Дипломы, курсовые, рефераты, контрольные...
Срочная помощь в учёбе

Расширение аналитических возможностей рентгенофлуоресцентного анализа на принципах теоретических коррекций межэлементных влияний

Диссертация: Расширение аналитических возможностей рентгенофлуоресцентного анализа на принципах теоретических коррекций межэлементных влияний
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Разработаны алгоритмы и комплексы программных средств, позволяющие реализовать разработанный методологический подход к количественному рентгенофлуоресцентному анализу. В программном комплексе количественного анализа влияние химического состава корректируется с помощью комбинированного способа учета межэлементных влияний: стандарта-фона, множественной регрессии, теоретических поправок с раздельным… Читать ещё >

Содержание

  • ГЛАВА 1. КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТ-НЫЙ АНАЛИЗ ПРИ ОПРЕДЕЛЕНИИ СОСТАВА ВЕЩЕСТВ И МАТЕРИАЛОВ
    • 1. 1. Современное состояние теории возбуждения рентгеновских спектров флуоресценции
      • 1. 1. 1. Развитие теоретических представлений и расчетных формул для интенсивности спектров рентгеновской флуоресценции
      • 1. 1. 2. Фундаментальные параметры и характеристики точности расчета интенсивности спектров рентгеновской флуоресценции
    • 1. 2. Уравнения связи в количественном рентгенофлуоресцентном анализе
      • 1. 2. 1. Математический аппарат, используемый для построения и реализации уравнений связи
      • 1. 2. 2. Способы рентгенофлуоресцентного анализа, основанные на построении и реализации уравнений связи
      • 1. 2. 3. Современное состояние способов уравнений связи
    • 1. 3. Определение состава веществ и материалов с применением рентгеновской аналитической техник
      • 1. 3. 1. Используемая аппаратура
      • 1. 3. 2. Отбор и подготовка проб
      • 1. 3. 3. Рентгенофлуоресцентное определение состава чугу-нов, сталей и сплавов
    • 1. 4. Определения состава и толщины тонких плёнок и покрытий
    • 1. 5. Химические сдвиги рентгеновских внутренних линий
    • 1. 6. Направление и задачи исследования
  • ГЛАВА 2. ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ УЧЕТА МЕЖЭЛЕМЕНТНЫХ ВЛИЯНИЙ В КОЛИЧЕСТВЕННОМ РЕНТГЕНОФЛУО-РЕСЦЕНТНОМ АНАЛИЗЕ
    • 2. 1. Исследование области применения и расчетной формулы способа теоретических поправок
    • 2. 2. Разработка способа теоретических поправок с учетом избирательного возбуждения
    • 2. 3. Разработка способа теоретических поправок с учетом поли-хроматичности первичного возбуждающего излучения
    • 2. 4. Способ теоретических поправок с использованием отношения интенсивностей аналитических линий в качестве градуировочной характеристики
    • 2. 5. Обобщение способа теоретических поправок с раздельным учетом влияющих факторов в количественном рентгенофлуорес-центном анализе
    • 2. 6. Уравнения связи с использованием абсорбционных факторов
    • 2. 7. Ограничение способа теоретических поправок применительно к анализу конкретного материала
    • 2. 8. Выводы
  • ГЛАВА 3. ВЗАИМОСВЯЗЬ МЕТРОЛОГИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ КОЛИЧЕСТВЕННОГО РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО АНАЛИЗА И АНАЛИТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК РЕНТГЕНОВСКОГО СПЕКТРОМЕТРА
    • 3. 1. Связь между основными аналитическими параметрами рентгеновского спектрометра и метрологическими характеристиками количественного рентгенофлуоресцентного анализа
    • 3. 2. Способы измерения и расчета основных аналитических характеристик рентгеновского спектрометра и расчет метрологических параметров количественного рентгенофлуоресцентного анализа
    • 3. 3. Оценка применимости рентгеновского спектрометра для решения конкретной аналитической задачи
    • 3. 4. Оценка вклада неосновных факторов в погрешность рентге-нофлуоресцентных измерений
    • 3. 5. Выводы
  • ГЛАВА 4. УРАВНЕНИЯ СВЯЗИ В КОЛИЧЕСТВЕННОМ РЕНТ-ГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОМ АНАЛИЗЕ НА ОСНОВЕ ТЕОРЕТИЧЕСКИХ КОЭФФИЦИЕНТОВ ВЛИЯНИЯ
    • 4. 1. Расчет статистических характеристик исследуемого материала
    • 4. 2. Разработка способа построения уравнений связи на основе оценки ожидаемого максимального отклонения
    • 4. 3. Разработка способа построения уравнений связи на основе оценки ожидаемой погрешности анализа
    • 4. 4. Исследование случаев вырождения межэлементных влияний при использовании отношения интенсивностей аналитических линий в качестве градуировочной характеристики
    • 4. 5. Выводы

    ГЛАВА 5. ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДОЛОГИИ РЕНТГЕНОФЛУО-РЕСЦЕНТНОГО АНАЛИЗА, ОСНОВАННОЙ НА СПОСОБЕ ТЕОРЕТИЧЕСКИХ ПОПРАВОК С РАЗДЕЛЬНЫМ УЧЕТОМ ВЛИЯЮЩИХ ФАКТОРОВ, В ПРОГРАММНОМ И МЕТОДИЧЕСКОМ ОБЕСПЕЧЕНИИ РЕНТГЕНОВСКИХ СПЕКТРОМЕТРОВ

    5.1. Расчет метрологических параметров анализа, коррекция на мертвое время и учет дрейфа в программном обеспечении рентгеновских спектрометров.

    5.2. Классификация аналитических задач для количественного рентгенофлуоресцентного анализа.

    5.3. Рентгенофлуоресцентный анализ при определении тяжелых металлов в объектах окружающей среды.

    5.4. Усовершенствование полуэмпирических уравнений связи при рентгенофлуоресцентном определении основных породообразующих компонентов природных материалов.

    5.5. Полу количественный анализ сталей и сплавов с использованием параметров поглощения.

    5.6. Методическое обеспечение количественного рентгенофлуоресцентного анализа.

    5.7. Исследование возможности использования портативного рентгеновского спектрометра для изучения химической связи.

    5.8. Оценка глубины выхода флуоресцентного излучения из проб исследуемых материалов и определение толщин плёнок и покрытий на рентгеновском спектрометре «СПЕКТРОСКАН МАКС-GV».

Расширение аналитических возможностей рентгенофлуоресцентного анализа на принципах теоретических коррекций межэлементных влияний (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Актуальность работы.

Метод рентгено флуоресцентного анализа (РФА) применим для определения количественного содержания широкого круга элементов в диапазонах содержаний от тысячных долей процента до ~ 100%. Высокая относительная точность измерений (0,1 — 0,3%), высокая производительность и экспрессность, возможность анализировать пробы в разных агрегатных состояниях (монолитные материалы, порошки, жидкости, фильтры), простота подготовки проб к анализу обеспечили применение метода и позволило РФА войти в число одного из наиболее широко применяемых методов в аналитической химии. Рентгеновское аналитическое приборостроения в СССР и России последовательно развивалось в Н1111 «Буревестник» (Санкт-Петербург), ПО «Научприбор» (г. Орел), завод «Красный Октябрь» (г. Одесса), НПО «Спектрон» (Санкт-Петербург) и общее количество различных типов приборов составило несколько тысяч. В последние два десятилетия количество этих приборов значительно увеличилось за счет поставок спектрометров крупных зарубежных фирм и ожидается дальнейшее их увеличение в связи с разработкой некоторыми предприятиями России и СНГ портативных энергодисперсионных спектрометров.

Правильность рентгенофлуоресцентных определений элементов зависит от полноты учета влияния валового состава анализируемой пробы и коррекции аппаратурных искаженийширокое внедрение метода РФА не могло и в настоящее время не может быть осуществлено без решения проблем учета этих факторов. К моменту начала выполнения настоящей работы начали развиваться и использоваться такие способы учета взаимных влияний элементов (эмпирические и теоретические) как способ множественной регрессии, способ стандарта-фона, способы динамических уравнений связи, способ теоретических поправок, способ фундаментальных параметров. Одним из перспективных способов учета взаимных влияний элементов является способ теоретических поправок, который позволяет учитывать взаимные влияния элементов с помощью теоретических коэффициентов влияния и использует минимальное количество градуировочных образцов. Считалось, что способ применим для определения элементов в узких диапазонах содержаний в гомогенных материалах, а теоретические коэффициенты влияния являются лишь первым приближением регрессионных коэффициентов.

В связи с тем, что способ стал применяться в программном обеспечении рентгеновских аналитических комплексов (спектрометр-ПЭВМ), важной и актуальной задачей являлось углубленное изучение способа теоретических поправок и его развитие с целью обоснования возможности его применения для решения различных аналитических задач, для создания развитого программного обеспечения рентгеновских аналитических комплексов. Важной и актуальной проблемой является установление связи между аналитическими характеристиками спектрометра и метрологическими параметрами анализа, что позволит априорно оценить погрешности рентгенофлуоресцентного анализа конкретного материала на выбранном типе рентгеновского спектрометра.

Другая актуальная проблема возникает в связи с развитием вещественного анализа, в рамках которого возникает необходимость получения информации о химическом состоянии (валентности) элемента в анализируемом материале. Кроме того, в качестве самостоятельной аналитической задачи существует проблема определения толщин фольг и покрытий.

Цель работы — развитие метода рентгенофлуоресцентного анализа, основанного на принципах учета межэлементных влияний способом теоретических поправок, расширяющего диапазоны содержаний определяемых элементов, повышение точности анализа с помощью этого способа, а также создание на этой базе программно-методического обеспечения для серийно выпускаемых рентгеновских спектрометров и внедрение его в аналитическую практику. Для достижения поставленных целей предстояло решить следующие основные задачи:

• Разработать способ теоретических поправок с раздельным учетом основных влияющих факторов и разработать критерии применимости способа к анализу конкретных материалов.

• Разработать способы построения физически обоснованных эмпирических и теоретических уравнений связи, использующих минимальное количество коэффициентов для получения требуемой точности определения состава.

• Установить связь метрологических параметров рентгенофлуорес-центного анализа с аналитическими характеристиками рентгеновского спектрометра и разработать способы априорной оценки погрешности рентгенофлуоресцентного анализа конкретного материала на рентгеновском спектрометре выбранного типа.

• Разработать программное и методическое обеспечение рентгеновских аналитических комплексов, основанное на реализации разработанной методологии и испытать его в производственных условиях на примерах решения типичных аналитических задач.

• Разработать способы определения химического состояния элементов в анализируемом материале и способы определения толщин фольг и покрытий.

Научная новизна работы.

Предложен способ теоретических поправок с раздельным учетом влияющих факторов. Показано, что способ теоретических поправок с.

раздельным учетом матричного поглощения, избирательного возбуждения и полихроматичности возбуждающего излучения позволяет получить точные значения содержаний определяемых элементов при использовании постоянных теоретических коэффициентов без ограничения диапазона содержаний определяемого и влияющих элементов. Разработан способ анализа с переменными теоретическими коэффициентами (абсорбционными факторами). Установлены критерии применимости способа теоретических поправок к определению элементов при анализе конкретных материалов, в том числе и гетерогенных.

Предложен способ построения физически обоснованных уравнений связи на основе оценки и минимизации ожидаемого среднего квадрати-ческого отклонения результатов определения и на основе оценки ожидаемого максимального отклонения. Установлены эффекты снижения межэлементных влияний при использовании в качестве аналитического параметра отношения интенсивностей аналитических линий и разработаны способы прогнозирования и количественной оценки этих эффектов.

Установлено, что метрологические параметры количественного рент-генофлуоресцентного анализа выражаются через основные аналитические характеристики рентгеновского спектрометра и теоретические коэффициенты — абсорбционные факторы. Разработан способ априорной оценки погрешности рентгенофлуоресцентного анализа конкретного материала для рентгеновского спектрометра выбранного типа.

Практическая значимость работы.

Разработан комплекс алгоритмов и программных средств, позволивший повысить точность рентгенофлуоресцентных определений состава за счет применения разработанных способов учета межэлементных влияний и коррекции аппаратурных искажений для кристалл-дифракционных рентгеновских спектрометров, выпускаемых НЛП «Буревестник», ПО «Научприбор» и НПО «Спектрон».

Разработаны способы определения химического состояния элементов и определения толщин фольг и покрытий.

Разработаны и внедрены в аналитическую практику предприятий методики выполнения измерений (МВИ) промышленных и экологических объектов- 9 МВИ для сканирующих рентгеновских спектрометров были аттестованы в соответствии с ГОСТ Р 8.563−96 в ведущих институтах Госстандарта России: УНИИМ, ВНИИМС, ВНИИФТРИ, ВНИИМ.

На защиту выносятся:

1. Способ теоретических поправок с раздельным учетом влияющих факторов.

2. Способ рентгенофлуоресцентного анализа с использованием абсорбционных факторов.

3. Способ выявления степени гетерогенности материала и критерий применимости способа теоретических поправок к анализу конкретных объектов.

4. Способ построения уравнений связи в количественном рентге-нофлуоресцентном анализе на основе оценки ожидаемой погрешности и ожидаемого максимального отклонения.

5. Способ априорной оценки метрологических параметров количественного рентгенофлуоресцентного анализа.

6. Алгоритмы комплекса программных средств, позволяющие реализовать способ теоретических поправок с раздельным учетом влияющих факторов и безэталонный способ анализа с использованием абсорбционных факторов, способ исследования химической связи и способ определения толщин фольг и покрытий.

7. Методическое обеспечение количественного рентгенофлуоресцентного анализа для кристалл-дифракционных рентгеновских спектрометров, выпускаемых HI 111 «Буревестник», ПО «Научприбор» и НПО «Спектрон».

Апробация работы. Материалы диссертации докладывались на XI (Ростов-на-Дону, 1975), XII (Ленинград, 1978), XIV (Иркутск, 1984) Всесоюзных совещаниях по рентгеновской и электронной спектроскопии, II, III, IV, V (Иркутск, 1989, 1998, 2002, 2006) Всероссийских конференциях по рентгеноспектральному анализу, 1-ом Межотраслевом симпозиуме.

Стандартные образцы в системе метрологического обеспечения производства материалов" (Свердловск, 1974), 7-ом (Запорожье, 1975), 21-ом (Днепропетровск, 1979) коллоквиумах ЦЗЛ «Основные направления развития по аналитическому контролю и методам физико-химических исследований металлов на предприятиях черной металлургии», семинаре «Рентгеновские и эмиссионные методы анализа» (Москва, 1975), на 4-й Украинской Республиканской конференции «Атомная спектроскопия и спектральный анализ» (Днепропетровск, 1975), на 13-ом Международном коллоквиуме по спектроскопии (Гренобль, 1975), 2-й Всесоюзной научно-технической конференции по выпуску стандартных образцов цветных металлов и сплавов (Мценск, 1976), на конференции «Фотометрические методы спектрального анализа сплавов» (Москва, 1976), семинаре «Новые методы испытания металлов» (Москва, 1977), 20-м Международном коллоквиуме по спектроскопии и 7-й Международной конференции по атомной спектроскопии (Прага, 1977), дискуссии специалистов СССР и ГДР (Дрезден, 1976), Всесоюзной научно-технической конференции «Применение рентгеноспектральной аппаратуры для решения аналитических задач черной и цветной металлургии», (Череповец, 1977), Всесоюзной конференции «Приборы и методы спектроскопии» (Новосибирск, 1979), 2-й Всесоюзной конференции по автоматизации анализа химического состава вещества (Москва, 1980), Всесоюзном научно-техническом совещании «Развитие работ по созданию автоматазированных систем аналитического контроля в цветной металлургии» (Москва, 1983), Всесоюзном научно-техническом совещании «Метрологическое обеспечение производства продукции и научно-исследовательских работ на предприятиях и организациях Минчермета» (Лиепая, 1983), 11-й Уральской конференции «Новые спектроскопические методы контроля в промышленности, сельском хозяйстве и охране окружающей среды» (Челябинск, 1984), семинаре «Рентгеноспектральный анализ в черной металлургии» (Днепропетровск, 1990), 2-м Международном симпозиуме по применению аналитических приборов для контроля промышленных процессов (Нидерланды, 1990), 11-й конференции по аналитической атомной спектроскопии (Москва, 1990), VII, IX Европейских конференциях по аналитической химии ((Вена, 1990, Болонья, 1996), 2-м Всесоюзном совещании «Математические методы и ЭВМ в аналитической химии» (Москва, 1991), 2-м Международном симпозиуме «Хроматография и спектроскопия для анализа окружающей среды и токсикологии» (Санкт-Петербург, 1996), Российско-Американском экологическом конгрессе (Воронеж, 1996), II, III, IV Всероссийских конференциях по анализу объектов окружающей среды «Экоаналитика» (Краснодар, 1996, 1998, 2000, 2005), аналитическом Российско-германско-украинском симпозиуме (Дюссельдорф, 1997), Международном конгрессе по аналитической химии (Москва, 1997), 40-й Венгерской конференции по спектрохимии (Дебрецин, 1997), Международной конференции «Новые методы исследования высокотехнологичных материалов» (Санкт-Петербург, 1998), 15-ой Российской научно-технической конференции «Неразрушающий контроль и диагностика» (Москва, 1999), Международной конференции «Экологические и гидрометеорологические проблемы больших городов и промышленных зон» (Санкт-Петербург, 2000), X Российско-японском симпозиуме по аналитической химии (Санкт-Петербург, 2000), конференции «Лазеры. Измерения. Информация» (Санкт-Петербург, 2002), 1-й, 2-й Всероссийских конференциях «Аналитические приборы» (Санкт-Петербург, 2002, 2005), 50-й, 52-й, 55-й Международных конференциях по рентгеновской спектроскопии и дифрактометрии (Денвер, 2001, 2003, 2006), 12-м, 13-м научно-практических семинарах «Аналитика» (Санкт-Петербург, 2004, 2005), XVII, XVIII Уральских конференциях по спектроскопии (Новоуральск, 2005, 2007), Международной конференции «Аналитическая химия и химический анализ» (Киев, 2005), II международном симпозиуме «Разделение и концентрирование в аналитической химии и радиохимии» (Краснодар, 2005), Международном конгрессе по аналитическим наукам (Москва, 2006).

Список публикаций по теме диссертации: 1. Гурвич Ю. М., Калинин Б. Д., Межевич А. Н., Плотников Р. И., Рога-чев И.М., Сербии А. Я. Применение метода множественной регрессии в рентгеноспектральном анализе // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. JL, Машиностроение. 1974. Вып. 13. С. 122−128.

2. Ревенко А. Г., Величко Ю. И., Калинин Б. Д., Попов Н. В. Оценка возможностей рентгеноспектрального флуоресцентного анализа марганец-цинковых ферритов // Исследования в области физики твердого тела. Иркутск, 1974. Вып.2. С. 219−229.

3. Ревенко А. Г., Величко Ю. И., Калинин Б. Д., Попов Н. В., Павлинский Г. В., Плотников Р. И. Учет взаимных влияний элементов при рентгеноспектральном анализе легированных сталей // Заводская лаборатория. 1974. Т. 40, № 6. С. 15−19.

4. Калинин Б. Д., Попов Н. В., Плотников Р. И. Рентгенофлуоресцентное определение фосфора и серы в сталях // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л., Машиностроение. 1974. Вып. 14. С. 15−19.

5. Калинин Б. Д., Попов Н. В., Плотников Р. И., Федорова С. И. Применение рентгеновского квантометра КРФ-12 для анализа сталей. Там же С. 7−14.

6. Величко Ю. И., Калинин Б. Д., Мясникова В. М., Плотников Р. И., Ревенко А. Г. Рентгенофлуоресцентное определение меди в латунях // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л., Машиностроение. 1975. Вып. 16. С. 46−50.

7. Баранов A.A., Калинин Б. Д., Плотников Р. И., Величко Ю. И., Ревенко А. Г., Межевич А. Н., Мясникова В. М. Применение способа теоретических поправок при рентгеиоспектральном анализе сплавов на основе меди // Заводская лаборатория. 1975. Т. 41, № 11. С. 1329−1330.

8. Калинин Б. Д., Плотников Р. И., Величко Ю. И., Ревенко А. Г., Федорова J1.M. Теоретическая оценка возможности применения метода внешнего стандарта при рентгеиоспектральном анализе порошковых продуктов аглодоменного производства // Новые методы испытания металлов. М., Металлургия. 1977. № 4. С. 88−92.

9. Величко Ю. И., Калинин Б. Д., Межевич А. Н. Плотников Р.И., Ревенко А. Г. Исследование зависимости величин теоретических поправок от химического состава проб при РСА сталей // Заводская лаборатория. 1977. Т. 43, № 4. С. 437−442.

Ю.Величко Ю. И., Калинин Б. Д., Плотников Р. И., Орлова З. А., Ревенко А. Г. Зависимость поправочных коэффициентов от условий возбуждения РСА сплавов способом теоретических поправок // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. JL, Машиностроение. 1978. Вып.20. С. 140−146.

П.Калинин Б. Д., Плотников Р. И., Федорова J1.M. К обоснованию метода теоретических поправок в рентгеиоспектральном анализе // Заводская лаборатория. 1980. Т. 46, № 6. С. 505−507.

12.Калинин Б. Д., Панасюк В. А., Плотников Р. И., Токтарева Е. Г., Федорова П. М., Шамрай З. Я. К методу теоретических поправок в рентгеноспектральном анализе при наличии неопределяемых компонентов // Заводская лаборатория. 1981. Т. 47, № 6. С. 39−40.

13.Калинин Б. Д., Лобашева Н. М., Плотников Р. И., Рыльков В. П., Давыдова Р. Т., Панасюк В. А. Использование метода теоретических поправок в программном обеспечении рентгеновского аналитического комплекса КРФ-18/М-6000 // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л., Машиностроение. 1981. Вып.25. С. 153−158.

14.Калинин Б. Д., Плотников Р. И. Раздельный учет эффектов поглощения и избирательного возбуждения в методе теоретических поправок при рентгеноспектральном анализе // Заводская лаборатория. 1981. Т. 47, № 9. С. 53−56.

15.A.C. 958 934 СССР. Способ выявления гетерогенности материалов / Плотников Р. И., Калинин Б. Д., Федорова П. М. // Заявлено 15.09.1982. Бюл. № 34.

16.Калинин Б. Д., Плотников Р. И. Основные метрологические характеристики рентгеновских спектрометров и их связь с воспроизводимостью анализа // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л., Машиностроение. 1982. Вып.28. С. 3−8.

17.Никольский А. П., Калинин Б. Д., Бердичевский Г. В., Вершинин A.C., Гамаюнова М. А, Замараев В. П., Лобашева Н. М., Лякишев В. Т., Плотников Р. И., Чебукина В. М. Автоматизированная система рентгеноспектрального контроля состава металла в процессе плавки // Заводская лаборатория. 1982. Т. 48, № 9. С. 37−38.

18.Калинин Б. Д., Плотников Р. И Токтарева Е. Г. Инструментальная погрешность рентгеноспектрального анализа продуктов черной металлургии // Заводская лаборатория. 1982. Т 48, № 12. С. 26−28.

19.3вездина Г. А., Калинин Б. Д., Чебукина В. М. Анализ нержавеющих сталей на рентгеновском комплексе СРМ-18/М-6000 // Заводская лаборатория. 1982. Т. 48, № 1. С. 86−88.

20.Калинин Б. Д., Карамышев Н. И, Плотников Р. И., Вершинин A.C. Учет изменения эффективной длины волны в рентгеноспектральном анализе способом теоретических поправок // Заводская лаборатория. 1985. Т. 51, № 8. С. 25−27.

21.Калинин Б. Д., Плотников Р. И Рентгеноспектральный анализ сталей и его промышленное внедрение // Заводская лаборатория. 1986. Т. 52, № 2 С. 22−30.

22.Калинин Б. Д., Плотников Р. И. Оценка погрешности рентгеноспектрального анализа // Заводская лаборатория. 1992. Т. 58, № 9. С. 21−22.

23.Калинин Б. Д., Карамышев Н. И., Плотников Р. И. Программное обеспечение многоканальных рентгеновских спектрометров // Заводская лаборатория. 1993. Т. 59, № 11. С. 20−22.

24.Калинин Б. Д., Плотников Р. И. Подвальный Я.А. Рентгеноспектраль-ный анализ сталей и сплавов // Заводская лаборатория. 1993. Т. 59, № 9. С. 16−20.

25.Калинин Б. Д., Карамышев Н. И. Плотников Р.И. Контроль и корректировка просчетов в рентгеноспектральном анализе // Заводская лаборатория. 1994. Т. 60, № 4. С. 20−23.

26.Kalinin B.D., Plotnikov R.I. XRF determination of heavy metals in waters, soils and foodstuffs // Modern Aspects of analytical chemistry (Analyt. Russian-German-Ukrainian Symp., Dusseldorf. 16−21.03.97) / Kuss H.M., Telgheder U., Proc., Dusseldorf. 1997. P. 235 — 241.

27.Kalinin B.D., Plotnikov R.I. Application of the portable X-Ray spectrometer SPARK-1M for analysis of steel and alloys // Modern Aspects of analytical chemistry (Analyt. Russian-German-Ukrainian Symp., Dusseldorf. 16−21.03.97) / Kuss H.M., Telgheder U., Proc., Dusseldorf. 1997. P. 242 -252.

28.Калинин Б. Д., Плотников Р. И., Савельев C.K. Метод парциальных коэффициентов влияния в рентгенофлуоресцентном анализе // New Approaches to High-Tech Materials: Nondestructive Testing and Computer Simulation in Material Science and Engineering / Proceeding of SPIE. St. Petersburg, Russia. 1998. V. 3345. P. 24−28.

29.Калинин Б. Д., Плотников Р. И. Рентгенофлуоресцентный анализ следов вещества// Заводская лаборатория. 1998. Т. 64, № 2. С. 16 — 24.

30.Калинин Б. Д., Карамышев Н. И., Плотников Р. И., Пшеничный Г. А., Шимараев М. В., Набоков A.M., Сорокина Н. М., Цизин Г. И. Применение портативного спектрометра СПАРК-1М для определения тяжелых металлов в объектах окружающей среды. // Заводская лаборатория. 1998. Т. 64, № 8. С. 15−19.

31.Калинин Б. Д., Плотников Р. И. Применение портативного рентгеновского спектрометра СПАРК-1М для анализа сталей и сплавов // Заводская лаборатория. 1998. Т. 64, № 9. С. 29−32.

32.Карамышев Н. И., Калинин Б. Д., Воеводская Е. А., Плотников Р. И., Драчева Н. Е. Программный комплекс НАЛАДКА-W СПАРК-1М. Свидетельство об официальной регистрации программы для ЭВМ № 990 133, РОСПАТЕНТ, Москва, 15.03.1999 г.

33.Карамышев Н. И., Калинин Б. Д., Воеводская Е. А., Плотников Р. И. Программный комплекс KOPCA-W СПАРК-1М. Там же, № 990 123, 12.03.1999 г.

34.Карамышев Н. И., Воеводская Е. А., Калинин Б. Д., Плотников Р. И. Программный комплекс ВЭТА-W СПАРК-1М. Там же, № 990 234, 30.04.1999 г.

35.Карамышев Н. И., Калинин Б. Д., Воеводская Е. А., Плотников Р. И. Программный комплекс СПЕКТР-W СПАРК-1М. Там же, № 990 405, 18.06.1999 г.

36.Калинин Б. Д., Плотников Р. И., Костиков Ю. П. К возможности использования портативного рентгеновского спектрометра СПАРК-1М для исследования химической связи // Прикладная химия. 2001. Т. 74, Вып.11. С. 1825−1828.

37.Пшеничный Г. А., Каминский Е. Ю., Леман Е. П., Калинин Б. Д., Бакче-ван В. В. Состояние и перспективы развития методов рентгенофлуо-ресцентного анализа вещества в лабораторных и полевых условиях их применения // Российский геофизический журнал. СПб.: «Рудгео-физика». 2002. Т. 29−30. С. 34−51.

38.Brytov I.A., Plotnikov R.I., Kalinin B.D. Usability of portable X-ray spectrometer for discrimination of valence states // Advances in X-ray Analysis, 2002. V. 45, P. 409−414.

39.Калинин Б. Д., Варламов A.B., Мосичев В. И., Першин Н. В. Новый рентгеновский комплекс «Спектроскан» (спектрометр-дифрактометр) и его аналитические возможности // Прогрессивные материалы и технологии. СПб.: Прометей. 2002. № 5. С. 84−86.

40.Kalinin B.D., Plotnikov R.I., Savelyev S.K. Comparison of calculated and measured metrology characteristics of steel and alloy composition determination by portable x-ray spectrometers // Lasers for Measurements and Information Transfer / Proceedings of SPIE. St. Petersburg, Russia. 2002. V. 5066. P. 312−318.

41.Varlamov A.V., Kalinin B. D Light elements quantitative determination with x-ray mini diffractometer // Lasers for Measurements and Information Transfer / Proceedings of SPIE. St. Petersburg, Russia. 2002. V. 5066. P. 337−343.

42.Жижин И. П., Калинин Б. Д., Литинский A.B., Руднев А. В., Сафонов Л. А. Рентгенофлуоресцентные спектрометры серии «СПЕКТРО-СКАН МАКС». Аналитические характеристики // Аналитика и контроль. 2003. Т. 7, № 4. С. 463−430.

43.Калинин Б. Д., Смыслов А. А. Рентгенофлуоресцентное определение основных породообразующих компонентов железомарганцевых конкреций // Заводская лаборатория. 2006. Т. 72, № 6. С. 29−32.

44.Дудик С. Л., Калинин Б. Д., Плотников Р. И., Савельев С. К. Оценка глубины выхода флуоресцентного излучения из проб исследуемых материалов и определение толщин плёнок и покрытий на рентгеновском спектрометре «СПЕКТРОСКАН MAKC-GV» // Аналитика и контроль. 2006. Т. 10, № 3−4 С. 282−289.

45.Мосичев В. И., Николаев Г. И., Калинин Б. Д. Металлы и сплавы. Анализ и исследование. Методы атомной спектроскопии. Атомно-эмиссионный, атомно-абсорбционный и рентгенофлуоресцентный анализ: Справ. СПб.: НПО «Профессионал», 2006. 716 с.

выводы.

Разработан новый методологический подход к количественному рентгенофлуоресцентному анализу, основанный на способах теоретических поправок с раздельным учетом влияющих факторов, априорной оценки метрологических параметров рентгенофлуоресцентного анализа, разработки уравнений связи для учета взаимных влияний, оценки степени гетерогенности материала.

1. Показано, что при постоянных условиях монохроматического возбуждения и отсутствии эффектов избирательного возбуждения, способ теоретических поправок позволяет получать точные значения содержаний определяемых элементов при использовании постоянных теоретических коэффициентов в любом диапазоне содержаний определяемого и влияющих элементов.

2. Предложен способ теоретических поправок с раздельным учетом эффектов матричного поглощения и избирательного возбуждения при возбуждении флуоресценции смешанным (тормозным и характеристическим) первичным излучением рентгеновской трубки. Предложены варианты способа теоретических поправок при использовании в качестве градуировочной характеристики отношение интенсивностей аналитических линий.

Разработан способ анализа с переменными теоретическими поправками — абсорбционными факторами. Разработаны критерии применимости способа теоретических поправок к анализу конкретных материалов, в том числе и гетерогенных.

3. Установлено, что метрологические параметры количественного рентгенофлуоресцентного анализа могут быть выражены через основные аналитические характеристики рентгеновского спектрометра, теоретические коэффициенты (абсорбционные факторы) и условия измерения. Разработан способ априорной оценки метрологических параметров РФА конкретного материала для рентгеновского спектрометра выбранного типа. Предложен способ оценки не основных факторов в погрешность РФА.

4. Разработан способ построения уравнений связи, использующий для своей реализации сведения о геометрии спектрометра, анализируемом материале и требования к точности определения элементов. Способ позволяет на основе оценки и минимизации ожидаемого среднего квад-ратического отклонения результатов измерений или на основе оценки и минимизации ожидаемого максимального отклонения получить уравнение связи с минимальным количеством коэффициентов до проведения измерений на спектрометре.

Разработаны способы прогнозирования и количественной оценки эффекта снижения межэлементных влияний при использовании в качестве градуировочной характеристики отношение интенсивностей аналитических линий.

5. Разработаны алгоритмы и комплексы программных средств, позволяющие реализовать разработанный методологический подход к количественному рентгенофлуоресцентному анализу. В программном комплексе количественного анализа влияние химического состава корректируется с помощью комбинированного способа учета межэлементных влияний: стандарта-фона, множественной регрессии, теоретических поправок с раздельным учетом влияющих факторов и использования в качестве градуировочной характеристики отношение интенсивностей аналитических линий.

6. Разработаны и внедрены в аналитическую практику методики количественного рентгенофлуоресцентного анализа природных и техногенных материалов. Девять методик для сканирующих рентгеновских спектрометров аттестованы в соответствии с ГОСТ Р 8.563−96 в ведущих институтах Госстандарта России: УНИИМ, ВНИИМС, ВНИИФТРИ, ВНИИМ.

7. Расширены аналитические возможности РФА за счет разработки алгоритмов определения толщин покрытий и химического сдвига внутренних рентгеновских линий.

Показать весь текст

Список литературы

  1. М.И. Физика рентгеновских лучей. М.: ОНТИ, 1936. 302 с.
  2. А., Аллисон С. Рентгеновские лучи. Теория и эксперимент. М.-Л.: ГИТТЛ, 1941. 170 с.
  3. М.А. Физика рентгеновских лучей. М.: ГИТТЛ, 1957. 518 с.
  4. В.Я. Рентгенофлуоресцентный анализ горных пород способом фундаментальных параметров. Магадан: СВКНИИ ДВО РАН, 1999. 279 с.
  5. Jenkins R., Gould R.W. Dale Gedcke. Quantitative X-Ray Spectrometry. New York: Marcel Dekker, Inc., 1995. 485 p.
  6. Lachance G.R., Claisse F., Chessin H. Quantitative X-Ray Fluorescence Analysis: Theory and Application. New York: Wiley, 1995. 400 p.
  7. Н.Ф. Количественный рентгеноспектральный флуоресцентный анализ. М.: Наука, 1969. 336 с.
  8. Н.Ф., Смагунова А. Н. Основы рентгеноспектрального флуоресцентного анализа. М.: Химия, 1982. 207 с.
  9. Г. В. Основы физики рентгеновского излучения. М.: ФИЗМАТЛИТ, 2007. 240 с.
  10. Г. А., Жуковский А. Н., Мейер Л. В. Высокочувствительный рентгенофлуоресцентный анализ на базе полупроводникового детектора. М.: Энергоатомиздат, 1991. 254 с.
  11. М.А., Швейцер И. Г. Рентгеноспектральный справочник. М.: Наука, 1982. 376 с.
  12. А.Г. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ природных материалов. Новосибирск: ВО Наука. Сибирская издательская фирма, 1994. 264 с.
  13. Р.И., Пшеничный Г. А. Флуоресцентный рентгенора-диометрический анализ. М.: Атомиздат, 1973. 64 с.
  14. A.B. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ в геологии и геохимии. JL: Недра, 1985. 144 с.
  15. О.С., Комяк Н. И. Фотонные коэффициенты взаимодействия в рентгенорадиометрическом анализе. Справочник. JL: Энерго-атомиздат, 1988. 223 с.
  16. П.А. Рентгеноспектральный анализ. Вопросы теории и способы унификации. Киев.: Наукова Думка, 1984. 160 с.
  17. Якубович A. JL, Зайцев Е. И., Пржиялговский С. М. Ядернофизиче-ские методы анализа минерального сырья. М.: Атомиздат, 1973. 392 с.
  18. Рентгенофлуоресцентный анализ. Применение в заводских лабораториях. Под ред. X. Эрхардта. М.: Металлургия, 1985. 256 с.
  19. О.С. Парциальные коэффициенты ослабления К-серии характеристического рентгеновского излучения. Методические рекомендации. Владивосток: ВЦ ДВО АН СССР, 1988. 180 с.
  20. О.С. Парциальные коэффициенты ослабления L-серии характеристического рентгеновского излучения. Методические рекомендации. Владивосток: ВЦ ДВО АН СССР, 1988. 180 с.
  21. Marenkov O.S., Komyak N.I. Handbook of photon coefficients in ra-dioisotope-excited X-Ray fluorescence analysis. New York: Nova Science Publishers, 1991.222 p.
  22. Н.Ф., Смагунова A.H. Основы рентгеноспектрального флуоресцентного анализа. М.: Химия, 1982. 207 с.
  23. М.А. Методы рентгеноспектрального анализа. Автореф.. .дис. д-ра ф.-м. наук. Ростов-на-Дону, РГУ, 1952. 24 с.
  24. М.А. Методы рентгеноспектральных исследований. М.: Физматгиз, 1959. 336 с.
  25. Н.Ф. Способ внешнего стандарта в рентгеновском спектральном флуоресцентном анализе // Изв. АН СССР, сер. физ. 1960. Т.24, № 4, С. 476−486.
  26. Н.Ф. Исследование способа внешнего стандарта при рент-геноспектральном флуоресцентном анализе минерального сырья. Автореф. дис. канд. ф.-м. наук. Иркутск, ИГУ, 1960.
  27. А.И., Лаврентьев Ю. Г. Оценка эффектов избирательного возбуждения второго и третьего порядка при рентгенофлуоресцент-ном анализе // Тез. докл. XI Всесоюзного совещания по рентгеновской спектроскопии. Л., НПО «Буревестник», 1975. С. 64.
  28. Н.Ф., Павлинский Г.В, Изучение условий компенсации эффекта избирательного возбуждения рентгеновской флуоресценции // Журнал технической физики. 1968. Т.38, № 10. С.1803−1809.
  29. Н.Ф. Теория возбуждения рентгеновской флуоресценции и приемы нахождения однозначных связей ее интенсивности с элементарным составом излучателя. Автореф. дис. д-ра ф.-м. наук. Ростов-на1. Дону, РГУ, 1968.46 с.
  30. Н.Ф., Афонин В. Н., Ревенко А. Г. О возбуждении рентгеновской флуоресценции в длинноволновой области // Заводская лаборатория. 1966. Т.32, № 4. С. 418−422.
  31. Г. В., Лосев Н. Ф. К вопросу возбуждения вторичного спектра смешанным первичным излучением // Заводская лаборатория. 1963. Т.29, № 9. С. 1067−1070.
  32. Г. В., Лосев Н. Ф. К выбору первичного излучения при возбуждении рентгеновского спектра флуоресценции // Заводская лаборатория. 1964. Т.30, № 2. С. 165−168.
  33. Г. В., Лосев Н. Ф., Маков В. Н. Влияние спектрального состава первичного излучения на точность способа калибровки в рентгеновском флуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. 1965. Т.31, № 9. С. 1077−1081.
  34. Г. В., Лосев Н. Ф. К оценке избирательного возбуждения рентгеновской флуоресценции в случае смешанного первичного излучения // Журнал технической физики. 1969. Т.39, № 9. С. 1664−1675.
  35. Г. В. Исследование интенсивности рентгеновского спектра флуоресценции, возбужденного смешанным первичным излучением. Автореф. дис.канд. ф.-м. наук, Иркутск, 1966.
  36. Gillam Е., Heal Н.Т. Some problems in the analysis of steels by X-ray fluorescence // Brit. J. of Appl. Phys. 1952. V.3. P. 353−358.
  37. Miller R. Die Berechund der Sichkurvtn Rontgen fluoreszenz Intensitat Konzentration in Gemischen // Specrtochim. Acta. 1962. V.18, N 18. P. 123 133.
  38. Pollai G., Mantler M., Ebel H. Uber die Beruckssichigung von Ron-genfluoreszintensitaten // Specrtochim. Acta. 1971. V.26B. P. 733−746.
  39. Sherman J. Simplification of a formula in the correlation of fluorescent X-Ray intensities mixtures // Spectrochim. Acta. 1959. V. l 1. P. 466−470.
  40. Sherman J. The theoretical derivation X-ray intensities from mixtures // Spectrochim. Acta. 1955. V.7. P. 283−306.
  41. Shiraiwa T., Fujino N. Theoretical calculation of fluorescent X-ray intensities in fluorescent X-ray spectrochemical analysis // Jap. J. of Appl. Phys. 1966. V.5, № 10. P. 886−899.
  42. Ю.И., Махотко В. Ф., Ревенко А. Г., Исследование вклада эффектов рассеяния рентгеновского излучения в интенсивность спектров флуоресценции // Заводская лаборатория. 1976. Т.42, № 11. С. 13 381 341.
  43. Ebel H., Hillbrand Е. Uber der Einfluss der Sekundaranregung und der Strenung auf die Rontgenfluoreszenzintensitaten bei der Losung RFA // Spectrochim. Acta. 1972. V.27B, № 10. S. 462−469.
  44. Ю.И. Разработка, исследование и применение способа рентгеноспектрального анализа, основанного на использовании теоретических поправок. Автореф. дис.канд. техн. наук. М.: Гиредмет, 1979.23 с.
  45. В. П. Пискунова Л.Ф. Расчет интенсивности рентгеновского характеристического излучения, возбужденного фотоэлектронами анализируемого образца // Заводская лаборатория. 1978. Т.44, № 9. С. 1083−1086.
  46. Г. В., Гуляев В. Т. Оценка вклада фото- и оже-электронов в возбуждении флуоресцентного рентгеновского излучения // В кн. Исследования в области физики твердого тела. Вып.2. Иркутск, 1974. С. 230−233.
  47. Ф.Е., Волков В. Ф. Эффект подвозбуждения фотоэлектронами при рентгенофлуоресцентном анализе ионно-имплантирован-ных слоев // Заводская лаборатория. 1990. Т. 56. № 9. С. 41−43.
  48. Г. В. Повышение точности учета матричных эффектов в рентгенофлуоресцентном анализе многокомпонентных материалов: Автореф. дис. д-ра физ.-мат. наук. М.: 1989. 31 с.
  49. Pavlinsky G.V., Dukhanin A.Yu. Calculation of photo- and Auger electron contribution to X-ray fluorescence exaltation of elements with low atomic number // X-Ray Spectrometry. 1994. V.23. P. 221−228.
  50. Г. В., Владимирова Л. И. О роли фото- и ожеэлектро-нов в возбуждении рентгеновской флуоресценции // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.: Машиностроение, 1988. Вып. 37. С. 6569.
  51. Н.Ф. Способ внешнего стандарта в рентгеновском спектральном флуоресцентном анализе // Изв. АН СССР. Сер. физ. 1960. Т. 24, № 4. С. 476−486.
  52. Ebel H., Meizew W., Dirschmid H., Wigendristel A. Die effective wrllenlange in der quantitative Rontgenfluoreszenanalyse // Spectrochim. Acta. 1969. V. 24b. S. 3534−362.
  53. Kaiman Т., Heller L. Theoretical study of X-ray fluorescent determination of traces of heavy elements in light matrix // Anal. Chem. 1962. V. 34. P. 946−951.
  54. Miller R. Spectrochemische Analysen mit Rontgenfluoreszenz. Munchen: 1967. 515 p.
  55. Piuchery M.M. Recherche de une metode absolue de dosage par fluorescence X applicable minces de fer-nickel abtenues par evaporation sous vide // Spectrochim. Acta. 1963. V. 19, № 2. P. 233−240.
  56. Shiraiwa Т., Fujino N. Application of Theoretical calculation to Fluorescent X-Ray Spectrochemical Analysis // Appl. Phis. Japan. 1966. V. 5. P. 886−899.
  57. Tertian R. Quantitative X-Ray fluorescence analysis using solid solution specimens a theoretical study of the influence of the quality of primary radiation // Spectrochimica Acta. 1971. V.26 B, № 2. P.71−94.
  58. Tertian R. Discussion of Quantitative X-Ray fluorescence analysis using solid solution specimens a theoretical study of the influence of the quality of primary radiation — A reply // Spectrochimica Acta. 1972. V.27 B, № 4. P. 155−157.
  59. Г. В., Китов Б. И. О монохроматическом приближении при расчетах интенсивности рентгеновской флуоресценции // Заводская лаборатория. 1980. Т.46, № 6. С. 502−505.
  60. В.П. Теория количественного анализа по длинноволновым спектрам рентгеновской флуоресценции. Автореф. дис. д-ра техн. наук. М.: 1978. 47 с.
  61. Г. В., Китов Б. И., Прозоровский В. А., Дугов Г. В. Учет расходимости пучка первичных рентгеновских лучей при возбуждении рентгеновской флуоресценции // Исследования в области физики твердого тела. Иркутск: 1974. Вып. 2. С. 234−238.
  62. В.П. К оценке интенсивности L- и М-первичных рентгеновских спектров тяжелых элементов // Изв. АН СССР. Сер. физ. 1967. Т. З, № 6. С.1006−1008.
  63. Birks L. X-ray Spectrochemical Analysis. N.Y., 1960. 143 p.
  64. Gilfrich J.V., Burkhalter P.G., Witloch R.R. Spectral distribution of a thin window rhodium target X-Ray spectrographie tube // Analytical Chemistry. 1971.-V.43, № 7. P. 934−936.
  65. Gilfrich J. V., Birks L.S. Spectral distribution of X-ray tubes for quantitative X-ray fluorescence analysis // Anal. Chem. 1968. V. 40, N 7. P. 10 771 080.
  66. Г. В., Величко Ю. И., Ревенко А. Г. Программа расчета интенсивностей аналитических линий рентгеновского спектра флуоресценции // Заводская лаборатория, 1977. Т. 43, № 4. С. 433−436.
  67. Ю.И., Ревенко А. Г. Количественная оценка влияния некоторых факторов на результаты расчета интенсивностей рентгеновского спектра флуоресценции // Исследования в области физики твердого тела. Иркутск. ИГУ. 1974. Вып. 2. С. 204−211.
  68. А.Г., Величко Ю. И. Использование теоретических интенсивностей в количественном рентгеноспектральном анализе // Аппаратура и методы рентгеноспектрального анализа. Л.: Машиностроение, 1979. Вып. 22. С. 134−145.
  69. Weisweiler W. Massenabsorptionkoeffizienten von Rontgenlinien // Microchim. Acta. 1970. № 4. P. 744−764.
  70. Bambinek W., Grasemann В., Fink R.W. et al. X-ray fluorescence yields, Auger and Coster-Kronig transition probabilities // Rev. Mod. Phys. 1972. V. 44, N4. P. 716−813.
  71. Byrne J., Howarth N. The K-shell fluorescence yield and of atomic shell structure effects // J. of Physics. 1970. B3. P. 80−291.
  72. Fink R.W., Jobson R.C., Mark H. et al. Atomic Fluorescence yields // Rev. Mod. Phys. 1966. V. 38, N 3. P. 513−514.
  73. А.И., Лаврентьев Ю. Г. Оценка дополнительного возбуждения при рентгенофлуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. 1976. Т.42, № 6. С. 674−680.
  74. Ю.И., Ревенко А. Г. Количественная оценка влияния некоторых факторов на результаты расчета интенсивностей рентгеновского спектра флуоресценции // Тезисы докл. совещ. «Атомная спектроскопия и спектральный анализ». Киев, 1975. С. 14−15.
  75. Heinrich Н. X-ray absorption uncertainty // The Electron Microprobe. N.Y., 1966. P. 296−377.
  76. Theisen R., Togel K., Vollath D. Massenschwachungskoeffizienten von Rontgenslinien//Mikrochim. Acta. 1967. Suppl. 11, N6. S. 16−24.
  77. Leroux J. Method for finding mass absorption coefficients by empirical equations and graphs // Advances in X-Ray Analysis. 1962. V. 5. P. 153−160.
  78. Ю.В. Метод наименьших квадратов и основы теории обработки наблюдений. М.: Физматгиз, 1962. 349 с.
  79. В.Т. Феноменологические методы рентгеноспектрального флуоресцентного анализа. Автореф. дис. канд. техн. наук. Ростов-на Дону, 1973.
  80. А.Я., Плотников Р. И. Применение ступенчатого метода поиска оптимальных форм регрессионных уравнений в рентгеноспек-тральном анализе // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.: Машиностроение, 1975. Вып. 17. С. 151−155.
  81. Stephenson D.A. Multivariable analysis of quantitative X-Ray emission data. The system zirconium oxide-silicon oxide-calcium oxide-cerium oxide //Analytical Chemistry. 1971. V. 43, № 3. P. 310−318.
  82. B.B. Теория оптимального эксперимента. M.: Наука, 1971.
  83. Н.А. Приложение теории экспериментов к задачам спектрального анализа // Тез. докл. XII Уральского совещания по спектроскопии. Свердловск, 1971.
  84. А.Н., Паньков С. Д., Болормаа О. Выбор оптимальных условий рентгенофлуоресцентного анализа с помощью уравнений связи // Conference on X-Ray Analysis (September 29−30, 2006, Ulaanbaatar, Mongolia). C. 53−62.
  85. H.C. Численные методы. M.: Наука, 1975. 632 с.
  86. А.А. Поиск. М.: Наука, 1970. 264 с.
  87. Е.Г., Горский Ю. И., Межевич А. Н., Плотников Р. И., Таткин Л. З. Работа рентгеновских многоканальных спектрометров вкомплекте с управляющей ЭВМ //-Аппаратура и методы рентгеновского анализа. JL, Машиностроение, 1975. Вып. 16. С. 13−19.
  88. И.Д., Сорин М. И., Шехель А. З., Шифрин В. В. Математические модели и статистические характеристики рентгеновского анализа // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.: Машиностроение, 1972. Вып. 10. С. 114.
  89. Alley В., Myers R. Calibration method for the X-ray fluorescence analysis of multicomponent mixtures//Norelco Rep. 1968. V. 15, N 3. P. 87−9.
  90. Shen R.- Russ J. A simplified fundamental parametere method for quantitative energy-dispersive X-Ray fluorescence analysis // X-Ray Spectrometry. 1977. V. 6, № 1. P. 56 61.
  91. В.Т., Дуймакаев Ш. И. Обобщение уравнения связи в рент-геноспектральном флуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. 1974. Т. 40, № 8. С. 958−961.
  92. М.А., Белов В. Т., Дуймакаев Ш. И., Попова-Гречишина Л.Н. Феноменологические уравнения связи в рентгеноспектральном анализе // Заводская лаборатория. 1973. Т. 39, № 9. С. 1081.
  93. Criss J.W., Birks L.S. Calculation methods for fluorescent X-Ray spectrometry. Empirical coefficients v.s. fundamental Parameters // Anal. Chem. 1968. V. 40, № 7. P. 1080−1086.
  94. Ф.П. Определение концентрации элементов способом подбора теоретического стандарта // Изв. АН. Каз. ССР, сер. хим. 1966. № 3. С. 97−98.
  95. В.П., Гуничева Т. Н., Харченко A.M., Пискунова Л. Ф. Расчет поправок на поглощение при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе горных пород // Заводская лаборатория. 1974. Т. 40, № 6. С. 655−659.
  96. В.П., Гуничева Т. Н., Пискунова Л. Ф., Ложкин В. И. Теоретические поправки на матричные эффекты при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. 1976. Т. 42, № 6. С. 670−674.
  97. A.M., Афонин В. П. Программа для расчета результатов рентгеноспектрального анализа многокомпонентных образцов // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.: Машиностроение. 1974. Вып. 15. С. 160−164.
  98. Ciccarelli M.A. Quan-a Computer program for quantitative X-ray fluorescence analysis // Anal. Chem. 1977. V. 49, № 2. P. 345−346.
  99. Gould R.W., Bates S.R. Some application of computer program for quantitative spectrochemical analysis // X-ray Spectrom. 1972. V. 1, N l.P. 1206−1219.
  100. Shen R.- Russ J. A simplified fundamental parameters method for quantitative energy-dispersive X-Ray fluorescence analysis // X-Ray Spectrometry. 1977. V. 6, № l. p. 56 61.
  101. Stephenson D.A. Theoretical analysis of quantitative X-ray emission data: glasses, rocks and metals // Anal. Chem. 1971. V. 43, N 3. P. 17 611 764.
  102. В.И., Походня И. К., Марченко A.E. Рентгеноспек-тральный анализ с одним эталоном и корректировкой интенсивностей на ЭВМ // Заводская лаборатория. 1972. Т. 38, № 2. С. 167−169.
  103. В.И., Першин Н. В., Баранов А. А., Николаев Г. И., Шушканов В. М. Опыт эксплуатации рентгеновского спектрометра, управляемого ЭВМ. Л.: ЛДНТП. 1978. 28 с.
  104. Rasberry S., Heinrich Н. Calibration for interelement effects in X-ray fluorescence analysis // Anal. Chem. 1974. V.46, N 1. P. 81−89.
  105. Beattie H., Brissy R. Calibration method for X-ray fluorescence spectrometry // Anal. Chem. 1952. V. 26, N 6. P. 980−989.
  106. Burnham H., Houier J., Jones L. Generalized X-ray emission spectro-graphic calibration applicable to varying composition and sample forms // Anal. Chem. 1957. V. 29, N 12. P. 1827−1834.
  107. Lachance G.R., Traill R.J. A practical Solution to the Matrix Problem in X-Ray Analysis // Canadian J. of Spectroscopy. 1966. V. 11, № 2. P.43−48.
  108. Marti W. On the determination of the inter-element effect in the X-ray fluorescence analysis of steels // Spectrochem. Acta. 1962. V. 18, N 12. P. 1499−1504.
  109. Traill R., Lachance G. Practical solution to the matrix problem in X-ray analysis // Can. Spectr. 1966. V. 11, N 3. P. 63−71.
  110. Lucas-Tooth HJ., Price B.J. A mathematical method for the investigation of inter-element effects in X-ray fluorescent analysis // Metallurgia. 1961. V. 64, № 383. P. 149−152.
  111. Lucas-Tooth H.J., Pyne C. The accurate determination of major constituents by X-ray fluorescent analysis in the presence of large interelement effects // Advances X-Ray Anal. 1964. V. 7. P. 533−542.
  112. Tertian R. A new approach to the study and control of interelement effect in the X-Ray fluorescence analysis of metal alloys and other multi-components system // X-Ray Spectrometry. 1973. V. 2, № 3. P. 95−105.
  113. Tertian R. Concerning interelemental crossed, effects in X-ray fluorescence analysis // X-Ray Spectrometry. 1974. V. 3, N 3. P. 102−108.
  114. Claisse E., Quintin M. Generalization of the Lachance-Traill Method for the correction of the matrix effect in X-Ray fluorescence analysis // Canadian J. of Spectroscopy. 1967. V. 12. P. 129−132.
  115. Lachance G.R. A fundamental coefficients for X-ray analysis // Can. Specrt. 1970. V. 15, N 3, P. 195−197.
  116. Rousseau R., Claisse F. Theoretical alpha coefficients for the Claisse-Quintin relation for the X-ray spectrochemical analysis // X-Ray Spectrometry. 1974. V. 3, N1. P. 31−36.
  117. В.П. Успехи рентгенофлуоресцентного анализа // Журнал аналитической химии. 1980. Т. 35, № 12. С. 2428−2440.
  118. В.П. Рентгенофлуоресцентный метод анализа // Журнал ВХО им. Д. И. Менделеева. 1980. Т. 25, № 6. С. 610−615.
  119. В.И., Першин Н. В., Николаев Г. И. Теоретический учет межэлементных влияний на основе нового градуировочного уравнения связи. В кн. Тезисы докладов XII Всесоюзного совещания по рентгеновской спектроскопии. Л., ЛНПО «Буревестник», 1978. С. 32.
  120. В.И., Першин Н. В., Николаев Т. Н., Ковалева Н. Б. Теоретический учет межэлементных влияний на основе нового градуировочного уравнения связи // Заводская лаборатория. 1981. Т.47, № 6. С. 4148.
  121. Laffolie H. Die Rontgenfluorezenzanalyse von Stahlen // Arch. Eis-enhuttenwes. 1967. V. 38, N 7. P. 535−540.
  122. Shiraiwa T., Fujino N. Application of theoretical calculations to X-ray fluorescence analysis // The Pittsburgh conference on analytical chemistry and applied spectroscopy. Paper. N 284. 1967. P. 1−15.
  123. Shiraiwa T., Fujino H. Theoretical Correction for Coexistent of Alloy Steel // Advances in X-Ray Analysis. 1968. V.2. P. 63−94.
  124. Shiraiwa T., Fujino N. Theoretical correction procedures for X-ray fluorescence analysis // X-Ray Spectrometry. 1974. V. 3, N 2. P. 64−73.
  125. Jongh W.K. X-Ray fluorescence analysis applying theoretical matrix corrections. Stainless steel // X-Ray Spectrometry. 1973. V. 2, № 3. P. 151 158.
  126. Willis J.P., Lachance G.R. Comparison between some common influence coefficient algorithms // X-Ray Spectrometry. 2004. V. 33. P. 181 188.
  127. Ю.Г., Кузнецова А. И. Уравнения связи в рентгено-флуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. 1979. Т. 45, № 4. С. 315−326.
  128. Tertian R. Mathematical matrix correction procedures for X-ray fluorescence analysis. A critical survey // X-Ray Spectrometry. 1986. V. 15, N 3. P. 177−190.
  129. Rousseau R.M. A comprehensive alpha coefficient algorithm (a second version) // X-Ray Spectrometry. 1987. V. 16, N 3. P. 103−108.
  130. Lachance G.R. Introduction to alpha coefficients // Canada: Corporation Scientifique Claisse Inc. 1990. 189 p.
  131. Tertian R., Claisse F. Principles of quantitative X-Ray fluorescence analysis.// England: John Wiley & Sons. 1982. 385 p.
  132. Rousseau P.M., Bouchard M. Fundamental algorithm between concentration and intensity in X-ray analysis // X-Ray Spectrometry. 1986. V. 13, N 3. P. 207−213.
  133. Broil N., Tertian R. Quantitative X-ray fluorescence analysis by use of fundamental influence coefficients // X-Ray Spectrometry. 1983. V. 12, N1.P. 30−37.
  134. Broil N. Quantitative X-ray fluorescence analysis. Theory and practice of the fundamental coefficient method // X-Ray Spectrometry. 1986. V. 15, N4. P. 271−285.
  135. Tertian R. The Claisse-Quintin and Lachance-Claisse alpha correction algorithms and their modifications. A critical examination // X-Ray Spectrometry. 1987. V. 16, N 4. P. 261−268.
  136. Pella P.A., Tao G.Y., Lachance G.R. Intercomparison of fundamental parameter interelemen correction methods // X-Ray Spectrometry. 1986. V. 15, N4. P. 251−258.
  137. А.И., Лаврентьев Ю. Г. Полиномиальная аппроксимация коэффициентов динамических уравнений связи при рентгенофлуо-ресцентном анализе // Заводская лаборатория. 1984. Т. 50, № 3. С. 21−24.
  138. Kuczumov A. The concentration correction equations as a consequence of the Shiraiwa and Fujino equation // X-Ray Spectrometry. 1982. V.1., N3.P. 112−116.
  139. Lachance G.R. Defining and deriving theoretical influence coefficients in XRF Spectrometry //Advances X-Ray Anal. 1987. V. 31. P. 471 -478.
  140. A.JI., Гуничева Т. Н., Афонин В. П., Микрюков В. Г. Алгоритм коррекции на матричные эффекты при рентгенофлуорес-центном анализе сталей // Журн. аналит. химии. 1990. Т. 45, № 3. С. 527 -534.
  141. Lachance G.R., Claisse F. A comprehensive alpha coefficients algorithm // Adv. X-Ray Anal. 1980. V. 23. P. 87−92.
  142. Rousseau R.M. Fundamental algorithm between concentration and intensity in XRF analysis // X-Ray Spectrometry. 1984. V. 13, N 3. P. 113−120.
  143. Л.А., Межевич А. Н., Комяк Н. И., Румш М. А. Специализированный рентгеновский квантометр для анализа крупнозернистых образцов // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.: СКВ рентгеновской аппаратуры. 1967. Вып. 1. С. 30−37.
  144. С.С., Сериков И. В. О некоторых характеристиках рентгеновского спектрометра ФРС-2 (АРС-13) // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.: СКБ рентгеновской аппаратуры. 1967. Вып. 4. С. 168−171.
  145. Х.Ш., Казакевич Л. М., Шаензон В. И. Универсальный коротковолновый рентгеновский спектрометр типа ФРС-3,// Annaратура и методы рентгеновского анализа. Л.: СКБ рентгеновской аппаратуры. 1967. Вып. 1. С. 59−63.
  146. Brytov I.A., Mezhevich A.N. X-ray spectrometers in Russia: history of their development and present-day status // X-Ray Spectrometry. 2002. V. 31, № 3. P. 195−202.
  147. С.П. Аналитическое оборудование производства ЗАО «Научприбор» г. Орел // Тезисы докладов XVIII Уральская конференция по спектроскопии. Екатеринбург, 2007. с. 165.
  148. Н.В. Современные рентгенофлуоресцентные приборы Bruker AXS для науки и производства. XVI Уральская конференция по спектроскопии. Екатеринбург. 2003. С. 288.
  149. Н.В., Головков A.B. Современный рентгеновский анализ в науке и производстве // XVII Уральская конференция по спектроскопии. Екатеринбург. Тез. докл. 2005. С. 219.
  150. В.А. Современные рентгеновские аналитические системы для науки и промышленности // V Всероссийская конференция по рентгеноспектральному анализу. Тез. докл. Иркутск. 2006.
  151. В.Н. Современное рентгеновское оборудование Bruker AXS // II Всероссийская конференция по аналитической химии. Тез. докл. Краснодар. 2007.
  152. Т., Голов П. Я., Щербаков К. Г., Мягких В. И. Новая серия энергодисперсионных спектрометров корпорации Шимадзу для элементного микроанализа // XVI Уральская конференция по спектроскопии. Тез. докл. Екатеринбург. 2003. С. 268.
  153. К.Г. Современное аналитическое оборудование компании «Shimadzu» // V Всероссийская конференция по рентгеноспектральному анализу. Тез. докл. Иркутск. 2006.
  154. Bellant Peter Новые рентгенофлуоресцентные спектрометры корпорации «Thermo» // V Всероссийская конференция по рентгеноспектральному анализу. Тез. докл. Иркутск. 2006.
  155. Н.Г. Рентгеновская аналитическая аппаратура производства компании PANalytical B.V., Нидерланды // V Всероссийская конференция по рентгеноспектральному анализу. Тез. докл. Иркутск. 2006.
  156. Н.Г. Рентгеновская аналитическая аппаратура производства компании PANalytical B.V. (бывшая PHILIPS Analytical), Еидер-ланды // II Всероссийская конференция аналитические приборы. Тез. докл. СПб.: 2005.
  157. В.П., Гуничева Т. Н., Пискунова Л. Ф. Рентгенофлуорес-центный силикатный анализ. Новосибирск: Наука, 1984. 227 с.
  158. Ю.А., Савостин А. П. / Методы пробоотбора и пробопод-готовки.-М.: БИНОМ. Лаборатория знаний. 2003. 243 с.
  159. Ю.А., Цизин Г. И., Дмитриенко С. Г., Моросанова Е. И. / Сорбционное концентрирование микрокомпонентов из растворов: применение в неорганической химии. М.: Наука, 2007. 320 с.
  160. А.П., Королев Е. Ф., Зубков С. Н., Узихин В. В. Опыт использования квантометра первичного возбуждения КЭП-191 // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.: Машиностроение, ЛНПО «Буревестник». 1974. Вып. 15. С. 141−146.
  161. Л.В., Арапова Т. М. Применение рентгеновского спектрометра СРМ-25 для анализа валкового чугуна // Заводская лаборатория. 1999. Т. 65, № 11. С. 67.
  162. Raul A. Barrea, Raul T. Mainardi. Standardless XRF analysis of stainless-steel samples // X-Ray Spectrom., 1998. V. 27, N 2. P. 111−116.
  163. B.B. Коррекция матричных эффектов первичной и вторичной флуоресценции при РСА сталей // Заводская лаборатория. 1997. Т. 63, № 9. С. 55−57.
  164. Verkhovodov P. X-Ray Fluorescent Analysis of Steel Using VERBA-XRF Conception // EXRS 2006 European Conference on X-Ray Spectrometry, Paris, France June 19−23. 2006. P9−3, P. 225.
  165. Amitava Ray, Sanjay K. Dhua, Sudhaker Jha. Electron-probe microanalysis: some applications in the assessment of steel product quality // X-Ray Spectrom. 1999. V. 28, N 1. P. 41 50.
  166. Parus J., Raab W., Donohue D.L. Comparison of a compact energy-dispersive spectrometer with a wavelength-dispersive spectrometer for brass and stainless steel // X-Ray Spectrom. 2001. V. 30, N 5. P. 296 300.
  167. И.Ф., Батурин А. А., Бугаев Е. А. Определение углерода в сталях на портативной рентгеноспектральной аппаратуре // Заводская лаборатория. 2007. Т. 73, № 10. С. 26−28.
  168. Н.В., Соболева И. О., Денисова Т. Б. Разработка методики РФА феррохрома на спектрометре СРМ-25. // XV Уральская конференция по спектроскопии 18−21 сент. 2001. Тез. докл. Заречный. 2001. С. 68.
  169. Coedo A.G., Dorado Т., Padilla I., Alguacil F. J. X-ray fluorescence determination of major and minor elements in ferrotitanium, ferroniobium and ferrovanadium from compressed pellets and fusion beads // X-Ray Spectrom. 2002. V. 31, N6. P. 424−431.
  170. Т.Е., Карпов Ю. А., Вернидуб О. Д. Рентгенофлуорес-центный анализ монолитных проб ферромолибдена и ферротитана // Заводская лаборатория. 2007. Т. 73, № 9. С. 18−21.
  171. И.Н., Низамова Л. А. Опыт применения РФ анализатора Quan-X при анализе модификаторов комплексных для чугуна и стали. XVI Уральская конференция по спектроскопии, 9−12 сент. 2003 г., Новоуральск, Тез. докл., Екатеринбург, 2003. С. 95−97.
  172. Christoph N. Zwicky, Peter Lienemann. Quantitative or semi-quantitative?-laboratory-based WD-XRF versus portable ED-XRF spectrometer: results obtained from measurements on nickel-base alloys // X-Ray Spectrom. 2004. V. 33, N 4. P. 294−300.
  173. Verigin A.A., Naymik A.I., Madzhara E.O. Energy dispersive X-ray fluorescense method of analyse of steel and alloys (3-P216) ICAS-2006, June, 25 30, 2006. Book of Abstr. V.2, P. 698.
  174. А.И., Веригин A.A., Маджара E.O. РФА сталей и сплавов на ЭД спектрометрах. V Всероссйская конференция по рентгенос-пектральному анализу. Иркутск, 30.05.06 02.06.06 г. Тез. докл., 2006. С. 34.
  175. A.A. Теоретическая коррекция матричных эффектов при РФА сплавов металлов. XVI Уральская конференция по спектроскопии, 9−12 сент. 2003 г., Новоуральск. Тез. докл. Екатеринбург, 2003. С. 112 113.
  176. С.Н. Исследование рентгеновской флуоресценции и разработка метода РФ определения твердосплавных карбидных смесей марок ВК, ТК, ТТК, MC. Цветные металлы. 2002. № 3. С. 80−81.
  177. Н.П. Рентгенофлуоресцентный анализ по относительным интенсивностям спектральных линий компонентов. Экспресс-диагностика материалов // Заводская лаборатория. 2004. Т. 70, № 6. С. 3.
  178. Н.П. Рентгенофлуоресцентный анализ по относительным интенсивностям спектральных линий компонентов. Анализ образцов произвольных размеров и формы. // Заводская лаборатория. 2004. Т. 70, № 8. С. 3.
  179. Н.П. Рентгенофлуоресцентный анализ по относительным интенсивностям спектральных линий компонентов. Анализ произвольных массивных образцов в тонких слоях. // Заводская лаборатория. 2005. Т. 71, № 8. С. 3.
  180. Н.П. Количественный рентгенофлуоресцентный анализ по отношениям интенсивностей спектральных линий компонентов. Заводская лаборатория. 2007, Т. 73, № 9. С. 8−17.
  181. Н.П. РФА по относительным интенсивностям спектральных линий компонентов. Аналитика России // Всерос. конф. по анал. хим. М., 27.09−01.10.2004. Тез.докл., М., 2004. С. 259.
  182. O.M., Келешева A.B., Потанина A.B., Козлов В. А., Смагунова А. Н. Разработка экспрессной методики рентгенофлуорес-центного анализа сплавов черных металлов во вторичном сырье // Заводская лаборатория. 2007. Т. 73, № 11. С. 15.
  183. Ю.С., Сафонов JI.A. Рентгеноспектральный анализ продуктов износа газотурбинных двигателей способом фундаментальных параметров // Заводская лаборатория. 2007. Т. 73, № 4. С. 12.
  184. А.В., Миловзоров Н. Г. ЭД РФА стандартных ювелирных сплавов при криминалистических исследованиях // Заводская лаборатория. 2002. Т 68, № 2. С. 3−5.
  185. В.В., Шур А.А., Омельник А. П. и др. Анализ элементного состава платинородиевых сплавов методом РФА // Заводская лаборатория. 2003. Т 69, № 5. С. 17 20.
  186. Cernohorsky Т, Pouzar М, Jakubec К. ED XRF analysis of precious metallic alloys with the use of combined FP method // Talanta. V. 69, Issue 3. 15 May 2006. P. 538−541
  187. Rossiger V. The Effect of Nonhomogeneity of Gold and Platinum Alloys Using EDXRF Analysis. EXRS 2006 European Conference on X-Ray Spectrometry, Paris, France June 19−23, 2006. P. 9−14. P. 236.
  188. И.Д., Сучков А. И. Рентгеноспектральный метод аналитического контроля изделий из ювелирных сплавов. 2-я Всероссийская конференция по аналитической химии, г. Туапсе, 7−12 октября 2007 г. Материалы конференции. С. 149.
  189. Laguitton D. Mass thickness measurement of pure element films by X-Ray fluorescence spectroscopy // X-Ray Spectrometry. 1977. V. 6, № 4. P. 187−191.
  190. Laguitton D. LAMA I a general FORTRAN program for quantitative X-Ray fluorescence analysis / D. Laguitton, M. Mantler // Adv. X-Ray Anal. 1977. V. 20. P. 515−528.
  191. М.А., Краснолуцкий В. П. Эффективная длина волны первичного излучения при рентгеноспектральном анализе тонких плёнок. // Деп. в ВИНИТИ 22. 03. 1978, № 1205−78. Томск. 17 с.
  192. В.И., Вершинина Н. В. К монохроматическому приближению при рентгенофлуоресцентном анализе пленок. // Деп. ВИНИТИ 28.01.83, № 522−83. Ростов-на-Дону, 18 с.
  193. Н.В., Чирков В. И., Тимошевская В. В. Расчет эффективной длины волны для однокомпонентных ненасыщенных и насыщенных слоёв. XIV Всесоюзное совещание по рентгеновской и электронной спектроскопии: Тез. докл. Иркутск, 1984. кн. 2. С. 91.
  194. В.И. Количественный рентгенофлуоресцентный анализ многокомпонентных плёночных материалов с учетов влияния подложки // Дис.. канд. хим. наук. Ростов-на-Дону, 1978. 105 с.
  195. Verheijke M.L., Witmer A.W. On the calculation of X-ray fluorescence intensities excited from thin layers on thick substrates // Specrtochimi-cal Acta, 1978, V. 33B, N 10−12. P. 817−831.
  196. Laguitton D., Parrish W. Simultaneous determination of composition and mass thickness of thin films by quantitative X-ray fluorescence analysis // Analytical Chemistry. 1977. V. 49, N 8. P. 1152−1156.
  197. Н.В., Дуймакаев Ш. И., Чирков В. И., Вершинин A.C. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ многокомпонентных плёнок способом теоретических поправок // Заводская лаборатория, 1983. Т. 49, № 12. С. 23−25.
  198. Н.В., Дуймакаев Ш. И., Чирков В. И. Рентгено-флуоресцентный анализ плёнок способом теоретических поправок для широкого диапазона изменения концентраций элементов и поверхностной плотности // Деп. ВИНИТИ 13.05.86, № 3480-В. Ростов-на-Дону, 17 с.
  199. Sitko R. Theoretical influence coefficients for correction of matrix effects in X-ray fluorescence analysis of intermediate thickness samples // X-Ray Spectrometry, 2006. V. 35, N 2. P. 93−100.
  200. Kataoka Y., Kohno H., Furusawa E., Mantler M. XRF analysis of Zn-Fe alloy coatings by using measurements at two take-off angles // X-Ray Spectrometry. 2007. V. 36, N 4. P. 221−225.
  201. Kataoka Y., Kohno H., Furusava E., Mantler M. Anslysis of Zn-Fe alloy coatings by using measuring under two take-off angles // EXRS 2006 European Conference on X-Ray Spectrometry, Paris, France June 19−23, 2006. 011−5. P. 75.
  202. Han X.Y., Zhuo S.J., Wang P.L. Analysis of films by X-ray fluorescence spectrometry // Guang Pu Xue Yu Guang Pu Fen Xi. 2006. Jan- 26(1). P. 159−165.
  203. Han X.Y., Zhuo S.J., Shen R.X., Wang P.L., Tao G.Y., Ji A. Calculation of the contribution of scattering effects to X-ray fluorescence intensity for coating samples // Spectrochimica Acta. 2006. V. 61B (2). P. 113−119.
  204. Vogt C., Dargel R. Determination of layer thickness with micro XRF // Applied Surface Science. 2005. V. 252, Issue 1. P. 53−56.
  205. W. // Thickness Determination of Nano-Layers Challenges for Coating Thickness Analysis // EXRS 2006 European Conference on X-Ray Spectrometry, Paris, France — June 19−23, 2006, P2−3. P. 122.
  206. Koleleni Y.I.A., Kondoro J.W.A. // X-ray fluorescence spectrometry in Dar es Salaam. X-Ray Spectrometry, 2006, 35(1), p. 40−41.
  207. Formica S.P., Lee S.M. X-ray fluorescence system for thin film composition analysis during deposition // Thin Solid Films. 2005. V. 491, N 1−2. P. 71−77.
  208. Michael Kolbe, Burkhard Beckhoff, Michael Krumrey, Gerhard Ulm. THICKNESS DETERMINATION OF COPPER AND NICKEL NANOLAYERS: COMPARISON OF COMPLETELY REFERENCE-FREE
  209. X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS AND X-RAY REFLECTOMETRY // The 54th Annual Denver X-ray Conference will be held 1−5 August in Colorado Springs, CO, at the Sheraton Colorado Springs, 2005.
  210. ГОСТ 3559–75 «Лента стальная для бронирования кабелей». М.: Изд-во стандартов, 19 с.
  211. И.А., Оболенский Е. А., Гольденберг М. С., Рабинович Л. Г., Антоева Т. М., Магдин Ю. А. Вакуумный рентгеновский спектрометр САРФ-1, управляемый ЭВМ // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л., Машиностроение. 1983. Вып. 29. С. 14 18.
  212. М.А., Никифоров И .Я. Вакуумный двукристальный рентгеновский спектрометр // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.: Машиностроение. 1972. Вып. 10. С. 89 94.
  213. Л.Н. Рентгеновские спектры. Новосибирск: ИНХ СО РАН, 2003. 329 с.
  214. Zhiliang Li, Ruqin Yu, Leming Shi, Jun Xu, Maosen Zhang and Qin-guang Wang. Valence-state speciation of sulfur by x-ray fluorescence spec-tometry and Kalman filtering // Anal. Chim. Acta. 1991. V. 248, N 1. P. 257 261.
  215. О.И. Малые энергетические смещения рентгеновских линий. Автореф. дис.. д-ра ф.-м. наук. Л., ФТИ, 1965. 18 с.
  216. О.И. Смещение рентгеновских К-линий при изменении валентности и изоморфных фазовых переходов в редких землях // Успехи физических наук. 1978. Т. 124, № 2. С. 281−306.
  217. Р.Л., Нефёдов В. И. Рентгеноспектральное определение заряда атомов в молекулах. М., Наука, 1966. 193 с.
  218. М.Н., Куприянова Т. А., Лямина О. И. Одновременное определение содержания и формы нахождения элементов в твердом теле методом РФА // Журн. аналит. хим. 2001. Т. 56, № 8. С. 817 824.
  219. Т.А., Лямина О. И., Муханова А. А., Филиппов М. Н. Рентгенофлуоресцентные спектры растворов // V Всероссйская конференция по рентгеноспектральному анализу. Тез. докл. Иркутск. 2006. С. 53.
  220. Shinjiro Hayakawa, Takehide Hirose, Liang Yan, Makoto Morishita, Hiroaki Kuwano, Yohichi Gohshi. Synchrotron radiation x-ray excited optical luminescence for chemical state selective analysis // X-Ray Spectrometry. 1999. V. 28, N6. P. 515−518.
  221. Tokuzo Konishi, Jun Kawai, Manabu Fujiwara, Tsutomu Kurisaki, Hisanobu Wakita, Yohichi Gohshi. Chemical shift and lineshape of highresolution Ni Ka x-ray fluorescence spectra // X-Ray Spectrometry. 1999. V. 28, N 6. P. 470−477.
  222. Sawhney K. J. S., Lodha G. S., Kataria S. K., Kulshreshtha S. K. Chemical effects in x-ray fluorescence by study of Fe, Pt and U compounds // X-Ray Spectrom. 2000. V. 29, N 2. P. 173−177.
  223. Kessler T., Hoffmann P., Greve T., Ortner H.M. Optimization of the identification of chemical compounds by energy-dispersive x-ray fluorescence spectrometry and subsequent multivariate analysis // X-Ray Spectrom. 2002. V. 31, N 5. P. 383−390.
  224. Ernesto Perino, Maria Torres Deluigi, Roberto Olsina, Jose Alberto Riveros. Determination of oxidation states of aluminium, silicon and sulfur // X-Ray Spectrom. 2002. V. 31, N 2. P. 115−119.
  225. Ankudinov A.L., Elam W.T., Sieber J. R., Rehr J.J. Chemical speciation via X-ray emission spectra // X-Ray Spectrometry. V. 35, N 5. P. 312−318.
  226. John T. Armstrong. Determination of Chemical Valence State by X-ray Emission Analysis Using Electron Beam Instruments: Pitfalls and Promises // Anal. Chem. 1999. V. 71, N 14. P. 2714−2724.
  227. Hiromi Eba, Chiya Numako, Junji Iihara and Sakurai K. Trace Chemical Characterization Using Monochromatic X-ray Undulator Radiation // Anal. Chem. 2000. V. 72, N11. P. 2613−2617.
  228. Mokuno Y., Horino Y., Chayahara A., Kinomura A., Tsubouchi N., Fujii K., Terasawa M., Sekioka T. and Mitamura T. High energy resolution
  229. PIXE with high efficiency using the heavy ion microbeam // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 1997. V. 130, Issues 1−4. P. 243−246.
  230. Shiori Nishibu, Susumu Yonezawa and Masayuki Takashima. Chemical state analysis of fluorine in various compounds using X-ray fluorescence spectra // Journal of Fluorine Chemistry. 2005. V. 126, Issue 7. P. 1048−1053.
  231. Deluigi M.T., Tirao G., Stutz G., Cusati C., Riveros J.A. Dependence with the oxidation state of X-ray transition energies, intensities and natural line widths of CrKb spectra // Chemical Physics. 2006. V. 325, Issues 2−3. P. 477−484.
  232. Kavcic M., Dousse C.K., Szlachetko J., Cao W. Chemical Effects in the Emission Spectra of Sulfur // EXRS 2006 European Conference on X-Ray Spectrometry, Paris, France June 19−23, 2006, Pl-2. P. 115.
  233. A.c. 614 367 СССР. Флуоресцентный рентгеновский спектрометр / Анисович К. В., Комяк Н. И. // Заявлено 26.09.75. Опубликовано 05.08. 1978. Бюл. № 25.
  234. К.В., Жижин И. П., Крекнин Ю. С. «СПЕКТРОСКАН-V» современная модель вакуумного сканирующего кристалл-дифракционного спектрометра для количественного анализа состава вещества// Заводская лаборатория, 1996. Т. 62, № 10. С. 58−62.
Заполнить форму текущей работой

Заказал и сдал!