное программное обеспечение, позволяющее в значительной степени повысить эффективность анализа и упростить интерпретацию экспериментальных данных.

Структура работы.

Работа состоит из четырех глав и заключения.

В первой главе описаны основные принципы атомно-силовой микроскопии и дан обзор основных режимов работы многомодовых АСМ. Также в первой главе приведены литературные данные по применению АСМ для исследования полимерных и биологических систем.

Во второй главе описаны принципы ССС и приведены основные теоретические модели, которые используются для вычисления локальных механических характеристик поверхности на основе данных АСМ. Кроме того, описан оригинальный подход к исследованию поверхностного распределения механических характеристик, основанный на вычислении работы затрачиваемой на деформацию поверхности образца и представлены основные функции разработанного программного обеспечения NanoScale Explorer.

В третьей главе приведены результаты исследования поверхностных свойств наноструктурированных полимерных систем: блоксополимеров и многослойных пленок полиэлектролитов, сформированных по технологии «слой-за-слоем» при помощи методов АСМ и ССС.

Четвертая глава посвящена исследованию морфологических и механических характеристик модельных вирусов на различных типах подложек и изучению возможности применения АСМ и ССС для анализа водных проб на предмет обнаружения опасных вирусов.

Основные результаты диссертационной работы сформулированы в Заключении.

Научная новизна работы.

1. Впервые проведено силовое картирование наноструктурированного блоксополимера стирол-бутадиен-стирола и изучены его поверхностные наномеханические свойства.

2. Впервые исследовано распределение механических и адгезивных свойств многослойных СЗС конструкций в нанометровом диапазоне и изучена взаимосвязь механических свойств с топографическими особенностями поверхности для различных типов СЗС конструкций.

3. Впервые проведено АСМ исследование вирусов полиомиелита, ротавируса и аденовируса и определена микромеханика отдельных вирусных частиц при помощи метода ССС.

Практическая значимость работы.

1. Разработана методика силового картирования, позволяющая определять относительные локальные механические характеристики поверхности, исходя из величины работы, затрачиваемой на деформацию поверхности образца.

2. Создано оригинальное многофункциональное программное обеспечение для анализа данных СЗМ, позволяющее в частности проанализировать данные ССС, повысить эффективность и упростить интерпретацию полученных результатов.

3. Разработаны подходы к исследованию распределения поверхностных свойств для различных типов СЗС конструкций, а также для контроля качества формируемых покрытий.

4. Разработаны методики наблюдения модельных вирусов в АСМ и исследована возможность применения АСМ для анализа водных проб на предмет обнаружения опасных вирусов. За счет применения метода ССС расширен набор характеристик описывающих отдельную вирусную частицу.

Апробация работы.

Основные результаты диссертационной работы были доложены на семи международных конференциях: 5h ISTC Scientific Advisory Committee Seminar «NANOTECHNOLOGIES in the area of physics, chemistry and biotechnology (St. Petersburg, 2002), 5th International Congress «ECWATECH-2002 water: ecology and technology (Moscow, 2002), 1-st International Congress «BIOTECHNOLOGYstate of the art and prospects of development (Moscow, 2002), International Workshop on Micro Robots, Micro Machines and Micro Systems. International Advanced Robotics Program (Moscow, 2003), 1st FEMS Congress of European Microbiologists (Ljubljana, Slovenia, 2003), 12th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques (Eindhoven, The Netherlands, 2003), 7th INTERNATIONAL MOSCOW SCHOOL OF PHYSICS (Otradnoye, 2004).

Публикации.

Основные результаты диссертации отражены в 7 научных работах, из них: две статьи опубликованных в реферируемых журналах, 2 опубликованных доклада на международных конференциях, 1 статья в виде внутренней публикации ИТЭФ и 2 статьи приняты к печати.

Заключение

.

Атомно-силовая микроскопия является одним из наиболее перспективных методов исследования органических систем, позволяющим исследовать топографию поверхности с высоким разрешением. Применение метода сканирующей силовой спектроскопии расширяет набор характеристик описывающих ту или иную систему за счет информации о ее поверхностных механических и адгезивных свойствах. При этом, для практического внедрения такого комбинированного метода АСМ и с ССС необходимо наличие соответствующих подходов к анализу массивов силовых кривых и специализированного программного обеспечения. Анализ силовых кривых основанный на определении величины работы которая совершается при деформации поверхности и специально разработанное программное обеспечение NanoScale Explorer позволили применить комбинированный метод АСМ и ССС (который был протестирован при определении поверхностных свойств наноструктурированного блок-сополимера стирол-бутадиен-стирола) для исследования двух классов объектов: многослойных самоорганизующихся упорядоченных пленок на основе полиэлектролитов сформированных по технологии СЗС и вирусных частиц содержащихся в питьевой воде.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Binnig G., Quate C.F., Gerber С Atomic force microscopy // Phys. Rev. Lett. — «1986. -v.56.-8.- pp.930−933.
  2. Binnig G., Rohrer H. Scanning tunneling microscopy // Helv. Phys. Acta., — 1982.-V. 55.-pp. 726−735.
  3. Binnig G., Rohrer H., Gerber C, Weibel E. Tunneling through a controllable vacuum gap // Appl. Phys. Lett. -1982. — v. 40. — pp. 178−180.
  4. Saens J. J., Garcia N., Grutter P., Meyer E., Heinzelmann H., Wiezendanger R., Rosenthaler L., Hidber H. R, Guntherodt H. J. Observation of magnetic forces by the atomic force microscope // J. Appl. Phys. -1987. — v. 63. — pp. 4293-# 4295.
  5. Durug U., Pohl D. W., Rohrer F. Near field optical scanning microscopy // J. Appl. Phys. -1986. -V. 59. — pp. 3318−3327.
  6. Hu J., Xiao X.-D., Ogletree D. F., Salmeron M. Imaging the condensation and evaporation of molecularly thin film of water with nanometer resolution // Science. -1995. — v. 268. — pp. 267−269.
  7. Химическая энциклопедия, издательство „БОЛЬШАЯ РОССИЙСКАЯ ЭНЦИКЛОПЕДИЯ“ Москва 1992, в 5 томах
  8. F. London, // Z. Phys. Chem., -1930, — v. В11, — pp. 222.
  9. М.О. „Сканирующая зондовая микроскопия нуклеиновых кислот и тонких органических пленок“ диссертация канд. Физико-математических наук 01.04.07: МГУ, 1999. 228 с. *
  10. Е. М. Лифшиц, // ЖЭТФ, -1955, — т. 29, — ее. 94. # 13. и. Hartmann, Theory of van der Waals microscopy // J. Vac. Sci. Technol. B, -1991, — V. 9, — No 2, — pp. 465−469.
  11. A. Адамсон, Физическая химия поверхностей. — М.: Мир, 1979. -568 с.
  12. J. Т. Woodward, J.A.N. Zasadzinski, and P. К. Hansma, Precision height measurements of freeze fracture replicas using the scanning tunneling microscope //J. Vac. Sci. Technol B, -1991, — v. 9, — No 2, — pp. 1231−1235.
  13. J.N. Israelachvili, Intermolecular and Surface Forces. — London: Academic Press, 1985.-296 p.
  14. V. V. Yaminsky and B. W. Ninham, The hydrophobic force: the lateral enhancement of subcritical fluctuations // Langmuir, -1993, — v. 9, — pp. 3618.
  15. Nanoscope Ilia manual guide- / Digital Instruments, USA
  16. Bustamante C, Vesenka J., Tang C.L. et al. Circular DNA molecules imaged in air by scanning force microscopy. //Biochemistry, 1992, V. 31, P. 22
  17. Guthold M., Bezanilla M., Erie D.A. et al. Following the assembly of RNA polymerase-DNA complexes in aqueous solutions with the scanning force microscope. //Proc. Natl. Acad. Sci. USA, 1994, V.91 N26, P. 12 927
  18. Onishi S., Hara M., Furuno Т., Sasabe H., Imaging two-dimensional crystals of catalase by atomic force microscopy. // Jpn. J. Appl. Phys., 1996, V. 35, p.6233
  19. Uvarov V. Yu., Ivanov Yu. D., Romanov A.N. et al. Scanning tunneling microscopy study of cytochrome P450 2B4 incorporated in proteoliposomes. //Biochimie, 1996, v.78, p. 780
  20. Simmons D.A.R. Immunochemistry of Shigella flexnery O-antigens: a study of structural and genetic aspects of the biosynthesis of cell-surface antigens. //Bacteriological Reviews, 1971, V. 35 N2, P. l 17
  21. H.K., Ананян M.A., Сороковой В. И., Лускинович П. Н. Сканирующая зондовая микроскопия и медико-биологическая нанотехнология: история и перспективы. // Архив патологии, 1999 J^ 25, с. 9
  22. A.M., Miranda R., Carrascosa J.L. //IBM J. Res. Dev., 1986, v. 30, p.380
  23. Weisenhom A.L., Drake В., Prater C.B. et al. Immobilized proteins in buffer solution at molecular resolution by atomic force microscopy. // Biophys., 1990, V. 58, P. 1251.
  24. Radmacher M., Fritz M., Cleveland J.P. et al. Imaging adhesion forces and elasticity of lysozyme adsorbed on mica with the atomic force microscope. // 1. angmuir, 1994, V. 10 № 10, P. 3809.
  25. Worcester D.L., Miller R.G., Bryant P.J. Atomic force microscopy of риф1е membranes. //J. Of Microscopy, 1988, V. 152, Pt 3, P. 817.
  26. Muller D.J., Schabert F.A., Buldt J., Engel A. Imaging purple membranes in aqueous solutions at sub-nanometer resolution by atomic force microscopy, // Boiphys., 1995, V.68,P. 1681.
  27. Durbin S.D., Carlson W.E. Lysozyme crystal growth studied by atomic force microscopy. // Journal of Crystal Growth, 1992, V. 122, P. 71.
  28. Land T.A., Malkin A.J., Kuznetsov Yu. G., De Yoreo J.J. Mechanisms of protein crystal growth: An atomic force microscopy study of canavalin crystallization. // Phys. Rev. Lett., 1995, V. 75, P. 2774.
  29. McPherson A., Malkin A., Kuznetsov Y. The science of macromolecular crystallization. // Structure, 1995, V. 3, P. 759.
  30. Lee G.U., Kidwell D.A., Colton R.J. Sensing streptavidin-biotin interactions with atomic force microscopy. // Langmuir, 1994, V. 10, № 2, P. 354.
  31. Kuznetsov Yu.G., Malkin A.J., Glantz W., McPherson A.//J. of Cryst. Growth. 1996. V. 168. P. 63−73.
  32. Malkin A. J., Land T.A., Kuznetsov Yu.G., McPherson A., and De Yoreo J.J. //Phys. Rev. Let. 1995. V.75. N. 14. P. 2778−2781.
  33. Drygin Yu.F., Gallyamov M.O., Yaminsky I. V, // Presentation Abstracts, 1997 International NanoScope Users' Conference, Santa Barbara, California, -p.39
  34. Mantovani J.D., Allison D.P., Warmack R.J., Ferrel T.L. et al //J. of Microscopy. 1990. V. 158.Ptl.P. 109−116.
  35. Lyubchenko B.L., Jacobs, Lindsay S.M. //Nuclear Acids Research. 1992. V. 20. N. 15. P. 3983−3986.
  36. Falvo M.R., Washburn S., Superfine R et al // Biophysical Journal. 1997. V. 72. P. 1396−1403.
  37. Kiselyova O.I., Galyamov M.O., Nasikan N.S. et al //"Frontiers of Multifunctional Nanosystems» (Eds. Buzanaeva E.V., Scharff P. — Kluwer Academic Publishers, Dordrecht, 2002, 500 pages), pp. 321−330.
  38. Kiselyova O.I., Nasikan N.S., Yaminsky I.V. et al // Physics of Low- Dimensional Structures. 2001. V. ¾. P. 167−174.
  39. C.P., Rose J.B. // Drinking water microbiology. Springer-Verlag, New York. 1990. P. 380−395.
  40. E.L. Florin, V.Y. Moy, H.E. Gaub, Science 264 (1994) 415.
  41. U. Dammer, O. Popescu, P. Wagner, D. Anselmetti, H.J. Giintherodt, G.N. Misevic, Science 267 (1995) 1173.
  42. G.U. Lee, L.A. Chrisey, R.J. Colton, Science 266 (1994) 771.
  43. , A.L., Hansma P.K., Albrecht T.R., Quate C.F., //Appl. Phys. Lett. 1989,54,2651−2653
  44. N.A., Colton R.J. // J. Vac. Sci. Technol. 1989, A7(4), 2906−2913
  45. , A.L., Maivald P., Butt H.J., Hansma P.K. //Phys. Rev. B: Condens. Matter 1992,45, 11 226−11 232
  46. Bumham N.A., Colton R.J., Pollock H.M., J. vac. Sci. technol. 1991, A9, 2548- 2556
  47. Noy, A, Vezenov D.V., Kayyem J.F., Meade T.J., Lieber CM. 1997 //Chem. Biol. 4, 519−527
  48. Weisenhom A.L., Khorsandi M., Kasas S., Gotzos, V. and Butt H.-J. 1993 // Nanotechnology 4, 106−113
  49. Radmacher M., Fritz M., Cleveland J.P., Walters D.A. and Hansma P.K. 1996 // Biophys. J. 70, 556−567
  50. Shroff S.G., Saner D.R., Lai R., 1995 Am. J. Physiol. 269 C286−292
  51. Antonik, M.D.- D’Costa, N.P., Hoh, J.N. 1997 // IEEE Eng. Med. Biol. 16, 66-
  52. Heuberger, M., Dietler, G., Schlapbach L 1994 // Nanotechnology 5, 12−23
  53. Heuberger, M., Dietler, G., Schlapbach L 1996 // J. Vac. Sci. Technol. В14 1250−1254
  54. Maivald P., Butt, H-J., Gould, S.A.C., Prater C.B., Drake В., Gurley J.A., Elings V.B., Hansma P.K. 1991 //Nanotechnology 2, 103−106
  55. S., Neitzert M., Hagen Т., Ackermann J., Neumann R., Ptobst O., Wortge M. 1993 //Nanotechnology 4, 143−151
  56. Xu W., Mulhem P.J., Blackford B.L., Jericho M.H., Firtel M., Beveridge T.J. 1996 //J. Bacteriol. 178, 3106−3112
  57. Rho, J.Y., Tsui T.Y., Pharr G.M. 1997 //Biomaterials 18 1325−1330
  58. D.E. Laney, R.A. Garcia, S.M. Parsons, and H.G. Hansma. 1997. Changes in the elastic properties of cholinergic synaptic vesicles as measured by atomic force microscopy. //Biophys. J. 72:806−813.
  59. Nakajima, K.- Yamaguchi, H.- Lee, J.-C- Kageshima, M.- Ikehara, Т.- Nishi, T. // Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 1997, 36, 3850−3854.
  60. Nie, H. Y.- Motomatsu, M.- Mizutani, W.- Tokumoto, H. ThinSolid Films 1996, 273, 143−148.
  61. Friedenberg, M. C- Mate, С M. Langmuir 1996, 12, 6138- 6142. 125−131.
  62. Kajiyama, Т.- Tanaka, K.- Ge, S. R.- Takahara, A. Prog. Surf Sci. 1996, 52,1−52.
  63. Rief M., Oesterhelt F., Heymann В., Gaub H.E. Single molecule force spectroscopy on polysaccharides by atomic force microscopy. // Science. — 1997. -V. 275.-pp. 1295−1297.
  64. Howard, A. J.- Rye, R. R.- Houston, J. E. J. Appl. Phys. 1996,79, 1885−1890
  65. Ovemey, R. M.- Leta, D. P.- Pictroski, C. F.- Rafailovich, M. H.- Liu, Y.- Quinn, J.- Sokolov, J.- Eisenberg, A.- Ovemey, G. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 1272−1275.
  66. F. Caruso, R. A. Caruso, and H. Mohwald, Science 282, 1111 (1998)
  67. Dacher, G.- Schlenoff, J.B. Multilayer Thin Films. Sequential Assembly of Nanocomposite Materials, New York, 2003, 524 p.
  68. Jones, A.H.- Lvov, Y.M. Cell Biochem. Biophys. 2003, v. 39(1), pp. 22−43.
  69. Wu A., Yoo, D., Lee J.-K., Rubner M.F., //J. Am Chem Soc. 1999. 121, 4883
  70. Onitsuka O., Fou, A.C., Ferreira M, Hsieh B. R, Rubner M.F., //J Appl. Phys. 1996,80,4067
  71. Decher G., Lehr B, Lowack K., Lvov Y., Schmitt J. //Biosens. Bioelectron. 1994, 9,677
  72. Onda, M., Lvov Y, Ariga K., Kunitake T. //Biotechnol. Bioeng. 1996
  73. Yoo D., Shiratori S.S., Rubner M.F. //Macromolecules 1998, 31, 4309
  74. Ostrander, J.W.- Mamedov, A.A.- Kotov, N.A. J. Am. Chem. Soc. 2001, v. 123(b), pp. 1101−1110.
  75. Dubas, S.T.- Schlenoff, J.B. Langmuir, 2001, v. 17, pp. 7725−7727.
  76. M. Y. Gao, С Lesser, S. Kirstein, H. Mohwald, A. L. Rogach, and H. Weller, J. Appl. Phys. 87, 2073 (2000)
  77. M. R. Linford, M. Auch, and H. Mohwald, J. Am. Chem. Soc. 120,178 (1998)
  78. C. Kallinger, M. Hauder, A. Haugeneder, U. Lemmer, W. Spirkl, J. Feld- mann, U. Scherf, A. Harth, E. Gugel, and K. Mullen, Synth. Met. 101,185 (1999).
  79. F. Caruso and H. Mohwald, J. Am. Chem. Soc. 121, 6039 (1999)
  80. Kotz J. Polyelectrolyte Complexes (Overview). Polymeric Materials Encyclopedia, CRC Press, Inc., Boca Raton, FL, 1996- p. 5762
  81. Y. Lvov, G. Decher, and G. Sukhorukov, Macromolecules 26, 5396 (1993).
  82. O. Onitsuka, A. C. Fou, M. Ferreira, B. R. Hsieh, and M. F. Rubner, // J. Appl. Phys. 80,4067(1996).
  83. Mendelsohn J.D., Barrett C.J., Chan V.V., Pal A.J., Mayes A.M., Rubner M.F. «Fabrication of Microporous Thin Films from Polyelectrolyte Multilayers» //Lanhmuir 2000, 16, 5017−5023
  84. M. Breit, M. Gao, G. von Plessen, U. Lemmer, and J. Feldmann // JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS 2002, 8, 117, 3956
  85. V. V. Tsukuruk, V. N. Bliznuyuk, and D. Visser, Macromolecules 30,6615 (1997)
  86. V.V., Huang Z., Chizhik S.A., Gorbunov V.V., «Probing of micromechanical properties of compliant polymeric materials» //J. of Mat. Science, 1998, 33, 4905−4909
  87. Ducker W.A., Senden T.J., Pashley R.M. Direct measurement of colloidal forces using an atomic force microscope // Nature. — 1991. — v. 353. — pp. 239−241.
  88. O’Shea S.J., Welland M.E., Rayment T. Solvation forces near a graphite surface measured with an atomic force microscope // Appl. Phys. Lett. — 1992. — v. 60. -pp. 2356−2358.
  89. Butt H.-J. Measuring electrostatic, van der Waals, and hydration forces in electrolyte solutions with an atomic force microscope. // Biophys. J. — 1991. — v. 60.-pp. 1438−1444.
  90. Frisbie CD, Rozsnyai L.F. Noy A., Wrighton M.S., Lieber CM. Functional group imaging by chemical force microscopy. // Science. — 1994. — v. 265. — pp. 2071−2074.
  91. Lee G.U., Chrisey L. A, Colton R.J. Direct measurement of the forces between complementary strands of DNA. // Science. — 1994. — v. 266. — pp. 771−773.
  92. Hinterdorfer P., Baumgartner W., Gruber H.J., Schilcher K., Schindler H. Detection and localization of individual antibody-antigen recognition events by atomic force microscopy. // Proc. Natl. Acad. Sci. USA. — 1996. — v. 93. — pp. 3477−3481.
  93. Butt. H.J., Jaschke M., Ducker W. Measuring surface forces in aqueous electrolyte solution with the atomic force microscope //Bioelectrochemistry and Bioenergetics 1995, 38, 191−201
  94. H. // J. Reine Angew. Math. -1882, — v. 92. — pp. 156.
  95. LN. // Int.J.Eng.Sci. — 1965. — v. 3. — pp. 47−57.
  96. Л.Д., Лифшиц E.M. Теория упругости. М.: Наука, 1987.
  97. Johnson K.L., Kendall К., Roberts A.D., Proc. Roy. Soc. London A324 301 (1971)
  98. К.Л., Механика контактного взаимодействия (М.: Мир, 1987)
  99. R.W., Agrait N., Ogletree D.F., Salmeron M., //J.Vac Sci. Technol В14 1289(1996)
  100. D., Barguins M. 111. Phys. D.16 1843(1983)
  101. D., //Langmuir V. 11. 679(1995)
  102. B.V. Deryagin, V.M. Muller, Toporov Y.P. //J. Coll. Interface Sci., V, 53, 314 (1975)
  103. V.M., Yushenko V.S., Deryagin B.V. //J. Coll. Interface Sci., V. 77, 91 (1980)
  104. V.M., Yushenko V.S., Deryagin B.V. //J. Coll. Interface Sci., V. 92, 92 (1983)
  105. D. //J. Colloid. Interface Sci. V. 150 243(1992)
  106. J., Radmacher M. // Langmuir. 1998. V. 14. P. 3320.
  107. H.J. Butt, Jaschke M. Calculation of thermal noise in atomic force microscopy //Nanotechnology V.6 (1995) 1−7
  108. Dunn, R. C- Hotom, G. R.- Mets, L.- Xie, X. S. J. Phys. Chem.1994, 98, 3094.
  109. Karim, A.- Satija, S. K.- Han, С С- Slawecki, Т. М.- Kumar, S. К.- Russell, Т. P. Polym. Prepr. (Am. Chem Soc, Div.Polym. Chem.) 1994, 71, 280.
  110. Sung, L.- Douglas, J. F.- Han, С Phys. Rev. Lett. 1996,76,4368.
  111. McEvoy, R.- Krause, S.- Wu, P. Polymer 1998,39, 5223.
  112. Hasegawa, H.- Hashimoto, T. Polymer 1992,33,475.
  113. Winograd, N. Anal. Chem. 1993,65, 622A.
  114. Bar, G.- Thomann, Y.- Brandsch, R.- Cantow, H. J.- Whangho, M. H. Langmuir 1997, 13, 3807.
  115. Bar, G.- Thomann, Y.- Brandsch, R.- Whangho, M. H. Lang-muir 1998, 14, 1219.
  116. Zhang, D.- Gracias, D. H.- Ward, R.- Gauckler, M.- Tian, Y.-Shen, Y. R.- Somarjai, G. A. J. Phy. Chem. B. 1998, 102, 6225.
  117. McLean, R. S.- Sauer, B. B. Macromolecules 1997, 30, 8314.
  118. , В. В.- Mohney, В. К.- Marra, К. G.- Chapman, T. М.- Walker, G. Langmuir 1998,14, 3976.
  119. , В. В.- McLean, R. S.- Thomas, R. R. Langmuir 1998,14,3045.
  120. Bierwagen, G. P.- Twite, R.- Chen, G.- Tallman, D. E. Prog.Org. Coat. 1997, 32, 25.
  121. Интернет учебник Макрогалерея http://www.psrc.usm.edu/russian/sbs.htm
  122. А.С., Гаврилко Д. Ю., Яминский И. В. Программное обеспечение «ФемтоСкан» для обработки трехмерных изображений. М.: Центр перспективных технологий, 2001. (http://www.nanoscopy.net)
  123. Raghavan D., Gu X., Nguyen Т., VanLandingham М., Karim А., Mapping Polymer Heterogeneity Using Atomic Force Microscopy Phase Imaging and Nanoscale Indentation //Macromolecules 2000, 33, 2573−2583
  124. Li H., Nadarajah A., Pusey M. Determining the molecular growth mechanism of protein crystal faces by atomic force microscopy //Acta Cryst., D55 1036−1045
  125. Д.Г., Мызина Д. «Биологическая химия» М.: Высш. шк. 2002
  126. И.В., Большакова А. В., Логинов Б. А. и др. // Поверхность: рентгеновские, синхротронные и рентгеновские исследования 1999, 7,
  127. A. Адамсон, Физическая химия поверхностей. — М.: Мир, 1979. -568 с.
  128. К. В. Blodgett and I. Langmuir, // Phys. Rev., -1937, — v. 51, — pp. 964.
  129. A.V., Eremenko A.V., Sokolovsky A.A., Chernov S.F., Kurochkin I.N. //Biotechnol. Appl. Biochem. 1994.V.18. P. 369−376.
  130. Barmin A.V., Eremenko A.V., Kurochkin I.N., Moskvina N.A.// Biotechnol. And Bioengineering 1994. V.44. P. 849−853.
  131. Ю.И., Будашов И. А., Курочкин И. Н., Чернов Ф.И Биол. Мембраны 1996. Т. 13. вып. 6. 634−641
  132. Wang J., Lin Y., Eremenko A.V., Kurochkin LN., Mineeva M.F. //Anal. Chem. 1993.V. 65. P. 513−516.
  133. А.Б., Курочкин И. Н., Чернов Ф. // Биол. Мембраны 1998. Т. 15. вып. 3. 342−348.
  134. И.Н., Будашов И. А., Павельев А. В., Денисов А. К., Скрипнюк В. В., Шабанов Г. А. // Сенсорные Системы, 1998., т. 12, вып. 1, 122−134.
Заполнить форму текущей работой

Заказал и сдал!