Дипломы, курсовые, рефераты, контрольные...
Срочная помощь в учёбе

Неравновесная проводимость полупроводников и структур металл — полупроводник — металл

ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Н + Н —" Н2 на поверхности металлической пленки, нанесенной на полупроводникобнаружение и изучение эффекта хемоэмиссии электронов из металла в полупроводниквыяснение влияния окисной пленки на поверхности полупроводника на процесс прохождения возбужденных электронов через границу между металлом и полупроводникомизучение влияния температуры на процесс проникновения горячих электронов, возникших… Читать ещё >

Содержание

  • ГЛАВА 1. ЯВЛЕНИЯ И ПРОЦЕССЫ НА ГРАНИЦЕ ПОЛУПРОВОДНИКОВ И АКТИВНЫХ ГАЗОВ
    • 1. 1. Структура поверхности полупроводников
    • 1. 2. Поверхностные электронные состояния
    • 1. 3. Адсорбция и десорбция газа на полупроводниках
    • 1. 4. Гетерогенная рекомбинация атомов
    • 1. 5. Методы получения тонких полупроводниковых пленок
    • 1. 6. Методы исследования процессов на границе твердых тел и активных газов
    • 1. 7. Хемоэмиссия электронов с поверхности твердых тел в газовую среду. 38 1.811еравновесная хемопроводимость полупроводников
    • 1. 9. Проводимость в неупорядоченных системах
    • 1. 10. Горячие электроны в металлах и полупроводниках
    • 1. 11. Постановка задачи
  • ГЛАВА 2. МЕТОДЫ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ
    • 2. 1. Экспериментальная установка
    • 2. 2. Получение структур металл-полупроводник-металл
    • 2. 3. Получение тонких пленок
    • 2. 4. Методика эксперимента
  • ГЛАВА 3. ЯВЛЕНИЕ ХЕМОЭМИССИИ ЭЛЕКТРОНОВ ИЗ
  • МЕТАЛЛА В ПОЛУПРОВОДНИК
    • 3. 1. Эффект влияния электронного возбуждения металлической пленки в ходе гетерогенной химической реакции на сопротивление структуры металл-полупроводник-металл
      • 3. 1. 1. Экспериментальные результаты
      • 3. 1. 2. Обсуждение результатов
    • 3. 2. Эффект преобразования энергии, выделяющейся на поверхности структуры металл-полупроводник-металл при протекании гетерогенной реакции, в энергию электрического тока
    • 3. 3. Влияние окисной пленки на поверхности полупроводника на эмиссию электронов из металла в полупроводник
    • 3. 4. Получение тонких пленок германия и их структура
    • 3. 5. Неравновесная хемопроводимость тонких пленок германия

Неравновесная проводимость полупроводников и структур металл — полупроводник — металл (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Актуальность проблемы. Последние достижения современной микроэлектроники основываются на результатах исследований физики твердого тела. Разнообразные процессы, протекающие на поверхности твердых тел, находятся в сфере внимания таких областей науки, как физика полупроводников, физика плазмы, оптика, физическая электроника, космические исследования, химия твердого тела, гетерогенный катализ. Эти процессы служат основой многих высокотехнологичных производств. Развитие современной микроэлектроники с ее стремлением к микроминиатюризации привело к такому положению вещей, когда информация о процессах, происходящих на границе полупроводника и газовой смеси, может иметь прямое отношение к физическим явлениям, лежащим в основе работы прибора. В связи с чем многие проблемы, имеющие отношение к системе газ — твердое тело, обусловлены также нуждами полупроводникового приборостроения и микроэлектронной промышленности.

Явления, возникающие на границе твердого тела и атомно-молекулярной газовой смеси, сложны и многообразны. Взаимодействие атомов и молекул с твердыми телами сопровождается перераспределением поверхностных химических связей, изменением спектра поверхностных электронных состояний, структурными перестройками. Возникающие при протекании гетерогенных реакций люминесценция, распыление поверхности, эмиссия электронов несут информацию о химическом составе, структуре и электронном спектре поверхности, о кинетике и механизме химических превращений и об активной газовой атмосфере. Регистрация эффектов, сопровождающих поверхностные реакции, дает чувствительный инструмент для изучения процессов на границе газа с твердым телом, для решения научных и технологических задач катализа, плаз-мохимии, микроэлектроники, выращивания тонких пленок, космического материаловедения.

При протекании гетерогенных химических реакций на границе твердых тел и газов стабилизация молекул промежуточных веществ и продукта обусловлена энергообменом между реагирующими частицами и поверхностью. В нем участвуют кристаллическая решетка (фононы), электроны твердого тела и хемосорбированные молекулы реагирующих веществ. Высокая каталитическая активность металлов по сравнению с неметаллами по отношению к большинству химических реакций, возможно, обусловлена тем, что аккомодация энергии электронами проводимости — это наиболее эффективный способ отвода энергии, выделяющейся в актах химических превращений на поверхности твердых тел (любая гетерогенная химическая реакция содержит хотя бы одну экзотермическую стадию — адсорбцию). Известно, что на поверхности металлов колебательная релаксация химических связей адсорбированных молекул происходит преимущественно посредством генерации электронно-дырочных пар, а не фононов. О возникновении возбужденных электронов с энергией Е > А + F, где, А — работа выхода поверхности, F — энергия Ферми, свидетельствует эмиссия электронов при протекании гетерогенных химических реакций на поверхности некоторых металлов (с малой работой выхода).

Малоизучены аккомодация энергии электронами проводимости при столкновении атомных частиц с поверхностью твердых тел и ее роль в каталитическом ускорении гетерогенных химических превращений на границе твердых тел и газов. Соответствующие методы исследований вследствие технических сложностей (доля возбужденных электронов от общего числа электронов проводимости ничтожно мала) недостаточно развиты.

Цель работа — разработка метода изучения электронной аккомодации с участием электронов проводимости при протекании гетерогенных химических реакцийобнаружение эффекта эмиссии возбужденных в ходе гетерогенной химической реакции электронов из металла в полупроводникэкспериментальное изучение неравновесной хемопроводимости тонких пленок полупроводников, полученных осаждением в среде атомарного водорода.

Для достижения поставленной цели выбраны следующие направления исследований: изучение эффекта возникновения разности потенциалов (хемо-ЭДС) между металлом и полупроводником, при протекании экзотермической реакции.

Н + Н —" Н2 на поверхности металлической пленки, нанесенной на полупроводникобнаружение и изучение эффекта хемоэмиссии электронов из металла в полупроводниквыяснение влияния окисной пленки на поверхности полупроводника на процесс прохождения возбужденных электронов через границу между металлом и полупроводникомизучение влияния температуры на процесс проникновения горячих электронов, возникших в ходе реакции, из металла в полупроводникустановление влияния типа проводимости полупроводника, на который нанесена тонкая металлическая пленка, на хемоэмиссию электронов из металла в полупроводникполучение тонких пленок германия посредством осаждения атомов германия в среде атомарного водорода, изучение структуры пленок и их неравновесной хемопроводности.

Научная новизна. Разработан метод изучения процессов энергообмена между реагирующими на поверхности молекулами газа и электронами проводимости металла или вырожденного полупроводника. Он предназначен для изучения механизмов стабилизации молекул, образующихся в ходе реакции, и заключается в регистрации тока возбужденных электронов, проникающих из катализатора в полупроводник через межфазную границу.

Обнаружено явление эмиссии электронов из металла в полупроводник. На примере химической реакции Н + Н —> П2 обнаружен эффект преобразования энергии, выделяющейся в ходе гетерогенной реакции на поверхности тонкой пленки металлического катализатора, нанесенного на полупроводник, в энергию электрического тока. Обнаружено возникновение разности потенциалов (хемо-ЭДС) между металлом и полупроводником при протекании гетерогенной реакции на поверхности тонкой металлической пленки, нанесенной на поверхность полупроводника. Установлено, что окисная пленка на поверхности полупроводника препятствует прохождению возбужденных электронов через границу между металлом и полупроводником, не влияя при этом существенным образом на сопротивление контакта полупроводника с металлической пленкой. Установлено, что при протекании реакции гетерогенной рекомбинации атомов водорода на поверхности золота или никеля в актах химических превращений с вероятностью 10″ 2 < r|g < 1 в металле возникают электронно-возбужденные состояния.

Установлено, что при осаждении на подложки в среде атомарного водорода пленок германия, благодаря процессам самоорганизации образуются наноструктуры с характерным размером 30−40 нм.

Получены данные по фотопроводимости и неравновесной хемопроводи-мости тонких пленок германия и кремния, осажденных на подложки в среде атомарного водорода.

Достоверность полученных результатов. В опытах использовался водород чистотой 99,995%. Особое внимание было уделено защите используемых приборов (средств измерения) электрическими экранами от воздействия электромагнитных полей. Проводились «холостые» опыты, для этого в реактор помещали точечный полупроводниковый диод. При этом в измерениях тока уровень электромагнитной помехи (наводки) высокочастотного разряда составлял не.

11 -у более 10 А, а при измерении хемо-ЭДС — 10 В. Подтверждением достаточно глубокой очистки поверхности образцов от адсорбционных загрязнений в условиях опытов и достоверности результатов служит получение воспроизводимых экспериментальных кривых. С целью проверки воспроизводимости экспериментальных данных неоднократно производилась повторная замена образцов в различной последовательности. Были получены идентичные результаты для одних и тех же образцов. Полученные экспериментальные результаты допускают непротиворечивую теоретическую интерпретацию.

Практическая значимость. Предложен метод создания потока горячих электронов в металле для изучения эмиссии горячих электронов через межфазную границу металл-полупроводник. На основе полученных данных могут быть разработаны датчики контроля за изменением скорости гетерогенных химических реакций. Структуры металл-полупроводник-металл могут быть применены для изучения механизмов неупругих столкновений атомных частиц тепловых энергий с поверхностью металлов. Применение метода контроля за образованием возбужденных электронов в актах химических превращений на поверхности металлов позволило получить новую информацию о механизмах электронных процессов, протекающих на межфазных границах между металлом и активным газом и между металлом и полупроводником.

Защищаемые положения.

1. При протекании экзотермической химической реакции Н + Н —* Нг на у поверхности тонкой металлической пленки золота толщиной d ~ 10″, нанесенной на кристалл кремния n-типа, возникает разность потенциалов (хемо-ЭДС) между металлом и полупроводником, обусловленная проникновением возбужденных электронов, возникших в ходе реакции, из металла в полупроводник (пленка приобретает положительный заряд, а кремний заряжается отрицательно).

2. Взаимодействие атомарного водорода с тонкой пленкой золота или никеля, нанесенной на кристалл полупроводника (кремния, германия) или плоский р-n переход на основе кремния сопровождается изменением сопротивления полупроводника или р-п-перехода вследствие проникновения возбужденных электронов, возникших в ходе реакции, из металла в полупроводник.

3. Окисная пленка на поверхности кремния или германия препятствует проникновению возбужденных электронов через межфазную границу из металла в полупроводник.

4. Осажденные в среде атомарного водорода на подложки тонкие пленки германия содержат наноструктуры с характерным размером 30−40 нм, возникшие благодаря процессам самоорганизации на поверхности. Под действием атомарного водорода возникает неравновесная электропроводность этих пленок.

Структура и объем диссертации

Диссертация изложена на 113 страницах, иллюстрируется 34 рисунками и состоит из введения, трех глав, заключения и списка используемой литературы, включающего 94 наименования.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

.

1. Предложен метод создания потока горячих электронов в металле для изучения эмиссии горячих электронов через межфазную границу металл-полупроводник.

2. Разработан метод изучения процессов энергообмена между реагирующими на поверхности молекулами газа и электронами проводимости металла, заключающийся в регистрации тока возбужденных электронов, проникающих из металла — катализатора реакции в полупроводник через потенциальный барьер на межфазной границе.

3. При протекании реакции Н + Н —> Н2 на поверхности тонкой пленки золота, нанесенной на поверхность кремния n-типа, между металлом и полупроводником возникает разность потенциалов (хемо-ЭДС). При этом пленка приобретает положительный заряд, а кремний заряжается отрицательно. Эффект обусловлен проникновением горячих электронов, возникших в ходе реакции, из металла в полупроводник.

4. После включения и выключения источника атомов водорода наблюдается изменение сопротивления помещенных в среду водорода структур МПМ, изготовленных на основе кремния n-типа или кремниевого р-п-перехода, если пленка металла, нанесенная на полупроводник, присоединена к минусу источника тока, а полупроводник присоединен к его плюсу. Эффект обусловлен проникновением горячих электронов, возникших в ходе экзотермической реакции Н + Н —> Н2, из металла в полупроводник, поскольку он исчезает при изменении полярности приложенного напряжения.

5. При протекании реакции гетерогенной рекомбинации атомов водорода Н+Н—"Н2 на поверхности золота или никеля в актах химических превращений с вероятностью 10 < rjg < 1 в металле возникают электронно-возбужденные состояния.

6. Окисная пленка на поверхности кремния или германия препятствует проникновению возбужденных электронов через межфазную границу из металла в полупроводник.

7. Осаждение германиевых пленок на медные подложки в среде атомарного водорода приводит к появлению наноструктур с характерным размером 30−40 нм, возникших благодаря процессам самоорганизации на поверхности подложки, находящейся в активной газовой среде.

8. Наблюдалась неравновесная хемопроводность германиевых пленок, обусловленная возникновением электронно-дырочных пар на поверхности при протекании экзотермической гетерогенной реакции Н + Н —"• Н2.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Л.С. Физика полупроводников. -М.: Советское радио, 1967. -452 с.
  2. И.А. Основы материаловедения и технологии полупроводников. М.: МИФИ, 2002. — 378 с.
  3. Г. Электроника дефектов в полупроводниках. — М.: Мир, 1974. -464 с.
  4. К. Дефекты и примеси в полупроводниковом кремнии. М.: Мир, 1984.-475 с.
  5. А.И. Введение в теорию полупроводников. — М.: Наука, 1978. -616 с.
  6. Б. А. Снитко О.В. Физические свойства атомарно-чистых поверхностей полупроводников, Киев: Наукова Думка, 1983.
  7. .И. Электронные ловушки на поверхности полупроводников // Соросовский образовательный журнал. 1998. № 7. С. 114−121.
  8. К. Физика полупроводников. — М.: Мир, 1977. — 615 с.
  9. Э. Физика поверхности. М.: Мир, 1989. — 440 с.
  10. В.Ф., Козлов С. Н., Зотеев А. В. Основы физики поверхности твердого тела. М.: Изд-во Московского университета. Физический факультет МГУ, 1999.-284 с.
  11. Г. П. Физические явления на поверхности полупроводников — К.: Вища школа. Головное изд-во, 1984. 214 с.
  12. В. Ф. Рекомбинация атомов на поверхности тел и сопутствующие эффекты. Томск: Изд-во Том. ун-та, 1994. — 207 с.
  13. Ф. Ф. Физика-химия поверхности полупроводников. -М.: Наука, 1973. 399 с.
  14. С. Химическая физика поверхности твердого тела: Пер. с англ. А. Я. Шульмана под ред. Ф. Ф. Волькенштейна. М.: Мир, 1980. — 488 с.
  15. Теория хемосорбции. Под редакцией Дж. Смита. М.: Мир, 1983. —333 с.
  16. Ю. Г., Чуйков Б. А. Кинетика адсорбции газов на поверхности металлов // Поверхность. 1992. № 9. С. 5−26.
  17. Г. С., Быков В. И., Елохин В. И. Кинетика модельных реакций гетерогенного катализа. Новосибирск: Наука. 1984.
  18. В.П. Скорость химической реакции. — М.: Наука, 1986.
  19. В. П. // Ж. прикл. спектроскопии. 1996. Т. 63. № 3. С. 444−451.
  20. В. П., Тюрин Ю. И. // Кинетика и катализ. 1996. Т. 37. № 4. С. 608−612.
  21. В. П., Гранкина Н. Д., Климов Ю. В., Тюрин Ю. И. // Журн. физ. химии. 1996. Т. 70. №. 10. С. 1863 1868.
  22. V. F. // React. Kinet. Catal. Lett. 1987/ № 33. P. 43.
  23. В. Ф. // Хим. физика. 1991. Т. 10. № 8. С. 1084.
  24. В. Ф. //Журн. физ. химии. 1997. Т. 71. N 4. С. 678.
  25. В. Ф., Лисецкий В. Н., Иващук О. А. // Журн. физ. химии. 1998. Т. 72. N2. С. 298.
  26. В. Ф., Крутовский Е. П., Мосин Ю. В. и др. // Письма в ЖТФ. 1998. Т. 24. N 3. С. 54−59.
  27. V. F., Izmailov Sh. L., Vasilyev N. Ph. // React.Kinet. Catal.1.tt. 1997. V. 60. N l.P. 107
  28. В.Ф., Ануфриев K.M. Рекомбинация предадсорбированных атомов кислорода на поверхности твердых тел. // Письма в ЖТФ. 1999, Т. 25, № 15, С. 27−32.
  29. Ю. В. Атомно-молекулярные и электронные процессы на поверхности полупроводников, помещенных в диссоциированные газы: Дис. канд. физ.-мат. наук. Курск., 1998. — 97 с.
  30. О. А. Математическое моделирование электронного возбуждения полупроводников атомарным водородом: Дис. канд. физ.-мат. наук. -Курск., 1998.-139 с.
  31. М. Полупроводниковые сверхрешетки: Пер. с англ. М.: Мир, 1989.-240 с.
  32. В.Б., Акчурин Р. Х. Физико-химические основы жидкофаз-ной эпитаксии.-М.: Металлургия, 1983.-436с.
  33. Фельдман J1., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок. — М: Мир, 1989.-344 с.
  34. Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности: Пер. с англ. М.: Мир, 1989. — 564 с.
  35. С. Химическая физика поверхности твердого тела. — М.: Мир, 1980.-490 с.
  36. В.И., Черепин В. Т. Физические методы исследования поверхности твердых тел. М.: Наука, 1983. — 296 с.
  37. Методы анализа поверхности. Ред. А.Зандерна. — М., Мир. 1979.
  38. Новое в исследовании поверхности твердого тела. Ред. Т. Джайядевайя, Р.Ванселов. М., Мир, 1977, т.1., вып.1, С.211−234.
  39. Р.Хофман. Строение твердых тел и поверхностей. М., Мир 1990.216 с.
  40. Т. П., Пантелеев В. Н., Поляков Д. Ю. // Физика и техника полупроводников. 2001. Т. 35. Вып. 4. С. 482−488.
  41. А.П. // Вестник НовГУ. Сер.: Техн. науки. 2004. № 26. С. 173−174.
  42. М.М. Эллипсометрия М.: Мир, 1974. 388 с.
  43. А.В., Свиташев К. К., Семененко А. И. Основы эллипсометрии. Новосибирск: Наука, 1979.-426 с.
  44. Р., Башира Н. Эллипсометрия и поляризованный свет: Пер. с англ. М.: Мир, 1981.-342 с.
  45. P.P. Эллипсометрия в микроэлектронике. М.: Радио и связь, 1983.-294 с.
  46. С.С. Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок: Учеб. пособие. М.: Изд-во МГУ, 1992. — 94 с.
  47. И.Б. Физические основы рентгеноспектральных исследований. М.: Изд-во МГУ, 1956. 482 с.
  48. A.JI. Автоионная микроскопия радиационных дефектов в металлах. М.: Энергоиздат, 1982. — 161 с.
  49. М., Смит Г. Зондовый анализ в автоионной микроскопии: Пер. с англ. М.: Мир, 1999. — 301 с.
  50. О. В., Киселев В. Ф. Адсорбция и катализ на переходных металлах и их оксидах. — М.: Химия, 1981. 288 с.
  51. В.В. Электронная оже-спектроскопия. Изд-во ЛПИ, 1973.
  52. В.Ф., Кухаренко Ю. А., Фридрихов С. А. Спектроскопия и дифракция электронов при исследовании поверхности твердых тел. — М: Наука, 1985.-290 с.
  53. А.Н., Пронина Н. А. Изучение структуры поверхности методом дифракции медленных электронов (ДМЭ): Учеб. пособие. — СПб.: Изд-во СПбГТУ, 1997.-45 с.
  54. Ю.А., Фридрихов С. А. Резонансное упругое рассеяние медленных электронов в твердых телах вблизи порогов неупругих каналов // Поверхность. Физика, химия, механика. 1982. № 1. С. 43−57.
  55. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха. М.: Мир, 1987. — 600 с.
  56. А.Р., Фридрихов С. А. Вторично-эмиссионные методы исследования твердого тела. М.: Наука, 1977. 552 с.
  57. Н.П., Кораблев В. В., Кудинов Ю. А. Актуальные вопросы вторично-эмиссионной спектроскопии. — JL: ЛПИ, 1985. 88 с.
  58. А. Модинос Авто-, термо- и вторично-эмиссионная спектроскопия. М.: Наука, 1990.
  59. Г. Н. Автоэлектронная эмиссия // Соросовский образовательный журнал. 2000. Т. 6. № 11. С. 96−103.
  60. Ю.И. Возбуждение поверхности твердого тела атомами тепловых энергий // Поверхность. 1986. № 9. С. 115−125.
  61. В.В., Харламов В.Ф., .Ягнова Л. И. // Взаимодействие атомных частиц с твердым телом. М.: Наука, 1972. С. 72 -73.
  62. В.Ф. // Кинетика и катализ. 1979. Т. 20. № 4. С. 946 950.
  63. Бонч Бруевич В. Л., Калашников С. Г. Физика полупроводников. — М.: Наука, 1990.-686 с.
  64. Бонч-Бруевич В.Л., Звягин И. П., Клайпер Р. Электронная теория неупорядоченных полупроводников. М.: Наука, 1981. — 384 с.
  65. Физическая энциклопедия. Гл. ред. Прохоров A.M., М.: Большая Российская энциклопедия. Т. 1. 1992. — 704 с.
  66. Физическая энциклопедия. Гл. ред. Прохоров A.M., М.: Большая Российская энциклопедия. Т. 3. 1992. — 672 с.
  67. W. // Z. Phis. V. В23. № 3. P. 361−367.
  68. М.А., Кустарев В. Г., Шуб Б.Р. // ДАН СССР. 1977. Т. 237. № 7. С.871−876.
  69. Е.М., Питаевский Л. П. Физическая кинетика. — М.: Наука, 1979. С. 413.
  70. Borrel P. Molecular Relaxation Processes. London: The Chemical Society, 1966. P. 263.
  71. Ю. А., Рогинский С. З., Третьяков И.И.// ДАН СССР. 1964. Т.158. № 5. С. 929−934- 1965. Т.163. № 1. С.394−399.
  72. Ф. Ф., Горбань А. Н., Соколов В. А. Радикалорекомби-национная люминесценция полупроводников. М.: Наука, 1973. — 399 с.
  73. В. Ф. Автореф. дне. докт. физ.-мат. наук. Новосибирск, 1990.-31 с.
  74. В. Ф. Эмиссия электронов и фотонов при взаимодействии диссоциированных газов с твердыми телами: Дис. канд. физ.-мат. наук. — Томск., 1976. 177 с.
  75. В. Ф. // Кинетика и катализ. 1979. Т. 20. № 4. С. 946 950.
  76. П. В., Кноринг В. Г., Гутников В. С. Цифровые приборы с частотными датчиками. — JL: Энергия, 1970.
  77. Г. С., Зайцев В. Б. Физические основы молекулярной электроники М.: Физические факультет МГУ, 2000. — 164 с.
  78. С.Н., Седов А. В., Касаткин Э. В., Харламов В. Ф. Самоорганизация при осаждении пленок полупроводников в среде атомарного водорода. // ЖТФ. 2004. Т. 74. Вып. 8. С. 133 135.
  79. S.N. Romashin. A.V. Sedov, E.V. Kasatkin, V.F. Kharlamov. Self-Organization during Deposition of Semiconductor Films in the Atmosphere of Atomic Hydrogen. //Technical Physics. V. 49. № 8. 2004. pp. 1089−1092.
  80. C.H., Седов А. В., Ануфриев K.M., Харламов В. Ф. Эмиссия электронов из металлов в полупроводник, стимулированная химической реакцией. // Материалы XXII Всероссийский симпозиум молодых ученых по химической кинетике, Москва, 2004 г. С. 43.
  81. В.Ф., Ромашин С.II., Седов А. В. Хемоэмиссия электронов из металла в полупроводник. // Письма в ЖТФ. 2004. Т. 30. Вып. 17. С. 48 54.
  82. V.F. Kharlamov, S.N. Romashin, A.V. Sedov. Electron Chemoemission from Metal to Semiconductor. // Technical Physics Letters. V.30. N 9.2004. pp.732−734.
  83. В.А. Рекомбинация атомов водорода на поверхности твердых тел. Киев: Наукова думка, 1973. 204 с.
  84. Кислюк М.У.//Химич. физика. 1989. Т.8. № 1. С.59−72.
  85. К.В. Физика полупроводников. — М.: Энергоатомиздат, 1985.392 с.
  86. В.Ф., Седов А. В., Ромашин С.II. Эмиссия электронов с поверхности твердых, стимулированная электрическим полем и гетерогенной химической реакцией. // Письма в ЖТФ. 2004. Т. 30. Вып. 18. С. 1 8.
  87. V.F. Kharlamov, A.V. Sedov, S.N. Romashin. Electron Emission from Solid Surfaces Stimulated by Electric Field and Heterogeneous Chemical Reaction. // Technical Physics Letters. Vol.30. N 9.2004. pp.753−755.
  88. C.H., Седов А. В., Кубышкина M.B., Ануфриев К. М., Харламов В. Ф. Электронное возбуждение металлов активным газом и сопутствующие эффекты. // Доклады XVI Всероссийского симпозиума «Современная химическая физика»,-Туапсе, 2004 г. С. 158−159.
  89. В.Ф., Макушев И. А., Бармин А. В., Рогожина Т. С., Ануфриев К. М., Быковский М. И. Элементарные процессы при взаимодействии «пакета» активных частиц газа с твердым телом. // Письма в журнал технической физики. 2003, Т. 29, Вып. 7, с. 87−95.
  90. Н.М., Горбань А. Н., Савченко Н. В., Манько В. К. Образование электронно-дырочных возбуждений в германии под действием атомов водорода. // Укр. физ. журн. 1979. Т. 24. № 7. С. 996−999- № 8. С. 1184−1187.
  91. В.В., Кабанский А. Е. Высокоэффективная электронная аккомодация при взаимодействии атомарного водорода с монокристаллом германия. // ЖЭТФ. 1979. Т. 76. Вып. 5. С. 54−59.
Заполнить форму текущей работой