Рентгеногониометрические методы. 
Дифракционный структурный анализ

Отметим еще раз основной недостаток метода полного вращения — незнание положения кристаллической плоскости в момент отражения, — недостаток, лишь частично избегаемый применением метода качания в ограниченном угловом интервале. Задача определения этого неизвестного параметра полностью разрешается так называемым методом рентгеновского гониометра. Под этим методом понимают рентгеносъемку вращающегося кристалла на подвижную пленку, причем фиксируются лучи лишь одного интерференционного конуса (слоевой лини). Очевидно, что расстояние интерференционного пятна от средней линии неподвижной пленки гониометра соответствует времени, прошедшему с начала вращения до момента возникновения интерференционного пятна. Зная момент интерференции, мы по чисто геометрическим соображениям можем установить положение кристаллической плоскости. Этим и решается поставленная выше задана.

Существует несколько разновидностей рентгенограмм метода, которые могут быть классифицированы следующим образом:

А. Плоская фотопленка.

• 1. Фотопленка перемещается поступательно:
  • а) параллельно оси вращения кристалла,
  • б) перпендикулярно оси вращения кристалла.
• 2. Фотопленка вращается около оси:
  • а) совпадающей с осью вращения кристалла,
  • б) параллельной лучу и перпендикулярной оси вращения кристалла.

В. Цилиндрическая фотопленка.

• 1. Цилиндрическая пленка вращается около оси, совпадающей с осью вращения.
• 2. Цилиндрическая пленка движется поступательно:
  • а) параллельно лучу и параллельно оси вращения кристалла,
  • б) перпендикулярно лучу и параллельно оси вращения кристалла.

Последний метод, предложенный Вейсенбергом и носящий его имя, получил наиболее широкое распространение.