Технико-криминалистические средства, используемые в ходе экспертных исследований

Современная экспертная криминалистическая техника классифицируется, как правило, по природе тех явлений, которые лежат в основе соответствующего метода. Выделяются:

• 1) морфологический анализ, т. е. изучение внешнего и внутреннего строения физических тел на макро-, микрои ультрамикроуровнях;
• 2) анализ состава материалов и веществ (элементного, молекулярного, фазового, фракционного);
• 3) изучение структуры вещества;
• 4) анализ отдельных свойств объектов.

Морфологический анализ.

Такой анализ на макроуровне проводится визуальным методом путем наблюдения за объектом или его изображениями и используется для исследования традиционных криминалистических объектов: трасологических, баллистических и др.

При морфологическом анализе на микроуровне в основном используется оптическая микроскопия. При этом применяются следующие методы оптической микроскопии: метод светлого поля и его разновидности, метод темного поля и его разновидности, метод фазового контраста, метод интерференционного контраста, поляризационная микроскопия, метод исследования в свете люминесценции. Например, для прозрачных объектов, структура которых неодинаково поглощает видимые лучи, применяется метод светлого поля в проходящем свете, а для непрозрачных, например металлов и сплавов, минералов, текстильных волокон, — метод светлого поля в отраженном. А микроскопия в поляризованном свете применяется для микроскопического исследования препаратов, включающих оптически анизотропные элементы (или целиком состоящих из таких элементов). Таковыми являются многие минералы, зерна в шлифах сплавов, некоторые животные и растительные ткани. Оптические свойства анизотропных микрообъектов различны в разных направлениях и проявляются по-разному в зависимости от ориентации этих объектов относительно направления наблюдения и плоскости поляризации света, падающего на них.

Кроме оптической микроскопии на микрои ультрамикроуровнях применяются электронная микроскопия, рентгеновская микроскопия и сканирующая зондовая микроскопия.

В электронной микроскопии для построения изображения вместо световых лучей используется пучок электронов. Эго позволяет увеличить разрешающую способность электронного микроскопа по сравнению с оптическим в сотни раз. Растровые электронные микроскопы позволяют определить механизм отделения волос и волокон, признаки воздействия на них внешней среды и химической обработки и др.

Рентгеновская микроскопия используется для исследования очень малых объектов, размеры которых сопоставимы с длиной рентгеновской волны. Рентгеновские микроскопы по разрешающей способности находятся между электронными и оптическими микроскопами. Рентгеновская микроскопия позволяет оценить качество тонких покрытии, произвести микрорентгенографию биологических и ботанических срезов толщиной до 200 мкм, анализ смеси порошков легких и тяжелых металлов, изучение внутреннего строения объектов, непрозрачных для световых лучей и электронов. Важным достоинством рентгеновских микроскопов является то, что с их помощью можно наблюдать непрепарированные живые клетки.

Сканирующая зондовая микроскопия используется для получения изображения поверхности и ее локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом. В общем случае позволяет получить трехмерное изображение поверхности (топографию) с высоким разрешением. Как правило, снятое на сканирующем зондовом микроскопе изображение трудно поддается расшифровке из-за присущих данному методу искажений. Практически всегда результаты первоначального сканирования подвергаются математической обработке. В большинстве исследовательских лабораторий сканирующая зондовая и электронная микроскопия используются как дополняющие друг друга методы исследования в силу ряда физических и технических особенностей.