Дипломы, курсовые, рефераты, контрольные...
Срочная помощь в учёбе

Формирование и исследование свойств нитевидных нанокристаллов в матрице пористого анодного оксида алюминия

Диссертация: Формирование и исследование свойств нитевидных нанокристаллов в матрице пористого анодного оксида алюминия
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Аюуальные проблемы твердотельной электроники и микроэлектроники", Дивноморское, 2004; 6-я международная конференция «Опто-, наноэлектроника, нанотехнологии и микросистемы», Туапсе, 2004; конференция студентов и аспирантов по естественным, техническим наукам и инновационным научно-образовательным проектам. Звенигород, 2004; III российско-японский семинар «Оборудование и технологии для производства… Читать ещё >

Содержание

  • 1. Современные представления о физических свойствах и технологиях наноматериалов
    • 1. 1. Нанотехнология и перспективы ее развития
    • 1. 2. Современные методы получения нитевидных нанокристаллов методами самоорганизации
      • 1. 2. 1. Получение нитевидных нанокристаллов из газовой фазы методом
      • 1. 2. 2. Получение нитевидных нанокристаллов с участием оксида
      • 1. 2. 3. Получение нитевидных нанокристаллов из газовой фазы по схеме Газ — твердое тело
      • 1. 2. 4. Карбонотермические реакции
      • 1. 2. 5. Рост нитевидных нанокристаллов из растворов БЬБ (8о1ийоп-Ндшё-БоНф
      • 1. 2. 6. Нитевидные нанокристаллы полученные методами самоорганизации
    • 1. 3. Получение массивов нитевидных нанокристаллов с использованием пористых матриц
      • 1. 3. 1. Золь-гель метод
      • 1. 3. 2. Метод химического осаждения из водных растворов
      • 1. 3. 3. Электрохимическое осаждение
    • 1. 4. Сравнительный анализ нанопористых материалов
      • 1. 4. 1. Пористый кремний
      • 1. 4. 2. Трековые мембраны
      • 1. 4. 3. Синтетические наноструктурированные опалы
      • 1. 4. 4. Пористые стекла
      • 1. 4. 5. Пористый анодный оксид алюминия
    • 1. 5. Свойства нанокристаллов
      • 1. 5. 1. Термодинамические свойства нанокристаллов
      • 1. 5. 2. Оптические свойства нанокристаллов
    • 1. 6. Выводы и постановка задачи на диссертационную работу
  • 2. Техника эксперимента и особенности его проведения
    • 2. 1. Методика изготовления слоев пористого анодного оксида алюминия
      • 2. 1. 2. Подготовка поверхности алюминия
      • 2. 1. 2. Формирование пористого оксида алюминия
    • 2. 2. Технология электрохимического осаяедения металлов в поры анодного оксида алюминия
    • 2. 3. Методика сульфидизации и селенизации металлических нанокристаллов

    2.4 Методы исследования свойств металлических и полупроводниковых нанокристаллов встроенных в матрицу пористого анодного оксида алюминия. ф 2.4.1 Исследование геометрии полученных наноструктур методами атомно-силовой микроскопии.

    2.4.2 Исследование фазовых переходов в массивах металлических нанокристаллов методом дифференциальной сканирующей калориметрии.

    2.4.3 Исследование оптического поглощения наноструктурами методом спектрофотометрии.

    3 Разработка технологии формирования упорядоченных массивов металлических и полупроводниковых нитевидных нанокристаллов.

    3.1 Особенности технологии формирования упорядоченной

    Ф матрицы пористого анодного оксида алюминия.

    3.1.1 Механизм формирования и структура слоев пористого анодного оксида алюминия.

    3.1.2 Анализ зависимости свойств пористого анодного оксида алюминия от условий его формирования.

    3.1.3 Исследование кинетики процесса формирования пористого анодного оксида алюминия в гальваностатическом и потенциостатическом режимах.

    3.1.4 Исследование кинетики процесса формирования пористого анодного оксида алюминия в режиме термической стабилизации.

    3.1.5 Методика формирования пористого анодного оксида алюминия, учитывающая взаимосвязь технологических параметров процесса.

    3.1.6 Исследование влияния технологических факторов процесса анодного окисления алюминия на степень упорядоченности структур пористого анодного оксида алюминия.

    3.2 Технология электрохимического осаждения металлов в матрицу пористого анодного оксида алюминия.

    3.2.1 Особенности технологии осаждения металлов в матрицу пористого анодного оксида алюминия в режиме постоянного тока.

    3.2.2 Переходные процессы в системе алюминий-пористый оксид алюминия-электролит.

    3.2.3 Исследование структуры и состава нитевидных нанокристаллов, осажденных в матрицу пористого анодного оксида алюминия в режиме переменного тока.

    3.3 Получение полупроводниковых нанокристаллов сульфидизацией и селенизацией металлов.

    3.4 Выводы по главе

    4 Исследование термодинамических и физических свойств нитевидных нанокристаллов.

    4.1 Исследование температуры плавления нитевидных нанокристаллов индия, кадмия и цинка встроенных в матрицу пористого анодного оксида алюминия.

    4.2 Исследование оптических свойств нитевидных нанокристаллов серебра встроенных в матрицу пористого анодного оксида алюминия.

    4.3 Выводы по главе 4.

    5.1 Области применения разработанных технологий при создании элементов микро- и наноэлектроники.

    5.1 Рекомендации по использованию разработанных в работе методик анализа и управления электрохимическими процессами.

    5.2 Особенности конструктивного исполнения диффузионной печи для сульфидизации и селенизации встроенных в нанопористые матрицы металлических нанокристаллов.

    5.3 Рекомендации по использованию массивов металлических нанокристаллов, встроенных в матрицу пористого анодного оксида алюминия, в качестве фотонных кристаллов.

    5.4 Твердые маски на основе оксида алюминия для обеспечения нелитографического метода формирования поверхностных периодических наноструктур.

    5.5 Калибровочные структуры для оценки качества микромеханических зондов атомных силовых микроскопов.

    5.6 Выводы по главе 5.

Формирование и исследование свойств нитевидных нанокристаллов в матрице пористого анодного оксида алюминия (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

АКТУАЛЬНОСТЬ. Одним из приоритетных направлений развития науки, технологий и техники Российской Федерации является — «Индустрия наносистем». В рамках данного направления выделена критическая технология — «Нанотехнологии и наноматериалы». Это обусловлено тем, что наноструктуры представляют практический и научный интерес как для понимания фундаментальных электронных, магнитных, оптических, тепловых и механических свойств материалов, имеющих нанометровые размеры, так и с точки зрения создания на их основе приборов с принципиально новыми физическими свойствами, обеспечивающих существенное повышение функциональных характеристик электронных и оптических приборов, а также сенсоров.

Одним из перспективных подобных объектов являются одномерные нанокристаллы, качественно новые физические свойства в которых обусловлены их развитой поверхностью и квантово-размерными эффектами.

В настоящее время наряду с традиционными методами формирования нанокристаллов (молекулярно-лучевая эпитаксия, электронная литография, ионно-лучевая литография) развиваются методы их самоорганизации. К ним относятся рост из газовой фазы и растворов, физические методы, такие как термическое или лазерное осаждение, а также химические методы, включая термические, гидротермические и карбонотермические реакции.

Одним из перспективных направлений является создание упорядоченных массивов нанокристаллов различных материалов в нанопористых матрицах, поскольку подобные структуры наиболее эффективно могут быть использованы для целей интегральной микрои наноэлектроники. Подходящей матрицей для их формирования является пористый анодный оксид алюминия. В настоящее время как у нас в стане, так и за рубежом ведутся интенсивные исследования как в области разработки технологий формирования и исследования свойств массивов нанокристаллов, встроенных в пористые матрицы, так и в создании подходов к формированию на их основе электронных устройств.

ЦЕЛЬ РАБОТЫ. Выявление закономерностей процесса формирования массивов металлических и полупроводниковых нанокристаллов в матрице пористого анодного оксида алюминия и исследование их свойств.

Для достижения поставленной цели необходимо было решить следующие конкретные задачи: провести исследование кинетики процесса формирования матриц пористого анодного оксида алюминиявыявить факторы, определяющие свойства формируемых слоев пористого анодного оксида алюминияразработать методику управления параметрами процесса синтеза слоев анодного оксида алюминия для повышения степени упорядоченности его структурыисследовать особенности кинетики электрохимического формирования металлических нитевидных нанокристаллов в матрице пористого анодного оксида алюминияразработать процесс электрохимического осаждения металлов в поры алюминия в режиме переменного токаисследовать особенности процессов получения полупроводниковых нанокристаллов методом сульфидизации и селенизации металловисследовать термодинамические и оптические свойства упорядоченных массивов нанокристаллов, встроенных в пористые матрицы. НАУЧНАЯ НОВИЗНА на примере формирования оксида алюминия предложена методика анализа электрохимического процесса формирования пористых оксидных пленок, основанная на непрерывном во времени контроле электрофизических характеристик процесса и температурывыявлены зависимости величин напряжения и плотности тока от температуры в зоне реакции электрохимического процесса анодного окисления алюминия. Предложен способ формирования оксида алюминия с упорядоченной структурой путем термостабилизации зоны реакции электрохимической ячейкипредложено электрофизическое представление двухслойной структуры: пористый анодный оксид алюминия — алюминий, включенной в электрохимическую ячейку, позволившее разработать процесс электрохимического осаждения металлов в поры оксида алюминия в режиме переменного токапредложен способ преобразования массивов металлических нанонитей, встроенных в матрицу пористого анодного оксида алюминия, в сульфиды и селениды, заключающийся в их обработке в инертной среде, содержащей пары серы или селена, при температурах, превышающих температуру плавления металловустановлена немонотонная зависимость температуры плавления металлических нанокристаллов, встроенных в матрицу пористого анодного оксида алюминия, от их латеральных размеров, обусловленная корреляцией величины поверхностного натяжения и радиуса нанокристаллов. ПРАКТИЧЕСКАЯ ЦЕННОСТЬ РАБОТЫ. Разработанные методики анализа электрохимического процесса формирования пористых оксидных пленок и его термостабилизации обеспечили возможность гибкого управления геометрическими параметрами элементарных ячеек оксида и упрощения технологии получения оксидных пленок с упорядоченной структурой. Данные методики могут быть применимы при проведении подобных электрохимических процессов.

Разработанные технологии формирования металлических нанокристаллов, встроенных в матрицу пористого оксида алюминия, являются потенциальной базой для создания на их основе оптических фильтров, и других элементов оптоэлекгроники.

Разработанная технология нанопрофилирования полупроводниковых материалов с использованием твердых масок пористого оксида алюминия и плазменного травления обеспечивает возможность создания элементов наноэлектроники и наносистем.

На базе процесса анодного окисления алюминия разработана технология калибровочных структур, являющихся эффективными для оценки качества кантилеверов, используемых в сканирующей зондовой микроскопии. Данные калибровочные структуры изготавливаются по заказам исследовательских групп и были реализованы в следующие университеты, научноисследовательские центры и фирмы:

— Кембриджский университет, Англия.

— Дублинский университет, Ирландия.

— Технический университет, г. Эйндховен, Нидерланды.

— Ноттингемский университет, Англия.

— Университет прикладных наук, г. Аргау, Швейцария.

— «Agar Scientific Ltd.», Англия.

— Университет г. Пенн, США.

— «Наночип», США.

— «Madison Area Tech.», США.

— Университет г. Хьюстон, США.

— Гарвардский университет, США.

— Университет г. Юта, США.

— «PSIA», Корея.

Результаты диссертационной работы использованы в НИР, проводимых в рамках научно-технической программы «Научные исследования высшей школы по приоритетным направлениям науки и техники"-№ 507-ГБ-53-ПТ-ИЭМС, № 528-ГБ-53-Э-ИЭМС.

Результаты работы использованы в НИР, проводимых по заданию министерства образования и науки РФ: № 471-ГБ-53-Б-МФХ, № 634-ГБ-53-Гр.асп-МФХ.

Работа была поддержана Грантами РФФИ № 440-ГБ-54-РФФИ-МФХ, Грантом министерства образования и науки РФ № 488-ГБ-53-Гр-МФХ, Грантом федерального агентства по образованию РФ № 2402/911/40/21−220.

Результаты работы использованы в учебном процессе МИЭТ в курсе лекций «Электрохимические процессы в технологии микрои наноэлектроники», «Физическая химия» и «Материалы электронной техники».

АПРОБАЦИЯ РАБОТЫ. Основные результаты работы докладывались на следующих конференциях и семинарах: Международная конференция студентов, аспирантов и молодых ученых по фундаментальным наукам «Ломоносов — 2004», Москва, 2004; 11-я Всероссийская межвузовская научно-техническая конференция студентов и аспирантов «Микроэлектроника и информатика — 2004», Москва, 2004; XVI научно-технической конференции с участием зарубежных специалистов «Датчик — 2004», Судак, 2004; 9-я Международная техническая конференция.

Аюуальные проблемы твердотельной электроники и микроэлектроники", Дивноморское, 2004; 6-я международная конференция «Опто-, наноэлектроника, нанотехнологии и микросистемы», Туапсе, 2004; конференция студентов и аспирантов по естественным, техническим наукам и инновационным научно-образовательным проектам. Звенигород, 2004; III российско-японский семинар «Оборудование и технологии для производства компонентов твердотельной электроники и наноматериалов», Москва, 2005; 12-я Всероссийская межвузовская научно-техническая конференция студентов и аспирантов «Микроэлектроника и информатика — 2005», Москва, 2005; Международная научно-техническая конференция «Nanomeeting — 2005. Phisycs, chemistry and application of nanostructures», Минск, 2005; XIII Международная школа-семинар «Новые информационные технологии», Судак, 2005, Международная конференция «Микрои наноэлектроника — 2005», Звенигород, 2005. ,.

ПУБЛИКАЦИИ. По теме диссертационной работы опубликованы 22 работы и 5 научно-технических отчетов по НИР.

НА ЗАЩИТУ ВЫНОСЯТСЯ: методика анализа электрохимического процесса формирования пористых оксидных пленок, основанная на непрерывном во времени контроле электрофизических характеристик процесса и температурыспособ формирования оксида алюминия с упорядоченной структурой путем термостабилизации зоны реакции электрохимической ячейкипроцесс электрохимического осаждения металлов в поры оксида алюминия в режиме переменного токаспособ преобразования массивов металлических нанонитей, встроенных в матрицу пористого анодного оксида алюминия, в сульфиды и селениды, заключающийся в их обработке в инертной среде, содержащей пары серы или селена, при температурах, превышающих температуру плавления металловвыявленная зависимость температуры плавления металлических нанокристаллов, встроенных в матрицу пористого анодного оксида алюминия, от их латеральных размеров.

СТРУКТУРА И ОБЪЕМ ДИССЕРТАЦИИ

Диссертация состоит из введения, пяти основных глав с выводами, общих выводов, списка использованных.

5.6 Выводы по главе 5.

1. Методики, разработанные в настоящей работе для анализа и контроля анодного окисления алюминия, с равным успехом могут быть применены для контроля аналогичных операций с подобными электрохимическими процессами. Конструкция разработанной диффузионной печи и методика проведения процесса селенизации и сульфидизации металлических нанокристаллов, встроенных в матрицу пористого оксида алюминия, могут быть тиражированы и использованы для проведения процессов селенизации и сульфидизации аналогичных металлических кристаллов, размещенных в объеме различных пористых материалов.

Металлические и полупроводниковые нитевидные нанокристаллы, встроенные в матрицу пористого анодного оксида алюминия представляют собой один из вариантов реализации фотонных кристаллов, которые могут найти широкое применение в области оптоэлектроники. На основе сравнительного анализа методов создания упорядоченных поверхностных наноструктур выявлено, что нелитографические методы, основанные на применении самоорганизующихся пористых матриц, являются альтернативными существующим методам литографии высокого разрешения. Основным достоинством данных нелитографических методов является их совместимость с развитыми в России технологиями микроэлектроники.

Из ряда самоорганизующихся пористых материалов для организации нелитографического метода создания упорядоченных поверхностных наноструктур особо выделяется пористый анодный оксид алюминия, характеризующийся повышенной воспроизводимостью геометрических параметров наноструктуры и обеспечивающий возможность практической реализации на основе поверхностных наноструктур перспективных элементов наноэлектроники, сенсорики и оптоэлектроники. Выявлено, что слой алюминия, наследующий рельеф предварительно выращенного на нем и затем удаленного пористого оксида алюминия, представляет собой эффективную калибровочную структуру для точного определения радиуса кривизны большинства используемых в сканирующей зондовой микроскопии кантилеверов. Отличительной особенностью технологии создания данных структур является относительная простота. Данные калибровочные структуры прошли успешную апробацию в ряде научноисследовательских центров как в России, так и за рубежом. Технология данных калибровочных структур внедрена в реальное производство.

Заключение

.

Нанокристаллы являются перспективными элементами наноэлектроники, наномеханики, оптоэлектроники, т.к. обладают рядом качественно новых физических свойств, благодаря чему на их основе потенциально возможно создание ряда эффективных электронных устройств.

Одним из приемлемых методов позиционирования нанокристаллов на поверхности и в объеме твердых тел является размещение их в пористых материалах. Из подобных известных материалов выделяют анодный оксид алюминия, который потенциально позволяет формировать в нем упорядоченные массивы нитевидных нанокристаллов с высоким аспектным отношением.

На примере формирования оксида алюминия предложена методика анализа электрохимического процесса формирования пористых оксидных пленок, основанная на непрерывном во времени контроле электрофизических характеристик процесса и температуры;

Выявлены временные зависимости величин напряжения, плотности тока и температуры в зоне реакции процесса анодного окисления алюминия. Предложен способ формирования оксида алюминия с упорядоченной структурой путем термостабилизации электрохимической ячейки в зоне реакции;

Предложена методика процесса формирования анодного оксида алюминия в потенциостатическом режиме, воспроизводящая динамическое изменение температуры с изменением плотности тока, позволившая при ее реализации получить максимальную степень упорядоченности структур пористого оксида алюминия.

Предложено электрофизическое представление двухслойной структуры: пористый анодный оксид алюминия — алюминий, включенной в электрохимическую ячейку, позволившее разработать процесс электрохимического осаждения металлов в поры оксида алюминия в режиме переменного тока;

Предложен способ преобразования массивов металлических нанонитей, встроенных в матрицу пористого анодного оксида алюминия, в сульфиды и селениды, заключающийся в их обработке в инертной среде, содержащей пары серы или селена, при температурах, превышающих температуру плавления металлов;

8. Экспериментально установлено, что с уменьшением латеральных размеров нанокристаллов, встроенных в поры анодного оксида алюминия (на примере 1п, Сё и Хп), температура их плавления монотонно уменьшается, что согласуется с классической теорией.

9. Обнаружено, что, начиная с некоторого размера нанокристаллов (~ 30 нм), уменьшение их диаметра приводит к повышению температуры плавления. Выявленная немонотонная зависимость объясняется зависимостью поверхностного натяжения от радиуса нанокристаллов и в данном случае преобладающим влиянием на термическую стабильность переходного слоя между матрицей и нанокристаллом.

10. На примере нанокристаллов серебра, встроенных в матрицу пористого оксида алюминия, обнаружено, что на спектре их оптического пропускания наблюдается отсутствие максимума в длинноволновой области (А, > 400 нм). Это объясняется высоким аспектным соотношением (более 100) этих нитевидных нанокристаллов.

11. Установлено, что с уменьшением периода структуры данных нанокристаллов край их оптического пропускания смещается в коротковолновую область. Это объясняется соответствующим смещением края фотонной запрещенной зоны структур

12. Развитые методики для анализа и контроля анодного окисления алюминия, с равным успехом могут быть применены для контроля аналогичных операций с подобными электрохимическими процессами. Конструкция разработанной диффузионной печи и методика проведения процесса селенизации и сульфидизации металлических нанокристаллов, встроенных в матрицу пористого оксида алюминия, могут быть тиражированы и использованы для проведения процессов селенизации и сульфидизации аналогичных металлических кристаллов, размещенных в объеме различных пористых материалов.

13. Металлические и полупроводниковые нитевидные нанокристаллы, встроенные в матрицу пористого анодного оксида алюминия представляют собой один из вариантов реализации фотонных кристаллов, которые могут найти широкое применение в области оптоэлектроники.

14. На основе сравнительного анализа методов создания упорядоченных поверхностных наноструктур выявлено, что нелитографические методы, основанные на применении самоорганизующихся пористых матриц, являются альтернативными существующим методам литографии высокого разрешения. Основным достоинством данных нелитографических методов является их совместимость с развитыми в России технологиями микроэлектроники.

15.Из ряда самоорганизующихся пористых материалов для организации нелитографического метода создания упорядоченных поверхностных наноструктур особо выделяется пористый анодный оксид алюминия, характеризующийся повышенной воспроизводимостью геометрических параметров наноструктуры и обеспечивающий возможность практической реализации на основе поверхностных наноструктур перспективных элементов наноэлектроники, сенсорики и оптоэлектроники.

16. Выявлено, что слой алюминия, наследующий рельеф предварительно выращенного на нем и затем удаленного пористого оксида алюминия, представляет собой эффективную калибровочную структуру для точного определения радиуса кривизны большинства используемых в сканирующей зондовой микроскопии кантилеверов. Отличительной особенностью технологии создания данных структур является относительная простота. Данные калибровочные структуры прошли успешную апробацию в ряде научноисследовательских центров как в России, так и за рубежом. Технология данных калибровочных структур внедрена в реальное производство.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Wagner RS, Ellis WC, Silicon whisker growth and epitaxy by the vapour-liquid-solid mechanism //Appl. Phys. Lett. 1964−4: p. 89−91.
  2. Wu Y, Yang P. J Am Chem Soc, 2001- 123:316 p. 5−6.
  3. Lee ST, Wang N, Zhang YF, Tang YH. MRS Bull 1999, p. 36−42.
  4. Wang N, Tang YH, Zhang YF, Lee CS, Lee ST. Phys Rev В 1998- p. 385−386
  5. Trentler TJ, Hickman KM, Geol SC, Viano AM, Gibbons PC, Buhro WE. Science 1995, p. 1791−1794.
  6. N. V. Gaponenko, Journal of Applied Spectroscopy, Vol. 69, No. 1,2002, p. 1−20
  7. B.H Пак, О. Ю. Соломатина, Письма в ЖТФ, 2004, том 30, вып 10, с.26−30
  8. A. Jagminas, S. Lichusina, М. Kurtinaitiene, A. Selskis, Concentration effect of the solutions for alumina template ac filling by metal arrays // Appl. Surf. Sci. 211, (2003). p.194−197
  9. С. X. Gao, Q. F. Liu, D. S. Xue, Preparation and characterization of amorphous p-FeOOH nanowire arrays // Mat. Sci. Lett. 21, (2002) p. 1781−1786.
  10. D. Routkevitch, T. Bigioni, M. Moskovits, J. M. Xu, Electrochemical Fabrication of CdS Nano-Wire Arrays in Porous Anodic Aluminum Oxide Templates // J. Phys. Chem. 100, (1996) pl4037−14 041.
  11. J. Fan, T. Gao, G. Meng, Y. Wang, X. Liu, L. Zhang, Synthesis of CdS nanowires by sulfurization Materials Lett. 57, (2002) p.656−658
  12. V. Parkhutik, Porous silicon. mechanisms of growth and applications // Solid-State Electronics 43 (1999) p. l 121−1141
  13. Canham L.T., Silicon quantum wire array fabrication by electrochemical and chemical dissolution of wafers //Appl.Phys.Lett., Vol.57, № 10, 1990, p.1046−1048.
  14. S. La Monica, G. Maiello, A. Ferrari, G. Masini, S. Lazarouk, P. Jaguiro, S. Katsouba, Progress in the field of integrated optoelectronics based on porous silicon // Thin Solid Films Vol.297, 1997, p.265−267.
  15. В.П.Бондаренко, А. А. Клышко, М. Балукани, А. Феррари, Потери на распространение света в изогнутых интегральных волноводах на основе окисленного пористого кремния // ПЖТФ, 2005, том 31, выпуск 6 с. 17−22.
  16. К. Kordas, А. Е. Pap, S. Веке, S. Leppavuori, Optical properties of porous silicon: Fabrication and investigation of single layers // Optical Materials 25 (2004) p.251−255
  17. Л.А.Осминкина, Е. В. Курепина, А. В. Павликов, В. Ю. Тимошенко, П. К. Кашкаров, Взаимодействие инфракрасного излучения со свободными носителями заряда в мезопористом кремнии // ФТП, 2004, том 38, выпуск 5, с.603−609
  18. Е. V. Astrova, Т. N. Borovinskaya, А. V. Tkachenko, S. Balakrishnan, Т. S. Perova, A. Rafferty, Y. К. Gun’ko, Morphology of macro-pores formed by electrochemical etching of p-type Si // J. Micromech. Microeng. 14 (2004) p. 1022−1028
  19. V.Lehmann, The physics of macroporous silicon formation // Thin Solid Films, Vol.255, 1995, p.1−4
  20. P.Zhang, P. S.Kim, T.K.Sham Nanostructured CdS prepared on porous silicon substrate: structure, electronic, and optical properties J. of appl. phys. v.91, no.9 p. 60 386 043
  21. A. Huczko, Template-based synthesis of nanomaterials // Appl. Phys. A 70,(2000), p.365−376
  22. V.N. Bogomolov, S.V. Gaponenko, A.M. Kapitonov, A.V. Prokofiev, A.N. Ponyavina, N.I. Silvanovich, S.M. Samoilovich, Photonic band gap in the visible range in a three-dimensional solid state lattice // Appl. Phys. A 63, (1996) p.613−616
  23. T.Yamasaki, T. Tsutsui, fabrication and optical properties of two -dimensional ordered arrays of silica microspheres // JpnJ.Appl.Phys. Vol.38 (1999) p.5916−5921.
  24. C.N.R. Rao, F.L. Deepak, Gautam Gundiah, A. Govindaraj. Inorganic nanowires Progress in Solid State Chemistry 31 (2003) p.5−147
  25. И.Н. Анодные оксидные покрытия на металлах и анодная защита. Киев: Наукова думка, 1985. 280 с.
  26. Chakarvarty S.K., Vetter J. Template synthesis a membrane based technology for generation of nano-/micro materials: A review // Radiation Measurements. Vol.29, No.2, 1998, p.149−159
  27. Hideki Masuda, Kenji Kanezawa, and Kazuyuki Nishio Fabrication of Ideally Ordered Nanohole Arrays in Anodic Porous Alumina Based on Nanoindentation Using Scanning Probe Microscope Chem. Lett. 2002 p 1218−1219.
  28. Pawlow P. II Ztschr. phys. Chem. Bd.65, No 1. S. I- 1910. Bd.68,No 3. S.316
  29. Wronski C.R.M. The size dependence of the melting point of small particles of tin //Brit. J. Appl. Phys. 1967. V.18, No 12. p.1731−1736
  30. Patterson B.M., Unruh K.M., Shah S.I. Melting and freezing behavior of ultrafine granular metal films // Nanostruct. Mater. 1992. — Vol. 1. — p. 65−70.
  31. , P. & Borel, J.-P, Size effect on the melting temperature of gold particles // Phys. Rev. A. 1976. V.13, No 6. p.2287.
  32. А.И., Ремпель A.A. Нанокристаллические материалы. M.: Физматлит, 2001.-224 с.
  33. Goldstein A.N., Echer СМ., Alivisatos А. Р, Melting in semiconductor nanocrystals // Science. 1992.V.256, No 5062. p. 1425−1429.
  34. Frenken J.W.M., Maree P.M., van der Veen J, Observation of surface-initiated melting // Phys. Rev. B. 1986. V.34, No 11. p.7506−7512.
  35. Ercolessi F., Andreoni V., Tosatti E, Melting of small gold particles: Mechanism and size effectsT// Phys. Rev. Lett. 1991. V.66, No 7. p.911−919.
  36. Frenken J. W.M., van der Veen J, Observation of Surface Melting // Phys. Rev. Lett. 1985. V.54, No 2. p.134−137.
  37. Berry R., Jellinek J., Natanson G, Melting of clusters and melting // Phys. Rev. A. 1984. V.30, No 3. p.919−923.
  38. Berry R., Wales D, Freezing, melting, spinodals, and clusters // Phys. Rev. Lett. 1989. V.63, No 11. p. l 156−1160.
  39. Iijima S., Ichihashi T, Structural instability of ultrafine particles of metals // Phys. Rev. Lett. 1986. V.56, No 6. p.616−619.
  40. Laurent J. Lewis et. al, Melting, freezing, and coalescence of gold nanoclusters // Phis. Rev. В 15 july 1997−11 v. 56, no. 4, p.448−452
  41. A.N. Goldstein, The melting of silicon nanocrystals: Submicron thin-film structures derived from nanocrystal precursors // Appl. Phys. A 62, (1996), p.33−37
  42. Granqvist C., Hunderi 0, Optical properties of ultrafine gold particles // Phys. Rev. B. 1977. V.16, No 8. p. 3513−3517
  43. Genzel L., Martin T.P., Kreibig U., Dielectric Function and Plasma Resonances of Small Metal Particles // Ztschr. Phys.B. 1975. Bd.21, No 3. S.339, p221−227
  44. Ruppin P., Yatom H. Size and shape effects on the broadening of the plasma resonance absorption in metals // Phys. stat. sol. (b). 1976. V.74, No 2. p.647−651.
  45. Kreibig U., Electronic properties of small silver particles: the optical constants and their temperature dependence // J. Phys. F: Metal Physics. 1974. V.4, No 7. p.999−1002.
  46. Слэтер Дою. Диэлектрики, полупроводники, металлы. М.: Мир, 1969.
  47. Wood D.M., Ashcroft N. W. Quantum size effects in the optical properties of small metallic particles //Phys. Rev. B. 1982. V.25, No 10, p. 103−107
  48. R Montreal, P de Andres and F Flores, Quantum-size effects in the electromagnetic response of small spheres // J. Phys. C: Solid State Phys. 1985,18, p. 4951−4956
  49. Al. L. Efros and M. Rosen, The electronic structure of semiconductor nanocrystals // Annual Review of Materials Science, August 2000, Vol. 30, p. 475−521
  50. А.И., Онущенко A.A., Эфрос Ал.Л. Квантование энергетического спектра дырок в адиабатическом потенциале электрона // Письма в ЖТФ, 1986, том 43, вып 6, с.292−294
  51. Bining G., Quate C.F., Gerber Ch. Atomic force microscope // Phys. Rev. Lett. -1986. Vol. 56, № 9. — p. 930 — 933.
  52. Ducker W., Cook R., Clarke D. Force measurement using an AC atomic force microscopy // J. Appl. Phys. 1985. — Vol. 67, № 9. — p. 4045 — 4052.
  53. Дифференциально сканирующий микрокалориметр. Техническое описание и руководство по эксплуатации. М., 1980
  54. Спектрофотометры. Техническое описание и руководство по эксплуатации. М., 2002
  55. А.Н. Белов, С. А. Гаврилов, Д. А. Кравченко Особенности создания оптических элементов на основе композитов AnBVI А1203. Сб. материалов XVI научно-технической конференции с участием зарубежных специалистов «Датчик — 2004» М. МГИЭМ. 2004. с. 204.
  56. А.Н., Гаврилов С. А., Тихомиров A.A., Шевяков В. И. АСМ диагностика структуры пористого анодного оксида алюминия. Сб. материалов симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника», Нижний Новгород 2005 г, с. 450−451.
  57. А.Н. Белов. Формирование нанокристаллов соединений MexSy встроенных в наноматрицу пористого анодного оксида алюминия. Сб. тез. докл. 12-й всероссийской межвузовской научно-технической конф. студентов и аспирантов М. МИЭТ. 2004. с. 58.
  58. А.Н. Белов, С. А. Гаврилов, И. В Сагунова. Моделирование процесса формирования наноструктур на основе пористого анодного оксида алюминия. Сб. тезисов докладов XIII международной школы-семинара «Новые информационные технологии» М.-.МГИЭМ, 2005, с.328−329
  59. СА.Гаврилов, А. Н. Белов А.В.Железнякова, Е. В. Вишникин, Д. А. Кравченко Электрохимические процессы формирования твердотельных наноструктур. Известия вузов. Электроника. 2005. № 4−5. с.94−97с
  60. А.Н.Белов, С. А. Гаврилов Синтез полупроводниковых нитевидных нанокристаллов методом импульсного электрохимического осаждения с дальнейшей сульфидизацией Известия вузов. Электроника. 2006. № 1. (в печати)
  61. A.N. Belov, S.A.Gavrilov Synthesis of nanowires by pulsed current electrodeposition Abstracts of International conference «1С Micro- and nanoelectronics» Moscow-Zvenigorod. 2005 p. 03−03
  62. S.A.Gavrilov, A.N. Belov, A.V.Zheleznyakova, D.Yu.Barabanov, V.I.Shevyakov, E.V. Vishnikin Factors effected on nanoporous anodic alumina Abstracts of International conference «1С Micro- and nanoelectronics» Moscow-Zvenigorod. 2005 p. P2−03
  63. Н.Д., Заливалов Ф. П. Некоторые закономерности толстослойного анодирования алюминия и его сплавов. В кн.: Анодная защита металлов. М.: Машиностроение, 1964.
  64. А.И. Анодное окисление алюминиевых сплавов. М.: Изд -во АН СССР, 1961.
  65. Strirland D.J. Bicknell R.W. Studies of the Structure of Anodic Oxide Films on Aluminium, J Electrochem. Soc., 1959.
  66. M.H. Заливалов Ф. П., Томашов Н. Д. Электронномикроскопическое исследование микроструктуры анодных окисных пленок на алюминии. Тр. Ин — та физ. химии АН СССР, 1959.
  67. А. P. Li, F. Muller, A. Birner, K. Nielsch, U. Gosele, Hexagonal pore arrays with a 50−420 nm interpore distance formed by self-organization in anodic alumina // J. Appl. Phys. Vol.84, No. 11, 1998, p.6023−6026
  68. N.V.Myung, J. Lim, J.-P.Fleurial, M. Yun, W. West, D. Choi, Alumina nanotemplate fabrication on silicon substrate // Nanotechnology 15 (2004) p.833−838
  69. H. Masuda, H. Yamada, M. Satoh, H. Asoh, M. Nakao, T. Tamamura, Highly ordered nanochannel-array architecture in anodic alumina // Appl. Phys. Lett. 71 (19), 1997, p.2770−2772
  70. S. Z. Chu, K. Wada, S. Inoue, S. Todoroki, Fabrication and characteristics of nanostructures on glass by A1 anodization and electrodeposition, Electrochimica Acta 48,2003), 3147−3151
  71. А.Н. Белов, Д. А. Кравченко, С. А. Гаврилов, Д. Г. Громов, А. С. Мапкова, А. А. Тихомиров Исследование плавления нитевидных нанокристаллов индия в порах анодного оксида алюминия. Известия вузов. Электроника. 2004. № 4. с. 3−8.
  72. А.Н. Плавление нанонитей In, Cd и Zn, осажденных в матрицу пористого анодного оксида алюминия. Сб. тез. докл. Международной конф. студентов, аспирантов и молодых ученых по фундаментальным наукам «Ломоносов 2004» М. МГУ. 2004. с. 327−328.
  73. А.Н. Белов. Плавление нитевидных нанокристаллов металлов в порах анодного оксида алюминия. Сб. тез. докл. 11-й всероссийской межвузовской научно-технической конф. студентов и аспирантов М. МИЭТ. 2004. с. 38.
  74. Д.А., Белов А. Н. Влияние размеров нанокристаллов на температуру плавления Сб. тезисов проектов всероссийского конкурса студентов и аспирантов по естественным наукам. М.2004, с. 103−104
  75. A.N. Belov, S.A.Gavrilov, D.A. Kravtchenko D.G. Gromov, A.S. Malkova, A.A. Tikhomirov Melting behavior of metals in matrix of porous anodic alumina Abstracts of1. ternational conference «1С Micro- and nanoelectronics» Moscow-Zvenigorod. 2005 p. 03−08
  76. Д.А., Белов A.H. Влияние размеров нанокристаллов на температуру плавления Сб. материалов конференции студентов и аспирантов по естественным, техническим наукам и инновационным научно-образовательным проектам. М.2004, с. 344−347
  77. КомникЮ.Ф. Физика металлических пленок. Размерные и структурные эффекты. М.: Атомиздат, 1979. — 264 с.
  78. Zhang Z., Li J.C., Jiang Q. Modelling for size-dependent and dimension-dependent melting of nanocrystals // J. Phys. D: Appl. Phys. 2000. — Vol. 33. — p. 2653−2656.
  79. Wu Y., Yang P. Melting and welding semiconductor nanowires in nanotubes // Adv. Mater. 2001. — Vol. 13, №. 7. — p. 520−523.
  80. B.A. Курс физической химии. M.: Изд. «Химия», 1953. — 979 с.
  81. А.П., Бабушкина H.A., Братковский A.M. и др. Физические величины: справочник. -М.- Энергоатомиздат, 1991. 1232 с.
  82. А.Р., Глазов В. М. Физические свойства электронных расплавов. М.: Наука, 1980.-296 с.
  83. Оно С., Кондо С. Молекулярная теория поверхностного натяжения в жидкостях. М.: Изд. Ин. Лит., 1963. — 291 с.
  84. К. Борен, Д. Хафмен Поглощение и рассеяние света малыми частицами. М.: Мир, 1986.-662 с.
  85. Skillman D.C., Berry C.R., Effect of particle shape on the spectral absortion of colloidal silver in gelatin. J. Chem.Phys., 48, 1968, p.3297−3304
  86. Stookey S.D., Beall G.H. Pierson J.E. Full-color photosensitive glass. J. Appl. Phys., 49,1978 p.5114−5123
  87. Weyl W.A. Colored glasses. The Society of Glass Technology, Sheffield, England, 1951
  88. E.Yablonovitch. Photonic bandgap structures. JOSA В 10, (1993) p.283−287.
  89. J.D.Joannopoulos, R.D.Mead, J.D.Winn. Photonic crystals. Molding of Flow of Light. Princeton Univ. Press, 1995.
  90. А.Н.Белов, В. М. Рощин, В. И. Шевяков Элементы микро- и наносистем в сканирующей зондовой микроскопии Известия вузов. Электроника. 2005. № 4−5. с. 120−124
  91. М.А. Калитеевский Фотонные кристаллы: физические основы и возможные применения Тез. конф. «Международная зимняя школа по физике полупроводников», С.-Петербург, 2002, с. 7−14.
  92. S.J. Tans, A.R.M. Verschueren, С. Dekker, Room-temperature transistor based on a single carbon nanotube //Nature 393 (1998) p. 49−52.
  93. H.W.C. Postma, T. Teepen, Z. Yao, M. Grifoni, C. Dekker, Carbon nanotube single-electron transistors at room temperature // Science 293 (2001) p. 76−79.
  94. Y. Huang, X. Duan, Y. Cui, L.J. Lauhon, K.H. Kim, C.M. Lieber, Logic gates and computation from assembled nanowire building blocks // Science 294 (2001) p.1313−1317.
  95. Bachtold, P. Hadley, T. Nakanishi, C. Dekker, Logic circuits with carbon nanotube transistors // Science 294 (2001) p. 1317−1320.
  96. X. Duan, Y. Huang, R. Agarwal, C.M. Lieber, Single-nanowire electrically driven lasers //Nature 421 (2003) p. 241−245.
  97. W. Nam, H. Seo, S. C. Park, C. H. Bae, S. H. Nam, S. M. Park, J. S. Ha, Fabrication of Nanodot Arrays on Si by Pulsed Laser Deposition Using Anodic Aluminum Oxide Nanopore Membrane as Mask // Jap. J. Appl. Phys. Vol. 43, No. 11 A, 2004, p. 77 937 797
  98. L.E. Rehn, B.J. Kestel, P.M. Baldo, J. Hiller, A.W. McCormick, R.C. Birtcher, Self-organized porous-alumina implantation masks for generating nanoscale arrays // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research В 206 (2003) p.490−494
  99. В.А.Гергель, Ю. В. Гуляев, А. П. Зеленый, М. Н. Якупов, Сверхскоростной электронный дрейф в полевых одноэлектронных структурах с секционированным каналом // ФТП, 2004, т.38, вып.2, с.237−241.
  100. V.K.Smirnov, D.S.Kibalov, O.M.Orlov, V.V.Graboshnikov, Technology for nanoperiodic doping of a metal-oxide-semiconductor field-effect transistor channel using a self-forming wave-ordered structure // Nanotechnology, Vol.14 (2003) p.709−715
  101. ВА.Гергель, Ю. В. Гуляев, В. А. Курбатов, М. НЛкупов, Квазигидродинамическое моделирование электропроводности селективно легированных наноразмерных слоистых структур и островковых пленок в сильных электрических полях // ФТП, 2005, т.39, вып.4, с. 453−455.
  102. Y. Kanamoria, К. Hane, Н. Sai, Н. Yugami, 100 nm period silicon antireflection structures fabricated using a porous alumina membrane mask // Appl. Phys. Lett. Vol. 78, No.2,2001, p.142−143
  103. D. Crouse, Y.-H. Lo, A. E. Miller, M. Crouse, Self-ordered pore structure of anodized aluminum on silicon and pattern transfer // Appl. Phys. Lett. Vol.76, No. l, 2000, p.49−51.
  104. J. Liang, H. Chik, A. Yin, J. Xu, Two-dimensional lateral superlattices of nanostructures: Nonlithographic formation by anodic membrane template // J. Appl. Phys. Vol.91, No. 4 p.2544−2546.
  105. M. Fujita, A. Sugitatsu, T. Uesugi, S. Noda, Fabrication of Indium Phosphide Compound Photonic Crystal by Hydrogen Iodide/Xenon Inductively Coupled Plasma Etching // Jap. J. Appl. Phys. Vol. 43, No. 11A, 2004, p. L 1400-L 1402.
  106. H. Yugami, T. Yoneta, H. Sai, Fabrication of protonic conductors with nano-structured surface by porous alumina membrane mask // Solid State Ionics Vol. 154−155 (2002) p.693−697.
  107. V.V.Dvorkin, N.N. Dzbanovsky, N.V. Suetin, E.A. Poltoratsky, G.S. Rychkov, E.A. Il’ichev, S.A. Gavrilov, Secondary electron emission from CVD diamond films // Diamond and Related Materials Vol.12 (2003) p.2208−2218.
  108. J.E. Lee, G.W. Fraser, D. Dinsdale, Direct beta autoradiography using microchannel plate (MCP) detectors // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A Vol. 392 (1997) p.349−353
  109. T. Doll, J. Vuckovic, M. Hochberg, A. Scherer, Low-energy electron beam focusing in self-organized porous alumina vacuum windows // Appl. Phys. Lett. Vol. 76, No. 24 2000p.3635−3637.
  110. Sang-Duk PARK, Kyung-Suk MIN, Byoung-Young YOON, Do-Haing LEE and Geun-Young YEOM. Precise Depth Control of Silicon Etching Using Chlorine Atomic Layer Etching. Japanese Journal of Applied Physics. Vol. 44, No. 1 A, 2005, p. 389−393
  111. Dohaing LEE, ByungJae PARK and Geunyoung YEOMy. Effects of Axial Magnetic Field on Neutral Beam Etching by Low-Angle Forward-Reflected Neutral Beam Method. Japanese Journal of Applied Physics. Vol. 44, No. 2, 2005, p. L 63-L 66
  112. V.Bykov, A. Gologanov, V.Shevyakov. Test structure for SPM tip shape deconvolution. Appl. Phys. V.66. p. 499−502
Заполнить форму текущей работой

Заказал и сдал!