Дипломы, курсовые, рефераты, контрольные...
Срочная помощь в учёбе

Развитие экспериментальных методик для исследования твердых тел методом РЭС

Диссертация: Развитие экспериментальных методик для исследования твердых тел методом РЭС
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Показано, что при совместном использовании данных РЭС и мессбауэровской спектроскопии возможно количественно оценить перераспределение электронной плотности на атоме железа при спиновом переходе в полимерных цепочечных комплексах железа (П) с триазолами. Установлено, что при переходе из низкоспинового в высокоспиновое состояние происходит увеличение ионности связи Ре-К Значительный вклад… Читать ещё >

Содержание

  • ГЛАВА 1. ОСОБЕННОСТИ ИНТЕРПРЕТАЦИИ РЕНТГЕНОЭЛЕКТРОННЫХ СПЕКТРОВ В ТВЕРДОМ ТЕЛЕ
    • 1. 1. Основные процессы, сопровождающие эффект фотоэлектронной эмиссии в твердом теле
    • 1. 2. Учет эффекта подзарядки при экспериментальном определении энергии связи
    • 1. 3. Методы обработки экспериментальных спектров
    • 1. 4. Экспериментальная установка
  • ГЛАВА 2. РАЗВИТИЕ МЕТОДА АНАЛИЗА РЕНТГЕН ОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ПРИ ПОМОЩИ РЕНТГЕНОВСКИХ ФОТОЭЛЕКТРОНОВ
    • 2. 1. Описание метода анализа рентгеновского излучения при измерении рентгеноэлектронных спектров (метод PAX)
    • 2. 2. Экспериментальные спектры, полученные методом PAX
    • 2. 3. Выводы
  • ГЛАВА 3. ИССЛЕДОВАНИЕ ПРОФИЛЯ КОНЦЕНТРАЦИИ В ПОВЕРХНОСТНОМ СЛОЕ ПРИ ПОМОЩИ АНАЛИЗА УГЛОВОЙ ЗАВИСИМОСТИ ИНТЕНСИВНОСТИ РЭС
    • 3. 1. Описание методики определения профиля концентрации в поверхностных слоях по данным РЭС с угловым разрешением
    • 3. 2. Распределение элементов в поверхностном слое монокристалла CdTe
    • 3. 3. Выводы
  • ГЛАВА 4. ИССЛЕДОВАНИЕ ФАЗОВОГО СОСТАВА ПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЕВ ПРИ ПОМОЩИ ОБРАБОТКИ ДАННЫХ КОЛИЧЕСТВЕННОЙ ОЖЕ СПЕКТРОСКОПИИ МЕТОДАМИ ХЕМОМЕТРИИ
    • 4. 1. Описание методов кластерного анализа и главных компонент
    • 4. 2. Экспериментальные результаты по исследованию ВТСП пленки и системы Pt-Al
    • 4. 3. Выводы
  • ГЛАВА 5. ПОЛУЧЕНИЕ ДАННЫХ О РАСПРЕДЕЛЕНИИ ЭЛЕКТРОННОЙ ПЛОТНОСТИ В ВАЛЕНТНОЙ ЗОНЕ ПРИ ОБРАБОТКЕ ДАННЫХ ОЖЕ СПЕКТРОСКОПИИ МЕТОДОМ РЕГУЛЯРИЗАЦИИ
    • 5. 1. Возможность получения информации о распределении электронной плотности в валентной зоне из оже спектров
    • 5. 2. Описание метода восстановление информации методом итеративной регуляризации
    • 5. 3. Экспериментальные результаты о распределении электронной на атоме углерода из С KLL оже спектров
    • 5. 4. Выводы
  • ГЛАВА 6. СОВМЕСТНОЕ ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ДАННЫХ РЭС И МЕССБАУЭРОВСКОЙ СПЕКТРОСКОПИИ ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ОСОБЕННОСТЕЙ ХИМИЧЕСКОЙ СВЯЗИ ПРИ СПИНОВЫХ ПЕРЕХОДАХ В КОМПЛЕКСАХ ЖЕЛЕЗА (II) С ТРИАЗОЛАМИ
    • 6. 1. Исследование изменения химической связи Fe-N в полимерных комплексах Fe (II) с триазолами при спиновом переходе
    • 6. 2. Выводы
  • ГЛАВА 7. ПРИМЕНЕНИЕ РЭС ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ИНТЕРКАЛИРОВАННЫХ СОЕДИНЕНИЙ ФТОРИРОВАННОГО ГРАФИТА
    • 7. 1. Исследование взаимодействия внедренных молекул с фторграфитовой матрицей и химической связи между атомами матрицы методом РЭС
    • 7. 2. Выводы
  • ГЛАВА 8. ПРИМЕНЕНИЕ РЭС ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПРОДУКТОВ МЕХАНОХИМИЧЕСКИХ РЕАКЦИЙ
    • 8. 1. Исследование состояния атомов на начальных стадиях механохимической активации смесей гидроксида кальция и гидратированного диоксида титана
    • 8. 2. Применение метода РЭС при исследовании процесса механохимического синтеза литий-марганцевой шпинели 1лМп
    • 8. 3. Выводы

Развитие экспериментальных методик для исследования твердых тел методом РЭС (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Актуальность темы

Метод рентгеноэлектронной спектроскопии (РЭС) является одним из наиболее универсальных методов исследования поверхности. С его помощью возможно получать информацию о качественном и количественном составе поверхностных слоев, исследовать особенности химической связи между атомами и зонную структуру кристаллов, изучать пространственное строение поверхностных слоев, проводить микроскопические исследования и т. д. Разработаны теоретические основы для интерпретации особенностей в РЭС. В экспериментальном плане метод использует современные научные достижения, включая, например, источники синхротронного излучения. Таким образом, метод РЭС интенсивно развивается.

Можно ожидать, что развитие новых подходов в РЭС, включающие экспериментальные методики, обработку и анализ полученных данных, использование информации от других методов для интерпретации экспериментальных результатов, а также применение метода в новых областях и для исследования новых объектов может оказаться весьма эффективным и представлять научный интерес в широкой области, связанной с использованием данного метода. Целью работы является разработка методов измерения и обработки данных РЭС, исследование особенностей химической связи в некоторых новых неорганических комплексах, слоистых интеркалированных соединениях фторированного графита, продуктах механической активации смесей.

Для выполнения поставленной цели решались следующие задачи.

— разработка методики регистрации рентгеновских спектров на рентгеноэлектронном спектрометре в области мягкого рентгеновского диапазона;

— развитие метода восстановления информации о профиле концентрации распределения элементов в поверхностном слое монокристаллов по данным РЭС с угловым разрешением;

— применение методов хемометрии для обработки экспериментальных данных количественной оже спектроскопии для разработки метода определения фазового состава поверхности;

— восстановление информации о распределении электронной плотности в валентной зоне при обработке формы линии оже спектров методом регуляризации;

— проведение исследования изменения электронной структуры в комплексах железа (Н) с триазолами при спиновом переходе совместно по данным РЭС и мессбауэровской спектроскопии;

— изучение взаимодействия внедренных молекул с матрицей и химической связи между атомами фторграфитовой матрицы в интеркалированных соединениях фторированного графита состава.

ЫуЪ.

— исследование состояния атомов в продуктах механохимической активации реагентов на начальных стадиях реакции.

Научная новизна работы.

— Впервые показана применимость метода анализа рентгеновских спектров при помощи регистрации рентгеновских фотоэлектронов для изучения эффектов химической связи в мягком рентгеновском диапазоне.

— Разработан подход для изучения фазового состава поверхностных слоев по данным количественной оже спектроскопии.

— Установлена корреляция между химическими сдвигами внутренних уровней атома железа и мессбауэровскими химическими сдвигами в комплексах железа (Н) с триазолами, находящимися в низкоспиновом состоянии, подтверждающая вывод о том, что комплексы с более высокой температурой спинового перехода характеризуются более ковалентными связями Бе-К.

— Установлено, что в интеркалированных соединениях фторированного графита состава С2Р. у11 молекулы, внедренные во фторграфитовую матрицу, могут взаимодействовать с ней не только за счет ван-дер-ваальсовых сил, но и вступать в химическое взаимодействие.

— Показано, что при механохимической реакции синтеза литий-марганцевой шпинели 1лМп204 из смеси ЬЮН и М1Ю2 происходит окислительно-восстановительный процесс, связанный с переносом электронной плотности от ОН'-групп к ионам Мп (+4) и их частичным восстановлением до Мп (+3).

Научная и практическая значимость.

— Метод регистрации рентгеновских спектров позволяет получать информацию о распределении парциальной плотности состояний в валентной зоне на рентгеноэлектронном спектрометре.

— Описанная методика получения информации о распределении элементов в поверхностном слое по данным РЭС с угловым разрешением является экспрессным и неразрушающим методом анализа поверхности без априорных ограничений на вид решения и количества компонент.

— Разработанный метод фазового анализа поверхностных слоев с помощью методов хемометрии может быть применен в различных процедурах количественного анализа без предварительной идентификации фаз.

— Методика получения информации о распределении электронной плотности в валентной полосе по данным оже спектроскопии имеет перспективы при анализе легких элементов, где вероятность процесса рентгеновской эмиссии очень низка.

— Практическая значимость информации об электронной структуре изученных соединений связана с их применениями: интеркалированных соединений фторированного графита — в качестве молекулярных контейнеров и перспективного материала при синтезе новых соединений на основе фторида графитакомплексов железа — в молекулярной электроникелитий-марганцевых шпинелей — в качестве катодных материалов для химических источников тока.

На защиту выносятся.

— разработка методики анализа рентгеновских спектров при регистрации рентгеновских фотоэлектронов;

— обработка экспериментальных данных РЭС и оже спектроскопии для получения информации о распределении элементов в поверхностном слое, о фазовом составе поверхности и о распределении электронной плотности в валентной зоне;

— результаты исследования электронной структуры в комплексах железа (II) с триазолами со спиновыми переходами, интеркалированных соединениях фторированного графита состава C2 °F JR, исследование состояния атомов в поверхностном слое на начальных этапах реакции мягкого механохимического синтеза некоторых сложных оксидов. Апробация работы Основные результаты работы представлялись на.

XV Всесоюзном совещании по рентгеновской и электронной спектроскопии (Ленинград, 1988), X, XV и XVII научных школах-семинарах «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» (Одесса, 1986, Новоуральск, 1997; Екатеринбург, 1999), 2 и 3 германо-российских симпозиумах «Электронная и рентгеновская спектроскопия» (Берлин, 1997; Екатеринбург, 1999), 14 Европейской конференции по поверхности ECOSS-14 (Лейпциг, 1994), Научно-техническом совещании по фотоэлектрическим и тепловым приемникам излучения (Москва, 1989), конференции по электронным материалам (Новосибирск, 1992), VIII и X симпозиумах по химии неорганических фторидов (Полевской, 1987; Москва, 1998), Международном конгрессе по теоретической химии (Иерусалим, 1996), 2 Международной конференции по механохимии и механической активации (Новосибирск, 1997), Ш семинаре Азиатско-Тихоокеанской академии материалов (Новосибирск, 1999), 2 Национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов РСНЭ-99 (Москва, 1999),.

Публикации По теме работы опубликовано 8 статей и ряд тезисов в материалах конференций.

Структура и объем диссертации

Диссертация состоит из введения, 8 глав, заключения и списка цитируемой литературы из 395 наименований. Основной материал изложен на 197 страницах, включая 40 рисунков, 13 таблиц.

выводы.

1. Проведена разработка метода получения рентгеновских спектров с помощью регистрации фотоэлектронов на рентгеноэлектронном спектрометре. На примере N Ка спектров показано, что энергетическое разрешение метода может превосходить разрешение спектров, полученных с помощью обычного кристалл-анализатора. Установлено, что метод может быть использован для изучения эффектов химической связи в соединениях.

2. Разработана экспрессная и неразрушающая методика исследования распределения элементов по глубине в поверхностном слое по данным РЭС с угловым разрешением без дополнительных априорных ограничений на вид решения и для любого числа компонент. Качество восстановления профиля концентраций проверялось путем сопоставления с модельными профилями и литературными данными. Показано, что в монокристалле С<�ЗТе, выдержанном на воздухе, в поверхностном слое каждой грани находится преимущественно один из элементов, а на глубине порядка 25А имеется резкий минимум.

3. Предложена методика идентификации фаз и определения их состава в приповерхностных слоях твердых тел по результатам обработки данных количественной оже-спектроскопии с помощью методов главных компонент и кластеризации. На примере ВТСП пленок и системы Рг-А^Оз показано, что с помощью предложенной методики можно обнаружить неоднородности состава поверхностных слоев в образцах, выделить отдельные фазы и определить соотношение элементов в них.

4. Предложен метод получения распределения локальной электронной плотности в валентной зоне при обработке оже-спектров методом итерационной регуляризации. С помощью модельных расчетов отработана методика вычислений. Получено хорошее согласие результатов распределения С 2р электронной плотности, восстановленной из С К1Х оже-спектров для графита, монофторида графита, нанотруб с экспериментальными рентгеновскими эмиссионными С Ка спектрами.

5. Показано, что при совместном использовании данных РЭС и мессбауэровской спектроскопии возможно количественно оценить перераспределение электронной плотности на атоме железа при спиновом переходе в полимерных цепочечных комплексах железа (П) с триазолами. Установлено, что при переходе из низкоспинового в высокоспиновое состояние происходит увеличение ионности связи Ре-К Значительный вклад в перераспределение электронной плотности дают не только Ре Зс/, но Ре 45 электроны. В низкоспиновом состоянии установлена корреляция между сдвигом Ре 2ру2 уровня и мессбауэровскими сдвигами, что подтверждает вывод о том, что комплексы с более высокой температурой спинового перехода характеризуются более ковалентными связями Ре-Ы.

6. Проведено исследование слоистьдх интеркалированных соединений на основе фторированного графита состава С2Р-.у11, где Я-внедренная молекула. При использовании информации о положении С 15 и Р 15 уровней от фторграфитовой матрицы и величинах оже параметров от атомов внедренных молекул показано, что характер химической связи С-Б во фторированном графите значительно отличается как от сильной ковалентной связи С-Р в соединениях типа (СР)&bdquo-, так и от ионной связи. Такие молекулы «гостей» как С6Н6, Сб? б, веСЦ, СС14, 802 взаимодействуют с фторграфитовой матрицей посредством ван-дер-ваальсовых сил. Установлено, что при внедрении молекулы пиридина во фторграфитовую матрицу происходит химическое взаимодействие с матрицей, при этом отношение содержания атомов С/¥значительно увеличивается по сравнению с исходной матрицей.

7. Метод РЭС использовался для исследования состояния атомов в приповерхностном контактном слое, возникающем при механохимическом взаимодействии соединений. Показано, что на начальных стадиях активации смесей гидратированного диоксида титана с гидроксидом кальция в поверхностном слое частиц наблюдается избыточное содержание атомов кальция, концентрация которого уменьшается с увеличением времени механической активации. В процессе МА происходит образование связей Са-О-Ть Установлено, что начальные стадии механохимического взаимодействия смесей Мп02 с 1ЛОН и 1л2С03 протекают различным образом. При механохимической активации ЬЛОН с Мп02 происходит окислительно-восстановительная реакция с переносом электрона от гидроксидных групп в 1ЛОН к ионам Мп+4 с их частичным восстановлением до состояния Мп+3. В случае Мп02 с 1л2С03 не обнаружено изменения зарядового состояния атомов марганца.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Дж. Теория фотоэмиссии // Электронная и ионная спектроскопиятвердых тел / Под. ред. Л. Фирмэнса, Дж. Вэнника, В.Декейсера.-М.: Мир, 1981.-С. 9−60.
  2. Mahan G.D. Theory of Photoemission in Simple Metals // Phys. Rev. B-1970.-V.2,№ 11.-P. 4334−4350.
  3. А. Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением (теоретическая интерпретация данных измерения) // Электронная и ионная спектроскопия твердых тел /
  4. Под. ред. Л. Фирмэнса, Дж. Вэнника, В.Декейсера.-М.: Мир, 1981-С. 98−151.
  5. Plummer E.W., Eberhardt W. Angle-resolved photoemission as a tool for the study of surfaces // Advan. Chem. Phys.-1982.-V.49.-P. 533−656.
  6. Martin R.L., Shirley D.A. Many-electron theory of Photoemission // Electron Spectroscopy: Theory, Techniques and Applications. Vol.1 / Ed. by C.R.Brundle.-London-New-York-San-Francisco, Academic Press, 1977-P.75−117.
  7. М.Я. Атомный фотоэффект // М.:Наука, 1987.-272 с.
  8. Р.Л., Нефедов В. И. Рентгеноспектральное определение заряда атомов в молекулах // М.: Наука, 1966.-247 с.
  9. В.В., Алешин В. Г. Теоретические основы рентгеновской эмиссионной спектроскопии // Киев: Наукова думка, 1974.-382 с.
  10. Ю.Мазалов Л. Н., Мурахтанов В. В., Кондратенко А. В. Высокоэнергетическая спектроскопия молекул: Учеб. пособие // Новосибирск: Новосибирский ун-т., 1984.-83 с.
  11. П.Кондратенко А. В., Нейман К. М. Квантовая химия и спектроскопия высоковозбужденных состоянийю Координационные соединения переходных металлов // Новосибирск: Наука, 1990 245 с.
  12. В.А., Курмаев Э. З., Ивановский А. Л. Квантовая химия твердого тела //М.:Наука, 1984.-304 с.
  13. В.А., Ивановский A.JL, Рыжков М. В. Квантовая химия в материаловедении//М.: Наука, 1987.-336 с.
  14. В. В. Кучеренко Ю.Н. Методы вычислительной физики в теории твердого тела. Электронные состояния в 'неидеальных кристаллах//Киев: Наукова думка, 1986.-295 с.
  15. Р.А. Квантовохимические методы в теории твердого тела // Ленинград: Изд-во Ленинград, ун-та., 1982.-280 с.
  16. А.А. Введение в квантовую химию твердого тела. Химическая связь и структура энергетических зон в тетраэдрических полупроводниках // М.:Химия, 1974.-240 с.
  17. Ф., Эндерлайн Р. Поверхности и границы раздела полупроводников // М.: Мир, 1990.-488 с.
  18. Г. М., Багатурьянц А. А., Абронин И.А.Прикладная квантовая химия. Расчеты реакционной способности и механизмов химических реакций // М.: Химия, 1979.-296 с.
  19. С.В., Засуха В. А. Квантовая химия координационных конденсированных систем //Киев: Наукова думка, 1985.-296 с.
  20. С. Метод молекулярных орбиталей //М.:Мир, 1983, — 461 с.
  21. Extensible Computational Chemistry Environment Basis Set Database, Version 1.0. ht^://www.emsl.pnl.gov:2080/forms/basisform.html
  22. Дж. Методы самосогласованного поля для молекул и твердых тел//М.:Мир, 1978.-662 с.
  23. Kohn W., Sham L.J. Self-Consistent Equations Including Exchange and Correlation Effects // Phys. Rev. A.-1965.-V. 140,№ 4.-P. 1133−1138.
  24. Becke A.D.Density functional calculations of molecular bond energies // J.Chem.Phys.-1986.-V.84,№ 8.-P.4524−4529.
  25. Lee C., Yang W., Parr R.G. Development of the Colle-Salvetti correlation-energy formula into a functional of the electron density // Phy. Rev. B-1988.-V.37,№ 2.-P.785−789.
  26. Perdew J.P., Wang Y. Accurate and simple density functional for electronic exchange energy: Generalized gradient approximation // Phys. Rev. B-1986.-V.33,№l2.-P.8800−8802.
  27. Vosko S.H., Wilk L., Nusair M. Accurate spin-dependent electron liqid correlation energies for spin density calculations: a critical analysis // Can.J.Phys.- 1980.-V.58.-P. 1200−1211.
  28. Becke A.D.A new mixing of Hartree-Fock and local density-functional theories // J.Chem.Phys.-1993.-V.98,№ 2.-P. 1372−1377.
  29. Becke A.D.Density-functional thermochemistry.III.The role of exact exchange // J.Chem.Phys.-1993.-V.98,№ 7.-P.5648−5652.
  30. Gaussian-94 / G.W.Trucks, M. Head-Gordon, P.M.Gill et al.-Gaussian Inc., Pittsburgh, Pa, 1994.
  31. ADF 2.0.4. Theoretical Chemistry, Vrije Universiteit, Amsterdam/ G. te Velde, E.J.Baerends.// J.Comp.Phys.-1992.-V.99.-P.84.32. deMon-KS version 4.0/ M.E.Casida, C. Daul, A. Goursot et al.'-deMon Software, 1997.
  32. Baerends E.J., Gritsenko O.V. A Quantum Chemical View of Density Functional Theory // J.Phys.Chem. A.-1997.-V. 101,№ 30.-P.5383−5403.
  33. Stowasser R., Hoffmann R. What Do the Kohn-Sham Orbitals and Eigenvalues Mean? // J.Am.Che.Soc.-1999.-V. 121, № 14.-P.3414−3420.
  34. B.B., Алешин В. Г. Электронная спектроскопия кристаллов // Киев: Наукова думка, 1976.-335 с.
  35. Clark D.T., Cromarty В. J., Sgamelotti A. A ASCF МО Investigation of Core-ionized States of Some First-row Transition Metal Ions // J. Electron Spec-trosc. Relat. Phenom.-1980.-V.19.-P.303−309.
  36. A.B., Мазалов JI.H., Тополь И. А. Высоковозбужденные состояния молекул // Новосибирск: Наука, 1982.-176 с.
  37. В.И. Рентгеноэлектронная спектроскопия химических соединений. Справочник // М.: Химия, 1984 256 с.
  38. В.И., Вовна В. И. Электронная структура химическуих соединений // М.: Наука, 1987.- 347 с.
  39. В.И. Электронная структура органических соединений по данным фотоэлектронной спектроскопии // М.: Наука, 1991- 247 с.
  40. Davis D.W., Shirley D.A. The prediction of core-level binding-energy shifts from CNDO molecular orbitals // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom-1974.-V.3.-P. 137−163.
  41. Электронная спектроскопия / К. Зигбан, К. Нордлинг, А. Фальман и др-М.:Мир, 1969.-493 с.
  42. Р.В., Просандеев С. А., Тетерин Ю. А. Электронная релаксация и химические сдвиги рентгеноэлектронных спектров // Теор. экспер. химия.-1980.-т. 16,№ 5.-С. 620−625.
  43. Shirley D.A. Theory of KLL Auger Energies Including Static Relaxation // Phys. Rev. A.-1973.-V.7,№ 5.-P. 1520−1528.
  44. Jolly W.L. The estimation of core-electron binding energy shifts using the concept of the equivalence of equally charged cores // Electron Spectroscopy / Ed. by D.A.Shirley.-Amsterdam-London:North-Holland Pub. Co., 1972,-P.629−645.
  45. Calculated and measured Auger line shapes in Si02 / D.E.Ramaker, J.S. Mur-day, N.H.Turner et al. // Phys.Rev.B.-1979.-V. 19,№ 10.-P.5375−5387.
  46. Jl.Д., Лифшиц Е. М. Теоретическая физика. T.III. Квантовая механика (нерелятивистская теория).-М. .Наука, 1989.-768 С.
  47. Schaich W.L., Ashcroft N.W. Model Calculations in the Theory of Photoemission // Phys.Rev.B.-1971.-V.3,№ 8.-P. 2452−2465.
  48. Scofiled J.H. Hartree-Slater subshell photoionization cross sections at 1254 and 1487 eV//J. Electron Spectros. Relat. Phenom.-1976.-Vol 8.-P. 129−137.
  49. Yeh J.J., Lindau I. Atomic Subshell Photoionization Cross Sections and Asymmetry Parameters: 1< Z —<103 // Atomic Data and Nuclear Data Tables.- 1985.-Vol. 32.- P. 1−155.
  50. Carlson T.A., Krause M.O. Electron shake-off resulting from K-shell ionization in neon measured as a function of photoelectron velosity // Phys. Rev. A.-1965.-V. 140, № 12.-P. 1057−1064.
  51. Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности-М. .Мир, 1989.-564 с.
  52. Kadewula А.Р., Friedman D.J., Fadley C.S. Application of a novel multiple scattering approach to photoelectron diffraction and Auger electron diffraction // J. Electron Specrosc. Relat. Phenom.-1991.-V.57,№¾-P.223−278.
  53. Parry D.E. The role of core orbital angular momentum calculation of X-ray photoelectron diffraction intensities //J.Electron Specrosc. Relat. Phenom-1989.-V.49,№l.-P.23−30.
  54. Fadley C.S. Recent Developments in Photoelectron Diffraction //Core-level spectroscopy in condensed systems./Ed. by J. Kanamori, A.Kotani.-Springer Series in solid state Sciences. V.81.-Berlin-Heidelberg:Springer Verlag, 1988.-P.236−252.
  55. The effects of various experimental parameters on the accuracy of photoemission holography / G.R.Harp, D.K.Saldin, X. Chen et al. //J.Electron Specrosc. Relat. Phenom.-1991.-V.57,№¾.-P.331−355.
  56. Martin R.L., Shirley D.A. Theory of core-level photoemission correlation state spectra// J.Chem.Phys.-1976.-V.64,№ 9.-P.3685−3689.
  57. Larsson S. Shake-up and multiplet structure of ESCA satellites of Cu compounds // Chem. Phys. Lett.-1976.-V.40,№ 3.-P.362−366.
  58. Larsson S., Braga M. Charge transfer satellites. Intensity dependence on localization of hole state // Chem. Phys. Lett.-1977.-V.48,№ 3.-P.596−600.
  59. Asada S., Sugano S. Satellites in X-ray Photoelectron Spectra of Transition-Metal Compounds // J.Phys.Soc.Japan.-1976.-V.41, № 4.-P. 1291−1299.
  60. Zaanen J., Sawatzky G. A, Allen J.W. Band Gaps and Electronic Structure of Transition-Metal Compounds // Phys. Rev. B.-1982 -V.55,№ 4.-P.418−421.
  61. Gunnarsson O., Schonhammer K. Electron Spectroscopies for Ce compounds in the impurity model // Phys. Rev. B.-1983.-V.28,№ 8.-P.4315−4341.
  62. Ваег Y., Schneider W.-D. High-energy spectroscopy of lanthanide materials-an overview.// Handbook on the physics and Chemistry of rare Earths. Vol. 10 / Ed. by K.A.Gschneider, Jr, L. Eyring, S.Htifher.-New York: Elsevier Science Pub, 1987.-P. 1−102.
  63. Hiifner S. Systematics of optical energy gaps and core level satellites in CuO and copper dihalides // Solid State Comm.-1983.-V.47,№ 11.-P. 943−945.
  64. Screening and exchange splitting in core level XPS / Kinsinger V, Sander I, Steiner P. et al. // Solid State Comm.-1990.-V.73,№ 7.-P.527−530.
  65. Core-level spectroscopy in condensed systems./Ed. by J. Kanamori, A. Kotani -Springer Series in solid state Sciences. V.81.-Berlin-Heidelberg: Springer Verlag, 1988.
  66. Hiifner S. Photoelectron Spectroscopy. Principles and Applications./Ed. by M. Cordona, P. Fulde, K. van Klitzing, H.-J.Queisser -Springer Series in solid State Sciences. V.82.-Berlin-Heidelberg:Springer Verlag, 1995.-511 p.
  67. Аврамов П. В, Овчшшиков С. Г. Связь особенностей электронной структуры высокотемпературных сверхпроводников с формой их рентгеновских и электронных спектров// Журн.структ.химии.-1999.-т.40,№ 1-С. 131—183.
  68. Fadley C.S. Multiplet splittings in photoelectron spectra// Electron Spectroscopy / Ed. by D.A.Shirley -Amsterdam-London:North-Holland Pub. Co, 1972. -P.781−801.
  69. И.И. Введение в теорию атомных спектров // М.:Наука, 1977.-319 с.
  70. Г. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия твердых тел // Электронная и ионная спектроскопия твердых тел / Под. ред. Л. Фирмэнса, Дж. Вэнника, В.Декейсера.-М.: Мир, 1981.-С. 195−235.
  71. Scrocco M. Satellite structure in the x-ray photoelectron spectra of Fe (III) halides: Evidence of multielectron excitation and multiplet structure // Phys.Rev. B.-1981.-V.23,№ 9.-P.4381−4390.
  72. Рентгеноэлектронные исследования некоторых соединений никеля и кобальта / Ю. А. Тетерин, А. Н. Баранов, В. М. Кулаков и др. // Координационная химия.-1978.-т.4,№ 12.-С. 1860−1866.
  73. Ю.А., Баев А. С. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия соединений лантаноидов: Обзор.-М.:ЦНИИатоминформ, 1987.-128 с.
  74. Yamaguchi T., Sugano S. Multiplet Structure in X-ray Зр-Shell Photoelectron Spectra of Chromium Compounds //J.Phys.Soc.Japan.-1977.-V.42, № 6.-P. 1949−1956.
  75. Okada K., Kotani A. Multiplet Structures of Cu 2p-XPS in La2Cu04, CuO and Cu Halides //J.Phys.Soc.Japan.-1989.-V.58, № 7.-P.2578−2585.
  76. Gupta R.P., Sen S.K. Calculation of multiplet structure of core P-vacancy levels// Phys.Rev. B.-Vol.l0,№l.-P. 71−77.
  77. Gupta R.P., Sen S.K. Calculation of multiplet structure of core P-vacancy levels.II.//Phys.Rev. B.-Vol. 12,№ 1.-P. 15−19
  78. В.И., Кухаренко Ю. А., Раховский В. И. Оже-электронная спектроскопия твердых тел // Спектроскопия и дифракция электронов при исследовании поверхности твердых тел / В. Ф. Кулешов, Ю. А. Кухаренко, С. А. Фридрихов и др.-М.:Наука, 1985.-С. 70−161 с.
  79. А.Б. Теория конечных ферми-систем и свойства атомных ядер-М.:Наука, 1983.-432 с.
  80. В.Г. Теория форм линий в фотоэлектронных и оже-спектрах // Журн. структ. химии.—1998.-т.39,№ 6.-С.985−991.
  81. Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок-М.:Мир, 1989.-344 с.
  82. Э.С. Эффект Оже.-Ташкент:Фан, 1969.-210 с.
  83. Ritchie R.H. Plasma losses by fast electrons in thin films //Phys.Rev.-1957-V. 106,№ 5.~P.874−881.
  84. Quinn J.J., Ferrell R.A. Electron Self-Energy approach to Correlation in a Degenerate Electron Gas // Phys.Rev.-1958.-V. 112,№ 3.-P.812−827.
  85. Quinn J.J. Range of Excited Electrons in Metals // Phys.Rev.-1962-V. 126, № 4.-P. 1453−1457.
  86. C.A. Интегральная вторично-электронная спектроскопия по-верхности.-JL: Изд-во Ленинград, ун-та, 1986.-180 с.
  87. Ч. Введение в физику твердого тела.-М.:Наука, 1978.-791 с.
  88. Ю.М., Лобач А. С. О связи между энергией (ст+7с)-плазмона и удельной плотностью для твердых образцов Сбо// Физика твердого тела, — 1993.-т. 3 5, № 4.-С. 1 092−1095.
  89. Sunjic М., Sokcevic D. Bulk and surface plasmon excitation in x-ray photoemission // Solid State Comm.-1974.-V. 15,№ 2.-P. 165−168.
  90. Sunjic M., Sokcevic D. On the problem of «intrinsic» vs «extrinsic» scattering in x-ray photoemission from core levels of solid // Solid State Comm-1976-V.18,№ 3.-P.373−375.
  91. Спектр потерь энергии электронов фуллерена Сбо, сопровождающий фотоэлектронный пик С Is / Ю. М. Шульга, А. П. Моравский, А. С. Лобач, В. И. Рубцов // Письма в ЖЭТФ.-1992.-Т.55,вып.2.-С. 137−140.
  92. Duke С.В., Mahan G.D. Phonon-Broadening Impurity Spectra. I. Density of States // Phys. Rev. A.-1965.-V. 139,№ 6.-P. 1965−1982.
  93. А., Тойозава И. Теоретические вопросы спектроскопии глубоких уровней // Синхротронное излучение. Свойства и применение /К.Кодлинг, В. Гудат, Э. Кох и др.-М.:Мир, 1981.-С.211−277.
  94. И.Б. Строение и свойства координационных соединений. Введение в теорию.-Л.:Химия, 1971- 312 с.
  95. Fuggle J.C. High Resolution Auger Spectroscopy of Solids and Surfaces // Electron Spectroscopy: Theory, Techniques and Applications. Vol.4 / Ed. by C. RBrundle and A.D.Baker.-London: Academic Press, 1981-P.85−152.
  96. Doniach S., Sunjic M. Many-electron singularity in X-ray photoemission and X-ray line spectra from metals // J.Phys.C.-1970.-V.3-P.285−290.
  97. Wertheim G.K., Htifher S. Many-body Shape in X-ray Photoemission from Metals // Phys. Rev. Lett.-1975.-V.35,№l.-P.53−56.
  98. Hufner S., Wertheim G.K. Core-level asymmetries in the x-ray photoemission spectra of metals // Phys. Rev. B.-1975.-V.ll,№ 2.-P.678−683.
  99. Wertheim G.K., Buchanan D.N.E. Core-electron line shapes in x-ray photoemission spectra from semimetal and semiconductors// Phys. Rev. B-1977.-V.16,№ 6.-P.2613−2617.
  100. Pendry J.B. The application of pseudopotentials to low-energy electron diffraction. II: Calculation of the reflected intensities.// J.Phys.C.-1969.-V2,№ 12.-P.2273−2282.
  101. А.Г. Дифракция медленных электронов // Спектроскопия и дифракция электронов при исследовании поверхности твердых тел /
  102. B.Ф.Кулешов, Ю. А. Кухаренко, С. А. Фридрихов и др.-М.:Наука, 1985.-С. 162−221 с.
  103. Angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy for the characterization of GaAs (OOl) surfaces/ P. Alnot, J. Olivier, F. Wyczisk, C.S.Fadley // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.-1987.-V.43.-P, 263−286.
  104. В.И., Черепин B.T. Физические методы исследования поверхности твердых тел. М.: Наука, 1983. — 296 с.
  105. Calculation of Escape Depths from Inelastic Mean Free Paths/ H. Ebel,
  106. C.Pohn, R. Svagera et al.// J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom 1990. — Vol 50.-P. 109−116.
  107. Powell C.J. The quest for Universal Curves to Describe the Surface Sensitivity of Electron Spectroscopies // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.-1988.-Vol 47.-P. 197−214.
  108. Tougaard A. Inelastic background correction and quantitative surface analysis // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1990. Vol 52.-P. 243−271.
  109. Surface sensitivity of Auger-electron spectroscopy and X-ray photoelec-tron spectroscopy/C.J.Powell, A. Jablonski, I.S.Tilinin et al. // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1999. Vol 98−99.-P. 1−15.
  110. O.A., Нефедов В. И. Влияние упругого рассеяния фотоэлектронов на определение толщин сверхтонких поверхностных пленок // Металлофизика.-1982.-т.4, № 1.-С.61−68.
  111. О.А., Нефедов В. И. Эффективные длины свободного пробега фотоэлектронов в плоских пленках // Поверхностъ.-1982.-№ 2-С.87−93.
  112. Baschenko О .A., Nesmeev А.Е. The Effect of Elastic Photoelectron Scattering on Depth-profiling by Angular Resolvrd X-ray Photoelectron Spectroscopy // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1991. Vol 57,№ 1-P. 33−46!
  113. О.А. Учет зависимости длин свободного пробега электронов от элементного состава при восстановлении концентрационных профилей по данным РЭСУР // Поверхность.-1992.-№ 2.-С.98−105.
  114. В.И., Федорова И. С. Упругое рассеяние фотоэлектронов и аналитика в рентгеноэлектронной спектроскопии // ДАН.-1997-т.353,№ 2.-С. 207−209.
  115. Nefedov V.I., Nefedova I.S. The escape probabilities of the photoelectrons from solids//J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom-1998.-Vol 96-P. 135−140.
  116. Влияние недипольных переходов на угловое распределение фотоэлектронов при фотоионизации твердых тел/ В. И. Нефедов, В.Г.Яр-жемский, И. С. Нефедова и др. // ДАН.-1999.-т.367,№ 3.-С. 324−327.
  117. Relative effect of extra-atomic relaxation on Auger and Binding-energy shifts in transition metals and salts /S.P. Kowalczyk, L. Ley, F.R.McFeely et al.// Phys.Rev.B.-1974.-V.9,№ 2.-P.381−391.
  118. Т. Актуальные вопросы электронной оже-спектроскопии// Электронная и ионная спектроскопия твердых тел / Под. ред. Л. Фирмэнса, Дж. Вэнника, В.Декейсера.-М.: Мир, 1981.-С. 236−280.
  119. Sodhi R.N.S., Cavell R.C. KLL Auger and core level (Is and 2p) photoe-lectron shifts in a series of gaseous sulfur compounds// J. Electron Specrosc. Relat Phen.-1986.-V.41.-P. 1−24.
  120. Slater J.C. Quantum Theory of Atomic Structure.-Vol. II.-New York, McGraw-Hill, 1960.-P.286.
  121. Larkins F.P. Semiempirical Auger-electron energies for elements 10
  122. Hohlneicher G., Pulm H. On the separation of initial and final state effects in photoelectron spectroscopy using an extension of the Auger-parameter concept//J.Electron Specrosc. Relat. Phen.-1985.-V.37.-P.209−224.
  123. Wagner C.D. The Auger parameter, its utility and advantages: A review // J. Electron Specrosc. Relat. Phen.-1988.-V.47.-P.283−313.
  124. Wagner C. D, Gale L. H, Raymond R.H. Two-dimensional Chemical State Plots: A Standartized Data Set for Use in Identifying Chemical States by X-Ray Photoelectron Spectroscopy// Anal. Chem.-1979.-V.5l,№ 4.-P.466−482.
  125. Moretti G. Relationship between the Auger parameter and the energy gap // J. Electron Specrosc. Relat. Phen.-1990.-V.50.-P.289−293.
  126. Determination of effective atomic charge, extra-atomic relaxation and Madelung energy in chemical compounds on the basis of X-ray photoelectron and Auger transition energies// J. Electron Specrosc. Relat. Phen-1988-V.46.-P.381−404.
  127. Agren H. On the interpretation of molecular valence Auger spectra // J.Chem.Phys.-1981.-V.75,№ 3 .-P. 1267−1283.
  128. Approximate Calculation of Inner-Shell Binding Energies and Auger Transition Energies of Solid Silicon Compounds /C.Zwanziger, S. Petrowa, J. Reinhold et al. //Phys.Stat.Sol.-1988.-V.145.-P.603−607.
  129. Теоретическое исследование оже-спектра алмаза /В.Г.Алешин, О. П. Бугаец, Ю. Н. Кучеренко, В. В. Немошкаленко //ДАН СССР.-1986,-т.287,№ 3.-С.611−614.
  130. Lander J.J. Auger Peaks in the Energy Spectra of Secodary Electrons from Various Materials // Phys.Rev.-1953.-V.91,№ 6.-C. 1382−1387.
  131. Amelio G. F, Scheinber E.J. Auger Spectroscopy of graphite single crystals with low energy electrons // Surf.Sci.-l968.-V.l 1.-P.242−254.
  132. Amelio G.F. Band structure of silicon by characteristic Auger electron spectrum analysis // Surf.Sci.-1970.-V.22.-P.301−318.
  133. Оже-спектры LW серы, сегрегированной на поверхности 3d-металлов / Ю. Г. Абашкин, А. П. Дементьев, Т. М. Джибути, О. П. Иванова //Поверхность.-1989.-№ 11.-С.48−54.
  134. Ю.Н. Энергетическая структура оже-спектров нестехио-метрических карбидов тирана //Поверхность.-1987.-№ 7.-С. 106−109.
  135. Weifimann R. Intensity ratios of the КЬ^, KL23L23 oxygen Auger lines in different compounds //Solid State Comm.-1979.-V.31.-P.347−349.
  136. Metal Auger Intensity Ratios in Transition Metals and Their Com-pounds/S.Yashonath, P. Sen, M.S.Hegde, C.N.R.Rao //J.Chem.Soc., Faraday Trans.I.-1983.-V.79.-P. 1229−1236.
  137. Об изменении формы NKVV-оже-линии в ряду ZrN, NbN, Mo2N/ Ю. М. Шульга, В. И. Рубцов, Г. Л. Гуцев.//Поверхность.-1987.-№ 7.-С.86- 89.
  138. Feibelman P.J., McGuire E.J., Pandey K.C. Theory of valence-band Auger line shapes: Ideal Si (lll), (100), and (110)*// Phys Rev.B.-1977.-V.15,№ 12.-P.2202−2216.
  139. McGuire E.J. K-Shell Auger Transition Rates and Fluorescrnce Yields for Elements Be-Ar// Phys Rev.-1969.-V.185,№l.-P.l-6.
  140. McGuire E.J. K-Shell Auger Transition Rates and Fluorescrnce Yields for Elements Ar-Xe // Phys Rev. A.-1970.-V.2,№ 2.-P.273−278.
  141. Relationship between the Auger line shape and the electronic properties of graphite/ J.E.Houston, J.W.Rogers, Jr., R.R.Rye et al.-Phys.Rev.B.-1986-V.34,№ 2.-P. 1215−1226.
  142. Cini M. Density of states of two interacting holes in a solid// Solid State Comm.-1976.-V.20.-P.605−607.
  143. Cini M. Two hole resonances in the XVV Auger spectra of solids // Solid State Comm.-1977.-V.24.-P.681−684.
  144. Sawatzky G.A. Quasiatomic Auger Spectra in Narrow-Band Model// Phys.Rev.Lett.-1977.-V.39,№ 8.-P.504−507.
  145. Hutson F.L., Ramaker D.E. Identification of resonant excitation and shakeoff contributions to the С KW Auger line shapes of several gas phase hydrocarbons//J.Chem.Phys.-1987.-V.87,№ 12.-P.6824−6837.
  146. Kucherenko Yu.N. Influence of relaxation on the shape of the Auger spectra of metals // J. Electron Specrosc. Relat. Phen.-1990.-V.53,№l/2.-P.39−50.
  147. Electron correlation in Si studied by high-resolution KLV Auger spectroscopy // Phys.Rev. B.-1993.-V.48,№ 19.-P. 14 142−14 149.
  148. Ramaker D.E. Bonding information from Auger spectroscopy // Appl. Surf. Sci.-1985.-V.21.-P.243−267.
  149. Dunlap B.I., Hutson F.L., Ramaker D.E. Auger lineshapes of solids surfaces-Atomic, bandlike, or something else? // J.Vac.Sci.Technol.-1981-V. 18,№ 2.-P.556−560.
  150. D.E.Ramaker Chemical effects in the carbon KW Auger libe shapes // J.Vac.Sci.Technol. A.-1989.-V.7,№ 3.-P. 1614−1622.
  151. Ramaker D.E., Turner N.H., Milliken J. The Nature of Core States in Сбо as Exhibited by the Auger Line Shape //J.Phys.Chem.-1992.-V.96,№ 19.-P.7627−7632.
  152. Antonides E., Janse E.C., Sawatzky G.A. LMM Auger spectra of Cu, Zn, Ga, and Ge. I. Transition probabilities, term splittings, and effective Coulomb interaction// Phys. Rev. B.-1977.-V. 15,№ 4.-P. 1669−1679.
  153. Т.Л. Применение электронной спектроскопии в гетерогенном катализе // Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под. ред. Д. Бриггса, М.П.Сиха-М.:Мир, 1987.-С.318−401.
  154. П., Шатлуорс Д., Сих М.П. Методы учета статической заряки// Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектроной спектроскопии / Под. ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха.-М.:Мир, 1987.-С.488−496.
  155. Ebel M.F., Ebel Н. About the charging effect in X-ray photoelectron spectrometry//J.Electron Specrosc. Relat. Phen.-1974.-V.3.-P. 169−180.
  156. Anthony M.T., Seah M.P. XPS: Energy Calibration of Electron Spectrometers/ 1-An Absolute, Traceble Energy Calibration and the Provision of Atomic Reference Line Energies // Surf. Interface Anal.-1984.-V.6,№ 3-P.95−106.
  157. Anthony M.T., Seah M.P. XPS: Energy Calibration of Electron Spectrometers/ 2-Results of an Interlaboratory Comparison // Surf. Interface- Anal.-1984.-V.6,№ 3.-P. 107−115.
  158. A method for depositing well defined metal particles onto a solid sample suitable for static charge referening in X-ray photolectron spectroscopy / Th. Gross, K. Richter, H. Sonntag, W. Ugner //J.Electron Specrosc. Relat. Phen.-1989.-V.48,№½-P.7−12.
  159. Hughes A.E., Sexton B.A. Comments on the use of implanted Ar as binding energy reference//J.Elect. Specrosc.Relat.Phen.-1990.-V.50.-P.cl5-cl8.
  160. П.М. А. Шервуд. Обработка данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии // Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии /Под ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха -М.: Мир, 1987, — С.497−529.
  161. Proctor A., Sherwood P.M.A. Smoothing of Digital X-ray Photoelectron Spectra by an Extended Sliding Least-Squares Approach // Anal. Chem. -1980.-Vol.52.-P. 2315−2321.
  162. Seah M.P., Dench W.A. Smoothing and the Signal-to-Noise Ratio of Peaks in Electron Spectroscopy // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.-1989. Vol 48.-P. 43−54.
  163. Delamar M. Binomial smoothing for electron spectroscopies// J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1990. Vol 53-P. cl-c4.
  164. Маршан, Марме. Биномиальный сглаживающий фильтр (способ избежать некоторых ошибок полиномиального сглаживания по методу наименьших квадратов) // Приборы для научных исследований.-1983-№ 8 .-С. 125−133.
  165. Wertheim G.K. Deconvolution and smoothing: Applications in ESC A // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom 1975. — Vol 6-P. 239−251.
  166. Chornik В., Sopizet R., Le Gressus C. Deconvolution in Electron Spectroscopy Revisited: Computational Aspects // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1987. Vol 42.-P. 329−350.
  167. М.Б., Сахарук Т. А. Традиционный и альтернативный методы цифрового сглаживания и дифференцирования спектроскопической информации//Журн. прикл. спектроск.-1990.-т.53,№ 4.-С.645−651.
  168. Reinsch С.Н. Smoothing by spline functions // Numer. Math-1967-V.10,№ 4.-P. 177−183.
  169. B.B., Завьялов Ю. С., Павлов H.H. Экстремальные свойства сплайнов и задача сглаживания.-Новосибирск: Наука, 1988 102 с.
  170. Losev A. Smoothing by spline functions: Applications in electron spectroscopy// J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1990. Vol 53.-P.
  171. Wertheim G.K., Dicenzo S.B. Least-Squares Analysis of Photoemission Data // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom 1985. — Vol 37.-P. 57−67.
  172. Beatham N., Orchard A.F. The Application of Fourier Transform Techniques to the Problem of Deconvolution in Photoelectron Spectroscopy // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom 1976. — Vol 9.-P. 129−148.
  173. Shirley D.A. High-Resolution Photoemission Spectrum of the Valence Bands of Gold // Phys. Rev. В.- 1972. Vol. 5,№ 12. — P. 4709−4714.
  174. Proctor A., Sherwood P.M.A. Data Analysis Techniques in X-ray Photoelectron Spectroscopy // Anal. Chem.-1982.-V.54,№l.-P. 13−19.
  175. Tougaard S. Background removal in x-ray photoelectron spectroscopy: Relative importance of intrinsic and extrinsic processes // Phys.Rev.B.-1986.-V.34,№ 10.-P.6779−6783.
  176. Tougaard S. In-depth concentration profile information through analysis of the entire XPS peak shape //Appl.Surf.Sci.-1988.-V.32.-P.332−337.
  177. Tougaard S. Inelastic background correction and quantitative surface analysis //J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1990. Vol 52.-P. 243−271.
  178. Определение содержания гауссовой и лоренцовой составляющих в форме экспериментальных спектральных линий/Уэртхэйм, Батлер, Уэст, Буханан.// Приборы для научных исследований 1974 — № 11- С. 64−66.
  179. Weber Е.Н., Flamm D., Meisel A. ESCA investigation of the initial oxidation of polar GaAs surfaces//! Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1988. -Vol 47.-P. 39−51.
  180. В.И. Введение в экспериментальную спектроскопию-М.:Наука, 1979.-478 с.
  181. Применение асимметричных спектральных фунций для разложения рентгеноэлектронных спектров поверхности твердого тела/ В. Г. Яржемский, И. Я. Колотыркин, Г. И. Каплан, П. А. Ждан // Поверхность.-1990.-№ 2.-С. 141−146.
  182. Joyce J. J., Del Giudice M., Weaver J.H. Quantitative analysis of synchrotron radiation photoemission core level data//J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1989. Vol 49.-P. 31−45.
  183. Vech J. The Analytical Form of the Shirley-type Background // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom 1988. — Vol 46.-P. 411−417.
  184. Marquardt D. W. An Algorithm for Least-Squares Estimation of Nonlinear Parameters // J.Soc. Indust Appl. Math. Vol. 11, № 2 — P.431−441.
  185. Meiron J. Damped Least-Squares Method for Automatic Lens Design // J. Opt. Soc. Am.- Vol. 55, № 5, — P. 1105−1109.
  186. Дж., мл., Шнабель Р. Численные методы безусловной оптимизации и решения нелинейных уравнений- М. .Мир, 1988. 440 С.
  187. Ф., Мюррей У., Райт М. Практическая оптимизация -М.:Мир, 1985.
  188. Hughes А.Е., Sexton В.A. Curve Fitting XPS Spectra // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1988. Vol 46.-P. 31−42.
  189. А.А. Спектральная редукция при минимуме априорной информации//Журн. прикл. спектроск.-1985.-т.42,№ 2.-С.229−234.
  190. Guzhavina T.I. On the minimization functional in the data processing of EXAFS spectra by fitting and background removal // Nucl. Instr. Meth. in Phys. Res. A.-1989.-282.-P.664−666.
  191. Carley A.F., Joyner R.W. The Application of Deconvolution methods in electron Spectroscopy A Review // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom-1979.-Vol 16.-P. 1−23.
  192. Д. Статистика для физиков.-М.:Мир, 1970.-296 с.
  193. А. Дисперсия параметров, полученных при нелинейной аппро-ксимации//Приб. научн. исслед.-1991.-т.62,№ 3.-С. 161−164.
  194. Проблемы измерения интенсивности в электронной оже-спектроскопии / А. И. Загоренко, В. И. Запорожченко, С. Э. Бородянский, Ю. Г. Абашкин // Поверхность.-1991.-№ 3.-С.93−102.
  195. А.Н., Арсенин В. Я. Методы решения некорректных задач-М.:Наука, 1979.-285 с.
  196. Численные методы решения некорректных задач/ АН. Тихонов,
  197. A.В.Гончарский, В. В. Степанов, А.Г.Ягола//М.:Наука, 1990.-232 с.
  198. А.Б., Гончарский А. В. Итеративные методы решения некорректных задач.-М. .Наука, 1989.-127 с.
  199. Hansen Р.С. Regularization Tools: A Matlab package for analysis and solution of discrete ill-posed problems// Numer. Algor.-1994.-V.6.-P.l-35.
  200. Восстановление оже-спектров методом регуляризации /
  201. B.Г.Башенков, Ч. В. Копецкий, В. С. Солдатов, Ю. А. Шиянов // Поверхность.-1987.-№ 7.-С. 110−115.
  202. Gatts С., Losch W. Application of factor analysis to Auger crater-edge profiling // J. Vac.Sci.Technol. A.-1991.-V.9,№ 6.-P.2982−2985.
  203. Koenig M.F., Grant J.T. Comparison of factor analysis and curve-fitting for data analysis in XPS// J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom 1986. — Vol 41.-P. 145−156.
  204. Идентификация проводящих полимеров методом распознования образов по оже-спектрам углерода/ Б. Лесяк, А. Яблоньский, М. У. Кислюк и др.// Поверхность.-1989.-№ 11.-С.39−47. .
  205. Kwok R.W.M. XPSPEAK V.4.1 //http://sunl.phy.cuhk.edu.hk/~surface/XPSPEAK
  206. Adams D. L, Andersen J.N. FitXPS v.1.11 // ftp: Moopic.dfi.aau.dk/pub/fitxps
  207. Williams T, Kelley C. GNUPLOT v.3.7 // ftp ://ftp. dartmouth.edu/pub/gnuplot217. ftp://netlib2.cs.utk.edu
  208. Seah M. P, Brown M.T. Validation and accuracy of software for peak synthesis in XPS // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom 1998. — Vol 95,№ 1-P. 71−93.
  209. Рентгеноэлектронный спектрометр с электростатической фокусировкой / Л. Н. Мазалов, Г. Ф. Худорожко, Г. Ф. Садовский и др.// Изв. СО АН СССР, сер. хим. наук 1975.-Т.4, № 9, — С. 133−138.
  210. Исследование однородности состава и структурных характеристик пленочных структур на основе КРТ и объемных материалов: Отчет по хоздоговору № 519−068−91д АН СССР Сиб. отд-ние.Ин-т неорганической химии- Руководитель Л.Н.Мазалов-Новосибирск, 1991.-111 с.
  211. The Pecan Power System Development System. New York: Pecan Software Systems, Inc., 1987. — 320 P.
  212. Gutlich P., Link R, Trautwein A. Mossbauer Spectroscopy and Transition Metal Chem.-Berlin Heidelberg New York: Springer-Verlag, 1978.-281 P.
  213. Рентгеновские спектры молекул /Л.Н.Мазалов, В, Д. Юматов, В. В. Мурахтанов и др. -Новосибирск:Наука, 1977.-331 с.
  214. Рентгеновская оптика (Труды ФИАН. Т. 196).-М. .Наука, 1989 182 С.
  215. А. Оптика мягкого рентгеновского излучения М.: Мир, 1989,-352 С.
  216. Рентгеновская оптика и микроскопия / Под ред, Г. Шмаля, Д.Рудольфа.- М.:Мир, 1987 464 С
  217. Nordgren J., Wassdahl N. Current Status and Future Prospects for UltraSoft X-Ray Emission Spectroscopy//Phys. Scr.-1990.- Vol. T31- P. 103−111.
  218. Barbee T.W., Jr., Rife J.C., Hunter W.R., Cruddace R.G., Pianetta P. Multilayer diffraction gratings: application to synchrotron radiation instrumentation// Opt. Eng. 1990. — Vol.29, № 7, — P.738−744.
  219. Barbee T.W., Jr. Advances in Multilayer X-Ray/EUV optics: synthesis, performance, andinstrumentation//Opt. Eng-1990- Vol.29, № 7 -P.711−720
  220. Neviere. Multilayer coated gratings for X-Ray Diffraction: differential theory // J. Opt. Soc. Am. A.-1991- Vol.8 № 9, — P. 1468−1473.
  221. В.Д. Ультрамягкая рентгеновская спектроскопия и электронное строения ряда простых молекул, органических и комплексных соединений: Автореф. дисс. д-ра хим. наук: 02.00.04 / РАН Сиб. отд-ние. Ин-т неорганической химии, — Новосибирск, 1995, — 74 с.
  222. Krause М.О. The MC X Rays of Y to Rh in Photoelectron Spectrometry // Chem. Phys. Lett. 1971,-Vol. 10, № 1.-P. 65−69.
  223. Krause M.O. Photoelectron Spectrometry: A new approach to X-ray analysis // Adv. X-ray Analysis. 1972-Vol. 16 — P. 74−89.
  224. Krause M.O. Photoelectrons: Counter Parts of Roentgen Rays // Phys Fenn.- 1974-Vol. 9, №S1.-P.261−263.
  225. M.O. Ferreira J.G. К X-Ray Emission spectra of Mg and A1 // J.Phys. В: At. Mol. Phys. 1975 .-Vol. 8, № 12,-P. 2007−2014.
  226. MacDowell A.A., Hillier I.H., West J.B. // A Soft X-Ray Fluorescence Spectrometer for Studies of Molecular Electronic Structure. Daresbury, 1982. — 19 P.-(Preprint Daresbury Laboratory- DL/SCI/P 344E).
  227. MacDowell A.A., Hillier I.H., West J.B. // J.Phys. E: Sci.Instrum.- 1983,-Vol. 16, — P. 487−491.
  228. Krause M.O., Wuilleumier F., Nestor C.W., Interpretation of the L X-Ray Emission Spectrum of Zr.// Phys. Rev. A. 1972, — Vol. 6, № 3.- P. 871−879.
  229. Benka 0. A Cylindrical Mirror Photoelectron Spectrometer with PositionSensitive Detector used for X-Ray Analysis // Nucl. Instrum. Methods.- 1982, — Vol. 203, — P.547−550.
  230. Benka 0. Fluorine Ka-X-Ray Spectra Measuresd by means of a PAX-X-Ray Spectrometer// Intern. Conference on X-Ray and Inner-Shell Processes in Atoms, Molecules and Solids, Abstracts, Part 1. Leipzig, 1984.-P.45−46.
  231. Gupta R.P., Brown J.R. X-Ray Spectroscopy with an ESC A Spectrometer// Chem. Phys. Lett.- 1985, — Vol 116,№ 4, — P.353−356.
  232. Holton I.R., Weightman P., Andrews P.T. Quasi-atomic satellites in the L3-M4−5 X-Ray Spectra of Ni, Cu and Zn.
  233. Weightman P., Davies M., Andrews P.T. Cu L2,3 M^ X-ray Spectra of CuioPd9o // Phys. Rev В.- 1984,-Vol. 30, № 10, — P.5586−5590.
  234. Л.А., Мстибовская Л. Е., Ромащенко Ю. Н. Атлас рентгеновских спектров.-Л.: НПО «Буревестник», 1981.
  235. В.А. Ультрамягкая рентгеновская спектроскопия и ее применение к изучению энергетической структуры твердого тела: Автореф. дисс. .д-ра физ.-мат.наук:/ ЛГУ Ленинград, 1975 — 46 с.
  236. Koster A.S. Influence of the chemical bonds on the K-emission spectrum of oxygen and fluorine // J. Phys. Chem. Solids. Phys-1971. -Vol.32,№ 12-P. 2686−2692.
  237. Beardin J.A. X-ray wavelenths // Rev.Mod.Phys.-V.39,№l.-P.78−124.
  238. Рентгеновские спектры ряда образцов нитрида бора/ И. П. Асанов, В. Д. Юматов, О. Л. Щека и др.-Новосибирск, 1988- 30 с. (Препринт АН СССР. Сиб. отд-ние. Ин-т неорганической химии- № 88−6).
  239. А.с. 1 224 687, 4G 01 11 23/20. Ультрадлинноволновой рентгеновский спектрометр / Л. Н. Мазалов, В. Д. Юматов, А. В. Окотруб, Г. С. Беликова (СССР). — № 3 764 439. -Б.И.- 1986, № 14, — С. 104.
  240. .Н. Структура и свойства пиронитрида бора // Химическое газофазное осаждение тугоплавких неорганических материалов. Л.: ГИПХ, 1976.-С.66−101.
  241. Arefiev K.P., Lopatin V.V., Surov Yu.P. Macrodefects of pyrolytic boron nitride // Phys.Stat.Sol (a).-1986- Vol.98, № 1.-P.K27-K32.
  242. С. Послойный анализ //Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха. М.: Мир, 1987. — С. 160−202 с. '
  243. Распыление твердых тел ионной бомбардировкой. Вып2. Распыление сплавов и соединений, распьшение под дей ствием электронов и нейтронов, рельеф повнрхности / Р Бериш, Г. Бетц, Г. Венер и др. -М.:Мир, 1986.- 488 с.
  244. Fadley C.S., Baird R.J., Siekhaus W., Novakov T., Bergstrom S.A.L. Surface Analysis and Angular Distribution in X-Ray Photoelectron Spectroscopy // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1974. Vol 4.-P. 93−137.
  245. Seah M.P., Anthony M.T. Quantitative XPS: The Calibration of Spectrometer Intensity Energy Response Functions. 1 — The Establishment of Reference Procedures and Instrument // Surf. Interface Anal. — 1984. — Vol. 6, № 5,-P. 230−254.
  246. Flament 0., Druet E. Calibration of VG ESCALAB Mkll Spectrometer for XPS Quantitative Analysis // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1990. -Vol 53.-P. 141−152.
  247. Seah M.P., Anthony M.T. Quantitative XPS: The Calibration of Spectrometer Intensity Energy Response Functions. 1 — The Establishment of Reference Procedures and Instrument // Surf. Interface Anal. — 1984. — Vol. 6, № 5, — P. 230−254.
  248. Grant M.T. Methods for Quantitative Analysis in XPS // Surf. Interface Anal. 1989. — Vol. 14, — P. 271- 283.
  249. Сих М. П. Количественная оже-электронная и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия //Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха. М.: Мир, 1987. — С.203−243 с.
  250. А.Д. Анализ поверхностных пленок с помощью метода рентгеноэлектронной спектроскопии для плоских и хаотических поверхностей // Поверхность.-1995.-№ 10.-С.21−34.
  251. On the Energy Dependence of Attenuation Lengths in Hydrocarbon Contamination./ M.F.Ebel, H.Ebel., C. Puchberger, R. Svagera// J. Electron Spec-trosc. Relat Phenom.-1991.-Vol 57-P. 357−372.
  252. Т., Нефедов В. И. Рентгеноэлектронный анализ поверхности с учетом слоя загрязнений// Поверхность.-1989.-№ 10.-С.58−64.
  253. В.А., Шабанова И. Н. Рентгеноэлектронная спектроскопия сверхтонких поверхностных слоев конденсированных систем. М.: Наука, 1988. — 200 с.
  254. Л.С., Ломаева С. Ф., Шабанова И. Н. Анализ оксидных слоев ультрадисперсных порошков металлов методом рентгеноэлектронной спектроскопии// Поверхность.-1993.-№ 11.-С.94−99.
  255. Х.М., Антошин Г. В., Шпиро Е. С. Фотоэлектронная спектроскопия и ее применение в катализе. М.: Наука, 1981. — 213 с.
  256. Определение толщины сверхтонких покрытий рентгеноэлектронным методом с учетом упругого рассеяния фотоэлектронов/В.И.Нефедов, И. С. Нефедова, И. Улиг и др.//Поверхность.-1998.-т.34,№ 11.-С. 1295−1299.
  257. Pijolat M., Hollinger G., New Depth Profiling Method by Angular Dependent X-ray Photoelectron Spectroscopy//Surf. Sci.-l 981 .-V. 105 .-P. 114−128.
  258. Bussing T.D., Holloway P.H. Deconvolution of Concentration Depth Profiles from Angle Resolved X-ray Photoelectron Spectroscopy Data // J.Vac.Sci.Technol.A.-1985.-Vol3,№ 5.-P.1973−1981.
  259. McCaslin P.C., Young V. Numerical Approaches to Non-Destructive Depth Profiling by Variable Angle X-ray Photoelectron Spectroscopy // Scanning Microscopy.-1987.-Vol. 1,№ 4.-P. 1545−1556.
  260. A Comparison of two XPS methods for Quantification of Concentration Profiles/H.Ebel, M.F.Ebel, R. Svagera et al// J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1991. Vol. 57-P. 15−32.
  261. O.A., Нефедов В. И. Неразрушающий метод восстановления профилей концентраций элементов в поверхностных слоях твердых тел по рентгеноэлектронным спектрам // Поверхность.-1987.-№ 7.-С.75−85.
  262. O.A., Нефедов В. И. Правильность восстановления двухком-понентных концентрационных профилей в поверхностном слое по данным РЭС с угловым разрешением // Поверхность.-1987.-№ 10.-С.99−106.
  263. Nefedov V.l., Baschenko O.A. Relative Intensities in ESCA- and Quantitative Depth Profiling//J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom- 1988. Vol 47-P. 1−25.
  264. O.A., Нефедов В. И. Распределение элементов по глубине в поверхностных слоях твердых тел по данным рентгеноэлектронной спектроскопии с угловым разрешением//Поверхность.-1991.-№ 8.-С.51−64.
  265. O.A., Бухтияров В. И., Воронин А. И. Применение метода РФЭСУР в сочетании с численным восстановлением концентрационных профилей к системам адсорбат-металл//Поверхность-1992.-№ 3.-С.36−45
  266. Ю.Г., Бородянский С. Э., Васильев JI.A., Дементьев А. П. Определение профилей концентрации элементов по глубине с использованием данных угловой РЭС// Поверхность.-1989.-№ 10.-С.71−77.
  267. Г. Ю., Постернак В. В. Восстановление профиля концентрации элементов в приповерхностных слоях по данным РФЭС с угловым разрешением // Поверхность.-1991.-№ 8.-С. 157−159.
  268. Г. Ю. Восстановление профиля концентрации элементов в приповерхностных слоях методом регуляризации // Поверхность-1993.-№ 10.-С.42−47.
  269. .А., Миленин В. В., Гаркун О. Ю. Структура и химический состав поверхности эпитаксиалъных пленок, подвергнутой различным обработкам//Укр. физ. журн.-1987.-т.32,№ 8.-С. 1249−1254.
  270. Electron mean free path in CdTe: 350−1450 eV/ J. Szajman, R.C.G.Leckey, J. Liesegang, J.G.Jenkin // J. Electron Spectrosc. Relat. Phe-nom.- 1980. Vol 20.-P. 323−326.
  271. Brown S.D. Chemometrics//Anal.Chem.-1990.-Vol.62,№ 12.-P.84−101R.
  272. B.R., Schatski T.F., Stress F.H. //Anal. Chem.- 1972-Vol.44.,№ 13.-P.2176−2180.
  273. Hobert H., Meyer K. Infrared spectroscopic analysis of complex mixtures by classification and regression Characterization of urinary calculi. // Fre-senius Z. Anal. Chem.- 1992. — V. 344.-P. 178−185.
  274. Scsibarny H., Varmuza K. Common substructures in groups of compounds exhibiting similar mass spectra // Fresenius Z. Anal. Chem 1992. -V. 344.-P.220−222.
  275. Gatts C., Losch W. Application of factor analysis to Auger crater-edge profiling. // J.Vac. Sci.Technol. A.-1991.-Vol.9,№ 6.-P.2982−2985.
  276. JI.H., Трейгер Б. А. Эффекты химической связи в рентгенос-пектральном анализе // ЖСХ.-1983.-Т.24.-С. 128−155.
  277. Process analytical chemistry /R.R.Beebe, W.W.Blaser, RA. Bredeweg et al. //Anal. Chem.- 1993.-Vol. 65,№ 12.-P.208R-216R.
  278. Lavine B.K. Chemometrics. // Anal.Chem.-1998.-VoI.70.-P.209R-228R.
  279. Метод исследования фазового состава поверхности по данным оже-спектроскопии с использованием кластерного анализа и метода главных компонент / Л. Н. Шкода, И. П. Асанов, В. О. Хандрос й др. //Поверхность.-1997.-№ 11.-С.49−56.
  280. .А., Мазалов Л. Н., Диков Ю. П. Использование методов хемометрики в рентгеновской спектроскопии.-Новосибирск, 1989. -62с.-(Препринт АН СССР. Сиб. отд-ние. Ин-т нерган. химии- № 89−18.
  281. X-ray spectral microanalysis of the phase composition of HTSC Bi-Pb-Sr-Ca-Cu-0 ceramics on the base of chemometric approaches / I.I.Bondarenko, B.A.Treyger, V.V.Rezvitskii, L.N.Mazalov // Analyst.-1992 -V.117,№ 4.~ P.795−802.
  282. Determination of the phase homogeneity of samples of Bi-Pb-Sr-Ca-Cu-0 ceramics by clusterization of electron probe microanalysis data/ I.I.Bondarenko, V.V.Rezvitskii, B.A.Treyger et al. // J. Less-Common Metals.- 1990,-Vol. 164& 165 .-P.620−627.
  283. И.И. Рентгеноспектральный фазовый микроанализ ВТСП-материалов с использованием методов хемометрики: Автореф. дисс. канд.физ.-мат. наук: 02.00.02 / Московский ин-т тонкой химической технологии им. М.В. Ломоносова-Москва, 1992.-18 с.
  284. Payling R. Semi-empirical elemental sensitivities for quantitative Auger electron spectroscopic analysis// J. Electron Specrosc.Relat. Phenom-1985-Vol.37.№ 3.-P.225−239.
  285. M.C., Блэпгфилд P.K. Кластерный анализ. В кн.: Факторный, дискриминантный и кластерный анализ. / Под ред. Дж.О.Ким, Ч. У. Мюллер.-М.: Финансы и статистика, 1989. С.139−215.
  286. Н.Г. Методы распознавания и их применение,-М :Сов.Радио, 1972.-208 с.
  287. Н.Г., Елкина В. Г., Лбов Г. С. Алгоритмы обнаружения эмпирических закономерностей, — Новосибирск.Наука, 1985.-108 с.
  288. Пакет прикладных программ ОТЭКС (для анализа данных)/ Н. Г. Загоруйко, В. Г. Елкина, С. В. Емельянов, Г. С. Лбов .- М.:Финансы и статистика, 1986 -160 с.
  289. A.M. Обработка статистических данных методом главных компонент.-М.:Статистика, 1978.-135 с.
  290. Алгоритмы и программы восстановления зависимостей /Под ред. В.Н.Вапника- М.: Наука, 1984, — 816 с.
  291. Ю.Д.Варламов, М. Р. Предтеченский, А. И. Рыков, А. В. Турбин //Письма в ЖТФ, — 1988.-Т.14.-С.2066−2068.
  292. Oscillations of composition near the external surface of Y-Ba-Cu-0 thin films/ O.M.Bakunin, S.M.Klosman, S.A.Matveev, K.A.Stepanov// Appl.Phys. Lett.- 1989.-Vol.55,№l P. 78−80.
  293. XPS study of high-Tc superconductor surface degradation/ V.l.Nefedov, A.N.Sokolov, M.A.Tyzykhov et al.// J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.-1989.-Vol.49,№l P.47−60.
  294. X. Исследование электронной структуры адсорбатов методами ионно-нейтрализационной и фотоэлектронной спектроскопии / Под. ред. Л. Фирмэнса, Дж. Вэнника, В.Декейсера.-М.: Мир, 1981.-С. 281−344.
  295. Hagstrum H.D. Ion-Neutralization Spectroscopy of Solids and Solid Surfaces// Phys. Rev.-1966.-Vol. 150,№ 2.-P.495−515.
  296. Smith M.A., Levenson L.L. Valence-band information from the Auger KW spectrum of graphite.//Phys. Rev. B.-1977.-Vol.l6,№ 6.-P.2973−2977.
  297. Obtaining density of states information from self-deconvolution of Auger band-type spectra/ J.A.Tagle, V. Martinez-Saez, J.M.Rojo, M. Salmeron // Surf. Sci.-1978.-Vol.79.-P.77−93.
  298. Szabo P, Russell G.J. The natural procedure for the auto-deconvolution of CVV-type Auger peaks // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom- 1984. -Vol.33.-P. 115−121.
  299. Тихонов A. H, Леонов A.C., Ягола А. Г. Нелинейные некорректные задачи- М.: Наука, Физматлит, 1995 312 с.
  300. Рентгеноспектральное и квантово-химическое исследоваание электронной структуры поли (монофторуглерода) /Л.Г.Булушева, А. В. Окотруб, В. Н. Митькин и др. // ЖСХ.-1995.-т.36,№ 4.-С.630−635.
  301. Bulusheva L. G, Okotrub A.V. Nature of chemical bonding in the fluorinated carbon compounds//Rev. Inorg. Chem.-1999.-Vol. 19,№ 1−2 -P.79−115.
  302. Okotrub A. V, Bulusheva L. G, Tomanek D. X-ray spectroscopic and quantum-chemical study of carbon tubes produced in arc-discharge// Chem.Phys.Lett.-1998.-Vol.289.-P.341−349. .
  303. Electronic structure of carbon nanotubes / L.G.Bulusheva, A.V.Okotrub, D.A.Romanov, D. Tomanek // Phys. Low-Dim. Struct.-1998.-Vol.¾-P. 107−134.
  304. Bulusheva L. G, Kasyanov S. L, Okotrub A. V, Electronic Structure of Graphite Fluorides: Band Model and Cluster Calculations // Phys. Low-Dim. Struct.-1998.-Vol. 11/12.-P. 189−202.
  305. Bulusheva L. G, Bulusheva L. G, Gusel’iiikov A.V. X-ray spectroscopic study of carbon nanomaterials// Abstr.3rd German-Russian Symp. on electron and x-ray spectroscopy.-Yekaterinburg, 1999.-P.63
  306. Baker W. A, Bobonich H.M. Magnetic Properties of some high-spin complexes of iron (II) // Inorg. Chem. -1964,-Vol. 3,№ 8.-P.1184−1188.
  307. Исследование изменений пространственного и электронного строения комплексов железа (II) с триазолами при спиновом переходе методом EXAFS спектроскопии /Н.В.Бауск, С. Б. Эренбург, Л. Г. Лавренова, Л.Н.Мазалов// ЖСХ.-1995.-т.36, № 6,-С. 1012−1019.
  308. Konig Е, Ritter G, Kulshreshtha SM Chem. Rev. 1985.-Vol.85,-P. 219−234.
  309. Asanov I.P., Bulusheva L.G., Bulusheva L.G. Study of DOS in Graphite Monofluoride with X-ray Excited Auger Spectra// Abstr.3rd German-Russian Symp. on electron and x-ray spectroscopy.-Yekaterinburg, 1999.-P.14
  310. Gutlich P., Hauser A., Spiering H.// Angew. Chem.-1994.-Vol.33,№ 20,-P.2024−2053.
  311. B.B., Габдрахманов M.H., Соболев C.C. Влияние размера частиц и свойств кристалла на спиновые переходы координационных соединений // Химич. физика.— 1986.— т. 5, № 9.— С. 1216−1224.
  312. Goodwin H.A. Spin transitions in six-coordinate iron (II) complexes // Coord. Chem. Rev. -1976.-Vol.l8.-P.293−325.
  313. Burger K., Furlani C., Mattogno G., XPS Structural Characterization of Spin-State Crossover in Fen (NCS)2(ophen)2 //J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1980. Vol.21.-P. 249−256.
  314. Burger K., Ebel H., XPS (ESCA) Characterization of spin-State Crossover in an Iron (II) Mixed Complex // Inorg. Chim Acta, 1981.-Vol.83, — P. L105-L107.
  315. Высокотемпературный спиновый переход в координационных соединениях железа (П) с триазолами /Л.Г.Лавренова, В. Н. Икорский,
  316. B.А.Варнек и др.// Координац. химия.-1986.-т.12, № 2.-С. 207−215.
  317. Спиновый переход в координационных соединениях железа (П) с триазолами /Л.Г.Лавренова, В. Н. Икорский, В. А. Варнек и др. // Координац. химия.-1990.-т. 16, № 5.-С. 654−661.
  318. В.А., Лавренова Л. Г. Исследование методом мессбауэровской спектроскопии комплексов FexZnix (4-амино-1,2,4-триазол)3(ЫОз)2, обладающих спиновым переходом 1А 5Г2// ЖСХ.-1994.-т.35,№ 61. C.103−112.
  319. Исследование электронного и пространственного строения комплексов нитрата и перхлората трис (4-амино-1,2,4-триазол)железа (И) со спиновым переходом /Н.В.Бауск, С. Б. Эренбург, Л. Н. Мазалов и др.//ЖСХ-1994.-t.35, № 4.-С. 96−104.
  320. Relation between electronic and spatial structure and spin-transition parameters in chain-like Fe (II) compounds /S.B.Erenburg," N.V.Bausk, L.G.Lavrenova et al.// Solid State Ionics-1997.-Vol.l01.-P.571−577.
  321. Mazalov L.N., Asanov I.P., Varnek V.A. Study of electronic structure of spin-transition complexes by XPS and Mossbauer spectroscopy //J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1998. Vol.96.-P. 209−214.
  322. С. Метод молекулярных орбиталей.-М.:Мир, 1983−461 с.
  323. Watanabe N., Nakajima Т., Touhara H. Graphite Fluorides. Studies in inorganic Chemistry/ Vol.8 -Elsevier: Amsterdam, 1988.-263 p.
  324. Fluorine-carbon and fluoride-carbon materials. Chemistry, physics and applications / Ed. by T.Nakajima.-New York: Marcel Dekker, Inc., 1995.-403 p.
  325. Nakajima Т., Watanabe N. Graphite fluorides and carbon-fluorine com-pounds.-Boca Raton: CRC Press, 1991.
  326. Н.Ф., Чернявский Л. И. Модель строения интеркалированных соединений на основе фторида графита// ЖСХ.-1987.-т.28,№ 4.-С.86−95.
  327. Изучение строения интеркалированных соединений фторида графита С2Рх/Н.Ф.Юданов, Л. И. Чернявский, В. И. Лисойван, И. И. Яковлев // ЖСХ.-1988.~т.29,№ 3.-С.78−83.
  328. Исследование соединений фторированного графита методом РЭС/ И. П. Асанов, В. М. Паасонен, Л. Г. Булушева, А. В. Окотруб.-Тез. докл. 2 Нац. конф по применению рентг, синхротрон, излучений, нейтронов и электронов для исслед. матер.-Москва, 1999.-С.345.
  329. Ориентация и геометрическое строение молекул в матрице фторида графита/ Н. В. Бауск, С. Б. Эренбург, Н. Ф. Юданов, Л. Н. Мазалов // ЖСХ-1996.-т.37,№ 6.-С. 1082−1088.
  330. Определение ориентации молекул BrF3 и FeBr3 в матрице фторида графита с использованием поляризационных зависимостей EXAFS и XANES/ Н. В. Бауск, С. Б. Эренбург, Н. Ф. Юданов, Л. Н. Мазалов //ЖСХ,-1995 ,-т.36,№ 6.-С. 1020−1029.
  331. Интеркалированные соединения фторированного графита с азотной кислотой/А.М.Даниленко, А. С. Назаров, А. Н. Михеев, И. И. Яковлев //ЖНХ.-1989.-т.34,вып.5.-С. 1133−1137.
  332. Интеркалирование оксида серы (1У) во фторированный графит /
  333. B.М.Паасонен, А. С. Назаров, В. М. Гранкин, И. И. Яковлев //ЖНХ. -1990. т.35,№ 9. — С. 2205−2209.
  334. В.М., Назаров A.C., Татарчук В. В. Слоистые сорбенты на основе фторированного графита по принципу «хозяин-гость» // ДАН-1999.-т.367,№ 3.-С.356−358.
  335. Интеркалирование парамагнитных соединений во фторид графита состава C2FX. Н. Ф. Юданов, Е. Г. Богуславский, И. И. Яковлев, С.П.Габуда// Изв. АН СССР.Сер. хим.-1988.-№ 2.-С.272−276.
  336. Рентгеноспектральное и рентгеноэлектронное исследование диокида серы, интеркалированного во фторированный графит/ В. М. Паасонен, С. Б. Эренбург, А. С. Назаров и др. // ЖСХ.-1998.-т.39,№ 2.-С.350−353.
  337. Разупорядоченность и межмолекулярное взаимодействие в интерка-лированных соединениях фторграфита с ВгР3/А.М.Панич, А. М. Даниленко, А. С. Назаров и др. //ЖСХ.-1988.-т.29,№ 2.-С.55−61.
  338. Asanov I.P., Paasonen V.M. Study of fluorinated graphite intercalation compounds by XPS // Abstr. 3rd АРАМ seminar.-Novosibirsk, 1999.-P. 13
  339. Фторирование интеркалированных соединений графита /А.М.Даниленко, А. С. Назаров, И. И. Яковлев, В. П. Фадеева // Неорган. матер.-1990.-т.26,№ 4.-С. 755−759.
  340. Г. Ф., Асанов И. П., Мазалов J1.H. Профиль концентрации основных элементов в приповерхностном слое (100 А) подложки CdTe// Тез. докл. конф. по электронным матер.-Новосибирск, 1992.-С.268−269.
  341. Graphite fluorides: an XPS study of a new type of C-F bonding /I.Palchan, M. Crespin, H. Estrade-Szwarckopf, B. Rousseau // Chem. Phys. Lett.-1989-Vol.l57,№ 4.-P.321−327.
  342. Исследование интеркалированных соединений на основе фторированного графита методом РЭС. / И. П. Асанов, В. М. Паасонен, Л. Н. Мазалов, А. С. Назаров //ЖСХ.-т.39,№б.-С. 1127−1133.
  343. Н.Н., Дьячков П. Н., Ипполитов Е. Г., Изучение строения ковалентных соединений, образующихся при фторировании графита, методом молекулярной механики //ДАН.-1992.-т.324,№ 4.-С. 751−756.
  344. Okino F., Touhara Н. Graphite and Fullerene Intercalation Compounds // Comprehensive Supramolecular Chemistry. Vol.7.-P.25−76.
  345. Ю.И., Горностаев Л. Л. Исследование фзаимодействия графита с жидким трифторида брома // Изв. СО АН СССР. Сер. хим. наук, — 1979.-№ 9,вып.4.-С.55−59.
  346. В.М., Назаров А. С., Гранкин В. М. // ЖСХ.-1998.-т.43,-С. 1452−1456.
  347. Physical properties of graphite-nitrate residue compound/ M. Inagaku, J.C.Roullion, G. Ftig, P. Delhaes // Carbon.-1977.-Vol.15.-P. 181−185.
  348. HennigG.R.//Progr. Inorg. Chem.- 1959.-1.-P.125.
  349. Электронная структура фторорганическнх соединений /Г.Г.Фурин,
  350. A.В.Зибарев, Л. Н. Мазалов, В. Д. Юматов. Новосибирск: Наука, 1 988 264 с.
  351. Рентгеноэлектронные исследования окислов некоторых элементов /
  352. B.И.Нефедов, Д. Гати, Б. Ф. Джуринский и др.//ЖНХ.-1975.-т.20,№ 91. C.2307−2314.
  353. Рентгеновские спектры и структура Cgc^/A.В.Окотруб, Л.Г.Булу-шева, Н. Ф. Юданов, И. П. Асанов //ЖНХ.-1998.-т.43,№ 1.-С. 129−137.
  354. Bakke А.А., Chen H.-W., Jolly W.L. A Table of absolute core-electron binding -energies for gaseous atoms and molecules// J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1980. — Vol.20. — P. 333−366.
  355. К.Д. Сводка данных по энергиям оже-электронов, фотоэлектронов и оже-параметрам // Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии /Под ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха М.: Мир, 1987. — С.530−562.
  356. Furin G.G.// New Fluorinating Agents in Organic Synthesis/ Ed. by L. German, S.Zemskov.-Berlin.Springer-Verlag, 1989.-p.34−68.
  357. Umemoto T., Tomita KM Tetrahedron Lett 1986.-Vol.27 — P. 3271.
  358. B.M., Гранкин B.M., Назаров A .C.II Неорганические материалы- 1999.-T.35.-C. 179.
  359. Kamarchik P., Margrove J.L.// Acc. Chem. Res.- 1978,-Vol. 11.-P.296.
  360. Г. С. Физика измельчения. M.: Наука, 1972.-307 с.
  361. Е.Г. Механохимические методы активации химических процессов,— Новосибирск.:Наука, 1986 304 с.
  362. Г. Трибохимия. М.: Мир, 1987 — 584 с.
  363. Е.Г. // Химия в интересах устойчивого развития.-. 1994-Т.2.-С. 541.
  364. Awakumov E.G., E.T.Devyatkina, N.V.Kosova // J. Solid State Chem.-1994.-Vol.ll3,№ 2.-P.379
  365. Senna M.//Solid State Ionics.-1993.-Vol.63−65.-P.3.
  366. Косова H. B, Девяткина E. T, Аввакумов Е. Г. Поверхностные основные и кислотные центры и механохимические реакции в смесях гидра-тированных оксидов // ДАН.-1996.-т.347,№ 4.-С.489−492.
  367. Awakumov E.G., Kosova N.V. Fast propagating solid-state mechano-chemical reactions //Сиб.хим.журнал.-1991.-вьт.5.-С.62−66.
  368. Механохимические реакции гидратированных оксидов: некоторые аспекты механизма / Н. В. Косова, Е. Т. Девяткина, Е. Г. Аввакумов и др. //Химия в интересах устойчивого развития.-. 1998.-t.6-C. 125−130.
  369. Механохимическое взаимодействие природных цеолитов с фосфатами кальция / Т. С. Юсупов, Л. Г. Шумская, И. П. Асанов, В.В.Болдырев// ДАН.-1999.-т.364,№ 4.-С.508−511.
  370. Druska Р, Steinike U, Sepelak V. Surface Structure of Mechanically Activated and of Mechanosynthesized Zinc Ferrite // J. Solid State Chem-1999,-Vol. 146, № 1.-P.13−21.
  371. The spinel phase of LiMn2C>4 as a cathode in secondary lithium cells / J.M.Tarascon, E. Wang, F.K.Shokoohi // J. Electrochem. Soc- 1991-Vol. 138, № 10.-P. '2859−2864.
  372. Spinel electrodes from the Li-Mn-0 system for rechargeable lithium battery applications /M.M.Thackeray, A. de Kock, M.H.Rossouw et al.//J.Electrochem.Soc 1992,-Vol. 139,№ 2.-P.363−366.
  373. B.C., Кедринский И. В., Махонина Е. В. Принципы подбора катодных материалов для циклируемых литтиевых батарей// Неорганические материалы-1997.- т. ЗЗ,№ 9.-С. 1031−1040.
  374. Перенос спиновой плотности через границу раздела фаз в продуктах механической активации /Н.В.Косова, С. Г. Козлова, ' С. П. Габуда, Е. Г. Аввакумов //ДАН.-1998.-т.362,№ 4.-С.493−496.
  375. Механическая и водная активация реакции взаимодействия диоксида марганца с гидроксидом лития /Г.П.Ерейская, О. Н. Ходарев, В. И. Езикян, В.Г.Калайда// Неорг. матер.-1996, — т.32,№ 9, — С. 1127−1130.
  376. Магнитные свойства двойного оксида LiMn02 /Д.Г.Келлерман, В. С. Горшков, В. Г. Зубков и др.// ЖНХ.-1997-т. 42,№ 6.-С. 1012−1017.
  377. Electronic structure systematics of 3d transition metal oxides/ R. Zimmermaim, P. Steinert, R. Claessen et al. //J.Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998. — Vol.96,№ 1−3. — P. 179−186.
  378. Thackeray M.M., de Kock A., DavidW.I.F. Synthesis and structural characterization of defect spinels in the lithium-manganese-oxide system // Mat.Res.Bull, — 1993.-Vol.28,№ 10.-P. 1041−1049.
  379. X-ray absorption studies in spinel-type LiMn204/R.S.Liu, L.Y.Jang, J.M.Chen et al. // J. Solid State Chem.- 1997.-Vol.128, — P.326−329.
  380. State of manganese atoms during the mechanochemical synthesis of LiMn204 /N.V.Kosova, I.P.Asanov, E.T.Devyatkina, E.G.Awakumov// J. Solid State Chem.-1999.-Vol.146.-P. 184−188.
Заполнить форму текущей работой

Заказал и сдал!