Дипломы, курсовые, рефераты, контрольные...
Срочная помощь в учёбе

Разработка и исследование новых способов и систем управления при диагностике состава и структурных особенностей материалов в атомно-эмиссионном анализе

Диссертация: Разработка и исследование новых способов и систем управления при диагностике состава и структурных особенностей материалов в атомно-эмиссионном анализе
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

В направлении совершенствования методического обеспечения раз-аботаны модели, отображающие зависимость измеряемых параметров пектрального излучения от количественного содержания элементов, реди них можно выделить такие, как построение моделей на основе оп-имальных и адекватных регрессионных градуировочных характеристик 29−30], статистические методы повышения точности выполняемых изме-ений… Читать ещё >

Содержание

  • ЛАВА 1. МЕТОДЫ И СРЕДСТВА ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЛИЧЕСТВЕННОГО СОСТАВА МАТЕРИАЛОВ
    • 1. 1. Принципы построения систем преобразования измеряемых параметров в количественное содержание элементов
      • 1. 1. 1. Природа спектрального излучения
      • 1. 1. 2. Зависимость интенсивности излучения от процентного содержания элементов
      • 1. 1. 3. Способы количественной оценки интенсивности излучения спектральных линий
    • 1. 2. Методы практического определения содержания элементов
      • 1. 2. 1. Фотографический метод исследования
      • 1. 2. 2. Фотоэлектрический метод исследования
    • 1. 3. Способы расчета погрешностей в спектральном анализе
      • 1. 3. 1. Оценка погрешностей при фотографическом методе
      • 1. 3. 2. Оценка погрешностей при фотоэлектрическом методе
    • 1. 4. Основные принципы построения автоматизированных систем
      • 1. 4. 1. Способы автоматизации фотографического анализа
      • 1. 4. 2. Анализ автоматизированных устройств фотоэлектрического анализа
    • 1. 5. ВЫВОДЫ
  • ПЛАВА 2. РАЗРАБОТКА И ОПТИМИЗАЦИЯ ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ И
  • СИСТЕМ УПРАВЛЕНИЯ ПРИ КОЛИЧЕСТВЕННОМ И СТРУКТУРНОМ АНАЛИЗЕ МЕТОДОМ КОНТРОЛЬНОГО ЭТАЛОНА ДЛЯ ВСЕГО ДИАПАЗОНА
    • 2. 1. Принципы построения изолированных систем в спектральном анализе
    • 2. 2. Метод определения количественного содержания элементов
    • 2. 3. Сущность фазовых измерений
      • 2. 3. 1. Постановка задачи. v
      • 2. 3. 2. Уравнения для фазового смещения
      • 2. 3. 3. Принцип построения изолированных систем, отображающих структурные особенности материалов
    • 2. 4. Методика определения структурных особенностей материалов относительно стандартных образцов
      • 2. 4. 1. Порядок определения структурных свойств на примере
    • 2. 5. Оценка степени гомологичности аналитических пар
      • 2. 5. 1. Метод оценки гомологичности по фазовым соотношениям
    • 2. 8. Разработка методики определения погрешностей при количественном и структурном анализе
    • 2. 7. Экспериментальная проверка
    • 2. 8. ВЫВОДЫ
  • ГЛАВА 3. РАЗРАБОТКА И ИССЛЕДОВАНИЕ НОВЫХ МЕТОДОВ МНОГОПАРАМЕТРО-ВОГО АНАЛИЗА НА ОСНОВЕ ФИЗИЧЕСКОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ КОЛИЧЕСТВЕННОГО СОДЕРЖАНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ
    • 3. 1. Постановка задачи исследования
    • 3. 2. Разработка средств математического обеспечения
    • 3. 3. Структурная схема и алгоритм анализа
      • 3. 3. 1. Алгоритм программы расчета
      • 3. 3. 2. Примеры расчета количественного содержания элементов
    • 3. 4. Экспериментальная проверка
    • 3. 5. Исследование физико-механических свойств материалов
    • 3. 6. ВЫВОДЫ
  • ГЛАВА 4. РАЗРАБОТКА И ВНЕДРЕНИЕ АВТОМАТИЗИРОВАННЫХ СИСТЕМ УПРАВЛЕНИЯ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО АНАЛИЗА ,""""""","
    • 4. 1. Общая характеристика ИВК
      • 4. 1. 1. Аппаратные средства ИВК
    • 4. 2. Методическое обеспечение ИВК
      • 4. 2. 1. Выбор типа аппроксимирующих функций
      • 4. 2. 2. Метод «трех» эталонов
      • 4. 2. 3. Метод контрольного образца
    • 4. 3. Описание программного обеспечения
      • 4. 3. 1. Состав программного обеспечения
      • 4. 3. 2. Структура системы управления базой данных
    • 4. 4. Порядок работы на измерительном комплексе
      • 4. 4. 1. Порядок работы программы обработки данных анализа
      • 4. 4. 2. Программа градуировки и корректирования
      • 4. 4. 3. Выбор режима работы системы управления базой данных
      • 4. 4. 4. Структура тестовой программы
    • 4. 5. ВЫВОДЫ

Разработка и исследование новых способов и систем управления при диагностике состава и структурных особенностей материалов в атомно-эмиссионном анализе (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Проблема повышения качества продукции на современном этапе зависит не только от совершенствования технологических процессов, их автоматизации и управления, но также и от используемых методов анализа и контроля качества. Основной задачей данных методов является разработка средств измерения параметров, характеризующих определенные физико-химические и физика-механические свойства исследуемого объекта, последующее определение этих свойств и их сопоставление с допустимыми значениями, установленными в соответствующих стандартах и систем управления процессами контроля,.

Важными характеристиками методов анализа и контроля являются их чувствительность к контролируемому параметру, эффективность и надежность регистрации этого параметра и возможность создания автоматизированных измерительных устройств, способствующих повышению качества проводимых исследований.

Все сказанное в полной мере относится и к средствам анализа количественного состава и физико-химических свойств материалов и изделий. К ним относятся и атомно-эмиссионные спектральные методы исследования.

Наибольшее практическое применение методы спектрального анализа нашли при исследовании количественного состава материалов. На их основе разработаны и внедрены высокопроизводительные автоматизированные измерительно-вычислительные системы с использованием современных персональных компьютеров [1−53. В связи с этим большой объем работ проведен в направлении автоматизации различных этапов проведения анализов [6−113, совершенствования источников излучения [12−153, создания средств измерения и регистрации излучения [16−203, стабилизации по объему низкотемпературной плазмы [21−283 и ряд других работ.

В направлении совершенствования методического обеспечения раз-аботаны модели, отображающие зависимость измеряемых параметров пектрального излучения от количественного содержания элементов, реди них можно выделить такие, как построение моделей на основе оп-имальных и адекватных регрессионных градуировочных характеристик 29−30], статистические методы повышения точности выполняемых изме-ений [31−32], оптимизация количества используемых образцов С33−34] ряд других исследований.

Указанные работы преследуют решение следующих основных задач: овышение качества, эффективности и быстродействия количественных нализов путем внедрения высокопроизводительных систем, сочетающих себе простоту в эксплуатации и высокую культуру обслуживания.

Исходным во всех случаях является использование комплектов тандартных образцов (СО), причем с увеличением числа СО точность пределения контролируемого параметра увеличивается. Такой традици-нный подход к решению задач практического спектрального анализа су-ественно ограничивает область его применения, обусловленный обяза-ельным использованием СО. Сужаются функциональные возможности высо-опроизводительного метода только количественными анализами.

Основной целью данной работы является дальнейшее совершенство-ание и оптимизация существующих атомно-эмиссионных методов коли-ественного анализа. Разработке на этой основе соответствующего ме-одического обеспечения, алгоритмов и программ для персональных омпьютеров, позволяющих обеспечивать количественный анализ материа-ов без применения каких-либо стандартных образцов, управлять провесами контроля для достижения заданной точности и вместе с тем сущеотвлять контроль структурных особенностей исследуемых проб от-осительно контрольных образцов-эталонов.

Для достижения поставленных целей решались следующие задачи:

1. Разработка способов расширения диапазонов использования одного стандартного образца для диагностики количественного состава исследуемых материалов во всем интервале спектрального анализа и создание на этой основе соответствующего методического обеспечения.

2.Создание методик, алгоритмов и компьютерных программ, позволяющих управлять процессом контроля при фотографическом и фотоэлектрическом методах спектрального анализа, устанавливающих взаимосвязь измеряемых почернений спектральных линий и напряжений по каналам квантометров с изменением структурными свойств исследуемых материалов.

3.Разработка методов определения погрешностей при структурном и количественном анализах в процессе их выполнения.

4. Формирование методологии оптимизации систем управления аналитического контроля для выполнения количественных анализов без использования стандартных образцов.

5. Разработка методического обеспечения с целью обеспечения практической реализации созданных компьютерных программ для количественных анализов неизвестных материалов, изделий, жидких и газообразных сред.

Весь комплекс исследований проводится на стадии обработки результатов измерений анализа.

Научные полотвтя, выносимые на защиту:

1.Предложена математическая модель и на ее основе методики, алгоритмы, программное обеспечение и системы управления процессами контроля без применения стандартных образцов.

2.Способы создания изолированных систем в спектральном анализе с целью решения взаимосвязанных задач контроля количественного состава и структурных особенностей исследуемых материалов.

3.Впервые выявлен и оценен информационный параметр, отражающий.

8. изменение структурных особенностей материалов. Это позволило предложить новый подход к созданию систем управления процессами контроля в атомно-эмиссионном спектральном анализе.

4. На базе разработанных в работе теоретических положений, методик, алгоритмов создан и внедрен на базе ШХ>8 автоматизированный информационно-вычислитель ный комплекс.

Основные результаты теоретических и экспериментальных исследований, приведенных в диссертационной работе, можно сформулировать следующим образом:

1. Существующие в настоящее время методы и средства диагностики материалов атомно-эмиссионном методом: спектрального анализа требуют дальнейшего развития и совершенствования в направлении уменьшения числа используемых стандартных образцов, расширения функциональных возможностей путем разработки новых способов количественного и структурного анализов.

2. Впервые показано, что контроль структурных особенностей материала методом одного стандартного образца анализе может осуществляться при соблюдении условий теплообмена с окружающей средой. При этом, мерой изменения структурных свойств является величина энергетического взаимодействия низкотемпературной плазмы с внешней средой.

3. Разработан метод измерения фазовых смещений для определения изменения структурных свойств материала пробы относительно стандартного образца.

4. Определена методика, алгоритм и программное обеспечение рас-1етов фазовых смещений для количественной оценки физико-механического состояния материалов проб.

5. Рекомендован практический способ количественной оценки гомо-гогичности контролируемой аналитической пары в процессе выполнения секущих анализов на основе расчетов средних значений фазовых сдвигов з гомологичной системе проба-стандартный образец. Предложена методика расчета относительной погрешности данной составляющей.

6. Разработана методика оценки отдельных составляющих общей югрешности при определении структурных свойств и количественного юстава исследуемых объектов.

7.На основе использования многопараметровых функций разработан принципиально новый метод определения количественного содержания элементов без использования стандартных образцов в текущих экспресс-анализах различных материалов, включая жидкие и газообразные среды. Его: реализация стала возможной благодаря разработанному методу определения количественных интервалов содержания элементов на основе критериев сходимости по изменениям численных значений разности почернений на концах интервалов.

8.Установлена корреляционная зависимость между твердостью сталей и процентным содержанием элементов, что позволило расширить область применения спектрального анализа для определения твердости металлов и их сплавов.

9.Разработан и внедрен измерительно-вычислительный комплекс фотоэлектрического анализа, включающий в себя отечественную измерительную установку МЮ-8 и персональный компьютер IBM PC, позволяющей в автоматическом режиме осуществлять количественный анализ двумя независимыми способами: методом «трех» эталонов и методом контрольного эталона во всем диапазоне исследований.

10.Разработанные методы количественного анализа расширяют область применения атомно-эмиссионных способов для контроля любых' материалов и сред, повышают быстродействие, качество и экономическую эффективность анализов.

11.Результаты диссертационной работы в виде программного обеспечения внедрены на Омских предприятиях ПО им. Баранова и АО «Омс-кагрегат» и ряде других городов России.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

.

Показать весь текст

Список литературы

  1. айдель А.Н., Шрейдер Е. Я. Вакуумная спектроскопия и ее применение. -М.: Наука, 1976, 342 с.
  2. В.В. и др. Современное состояние промышленного спектрального анализа в металлургии и геологии СССР. //Заводская лаборатория, 1962 N2, с. 32−36.
  3. З.Огнев В. Р., Петров Л. Л.. Спектральный анализ элементов примесей в горных породах. -М.: Наука, 1972, 342 с.
  4. В.В., Недлер В. В. Проблемы и перспективы спектрального анализа. //Заводская лаборатория, «1984, N10, с. 1.
  5. В.М., Петрова А. А., Соловьев А. А. Состояние и перспективы развития оптического спектрального метода анализа неорганических газов. (Обзор). //Заводская лаборатория, 1984, N2.
  6. ДженкинсГ., Ватт Л. Спектральный анализ и его приложения. -М. :1. Мир, 1971, 291 о.
  7. А.с. СССР 1 017 982, кл. МКИ G 01 N21/65. Способ определения концентрации нефтепродуктов в сточных водах. /Ощепков С.Л. и др. //Открытия и изобретения, 1982, N18.
  8. А.с. СССР 1 092 391, кл. МКИ G 01 N21/67. Способ эмиссионного. спектрального анализа порошковых материалов. /Огнев В.Р., Шевченко В. П., Огнева Э. Я. //Открытия и изобретения, 1982, N18.
  9. В.В., Велянин В. Б. Современное состояние и перспективы развития спектрального анализа. / В кн. Новые методы спектрального анализа. Новосибирск: Наука, 1983, с. 6−11.
  10. Ю.Зайдель А. Н. Техника и практика спектроскопии. -М.: Наука, 1976, 392 с. 1. Нагибина И. М., Прокофьев В. К. Спектральные приборы и техника.спектроскопии. Изд. 2-е. -Л.: Машиностроение, «1967, 324 с.
  11. Изд-во Казанского университета, 1961, 179 с. айдель А.Н., Островская Г. В., Островский Ю. И. Техника и практикаспектроскопии. -М.: Наука, 1976, 392 с. токов И. В. Оптические спектральные приборы. Учебное пособие для
  12. ВУЗов.-М.: Машиностроение, 1984, 240 с.временные методы химико-аналитического контроля в машиностроении. -М.: МДНТП, 1981, 157 с. ?андартные образцы для спектрального анализа сталей и сплавов. Справочное пособие. -М.: ВИАМ, 1984, 85 с.
  13. Стандартные образцы для химического и спектрального анализа материалов черной металлургии.//Заводская лаборатория, 1987, N4, с. 86−88.
  14. А.Б., Шубина C.?. Промышленные методы спектрального анализа. -М.: Металлургия, 1965, 224 с. 28.3айдель А.Н., Калитевский Н. И., Липис Л. С., Чайка М. П. Эмиссионный спектральный анализ атомных материалов. -М.: Физматгиз, 1960.
  15. Я.Д. Физические основы спектрального анализа. -М.: Наука, 1980, 158 с.
  16. А.К. Основы количественного спектрального анализа руд и минералов. -М.: Недра, 1978.
  17. Н.В., Рюхин В. В., Горбунов С. А. Эмиссионный спектральный анализ. -Л.: Машиностроение, 1971, 214 с.
  18. Т. и др. Эмиссионный спектральный анализ. -М.: Мир, 1982.
  19. А.Г. Методы расчета в количественном спектральном анализе.-Л.: Недра, 1977, 108 с.
  20. К.И. Исследование возможности повышения чувствительности эмиссионного спектрального анализа при фотографической регистрации спектров. :Автореф. канд. дис., Минск, 1965.
  21. Зб.Шепилова Д. П. 0 построении характеристических кривых фотопластинок по спектральным линиям железа. //Заводская лаборатория, 1983, N9, с. 45−46.
  22. Ф.Г., Лякишева В. И. Сопоставление возможностей экспрессивных фотографических методов спектрального анализа сплавов. //Заводская лаборатория, 1985, N3, с. 84−85.
  23. B.C., Янковский A.A. Практическое руководство по спектральному анализу. Минск: Изд-во Акад. наук БССР, 1960, 232 с.
  24. С.Л. Введение в спектральный анализ. -М., Л.: 0ГИЗ, 1946.
  25. С.А. и др. Состояние и перспективы развития отечественных оптических квантометров. //Заводская лаборатория, 1982, N2, с.40−42.
  26. Н.В., Киреев А. Д. Квантометрический анализ металлов и сплавов. Новосибирск: Наука, 1986, 124 с.
  27. С.А., Подмошенская C.B.,.Трилесник И. И. Фотоэлектрическая система с ЭВМ для эмиссионного спектрального анализа. //Материалы семинара по спектральному анализу. -Л.: ЛДНТП, 1985, с. 18−22.
  28. А.П., Голяс Ю. Е. Персональные ЭВМ в заводской лаборатории (возможности и перспективы). //Заводская лаборатория, 1988, N5, с. 95−99.
  29. ГОСТ 16 363–70. Спектральный анализ. Методы оценки точности измерений. Изд-во стандартов, 1970.
  30. Т. Оценка точности результатов измерений. -М.: Энергоато-миздат, 1988, 88 с.
  31. Метрологическое обеспечение контроля состава материалов.: Справочник / Ю. Д. Плинера. -М.: Металлургия, 1982, 168 с.
  32. Т., Мика И., Гегеуш 3. Эмиссионный спектральный анализ. Пер. с англ. -М.: Мир, 1982, Т.2, 159 с.
  33. Автоматизированная система эмиссионного спектрального анализа. /Иванова Т.И. //Реферативный журнал «Автоматикаа», 1988, N5, с. 3- 27, реф. 5А458.
  34. Н.С., Перелыгин С. Ф., Казанцева Т. И. Автоматизированная система обработки фотографических спектров. Тез. докл. на 111 региональной конференции «Аналитика Сибири-90», Иркутск, 1990, с. 278.
  35. Taylor В.L., Birks F.Т.//Analyst. 1972, V. 97,. N1158, P. 681−690.
  36. Ю.Х., Ееличев С, М., Цапов: й.В., Злажев Р. К. Автоматизированная система обработки спектрограмм при спектральном анализе. //Заводская лаборатория, 1987, N8, с. 30−32.
  38. Оптикомеханическая промышленность. 1978, N11, с.55−70.
  39. Crosse Р., Harbecke В., Heinz В. et. al. //Applied Physics A. -1986, V. 39, p. 257.
  40. Е.Г. и др. Модернизация фотоэлектрической установки металлургического производства. //Заводская лаборатория, 1986, N6, с. 87−89.
  41. Кох К.Х., Вюнш X. //Черные металлы. 1982, N10, с. 3−7.
  42. Квантометр Polyyac Е600. //Рекламный проспект фирмы Rank Precion Industries (Англия), 1969.
  43. Ким A.A., Катакова Б. А. Из опыта освоения спектрометра «Поливак E97G». //Заводская лаборатория, 1987, N12, с. 85−87.
  44. Т.А., Сакалис О. М. Спектральный анализ сталей с использованием автоматизированной системы «Поливак Е-970». //Заводская лаборатория, 1986, N11, с. 86−88.
  45. A.B., Емельянов А. И., Мандрыгин В. В. /Приборы и системы управления. 1983, N11, с. 13−15.
  46. H.A., Мельников В. И., Никольский А. П. Автоматизированные системы оптического спектрального анализа металлов и сплавов. //Заводская лаборатория, N6, 1986, с. 20.
  47. В.Н., Цой E.B., Коваль K.K. Об алгоритме построения граду-ировочных графиков в автоматизированных системах обработки результатов спектрального анализа. //Заводская лаборатория, N6, 1986, с. 27.
  48. H.A., Игнатова Н. И., Мельников В.И.//Заводская лаборато-. рия, 1985, Т.51, N4, с. 20.
  49. H.A., Игнатова Н. И. //Журнал ' прикладной спектроскопии, 1986, Т.44, вып. 2, с. 336.
  50. H.A. Совершенствование методов атомно-эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов с помощью ЭВМ. //Заводская лаборатория, N8, «1991, с. 22.
  51. И.И., Малыхина Л. А. Алгоритм использования спектральной информации при аттестации стандартных образцов состава сплавов. // Заводская лаборатория, 1989, N2, о. 34−35.
  52. В.Н., Косенко А. И., Усов В. А., Джураев В. Б. Система автоматизированной обработки результатов спектрального анализа проб металлов. //Заводская лаборатория, 1985, N2, с. 22−24.
  53. Л.П., Шеверда Б. А. Оптимизация параметров градуированных функций для квантометров фирмы ARL. //Заводская лаборатория, 1988, N2, с. 40.
  54. Диагностика состава материалов рентгенодифракционными и спектральными методами. /М.С. Нахмансон, В. Г. Фекличев, -Л.: Машиностроение, 1990, 357 с.
  55. ГОСТ 7727–81. Спектральный анализ. Метод трех эталонов. Изд-во стандартов, 1981.
  56. A.A., Мосичев В. И., Шушканов В. М. Пакет прикладных программ для автоматических расчетовв атомно-эмиссионном спектральном анализе. -Л.: Общество «Знание», ЛДНТП, 1990, 32 с.
  57. Ю.М. Автоматизированная обработка результатов атомно-эмиссионного спектрального анализа. //Заводская лаборатория, N9, 1988, с. 47−48.
  58. .П., Марон И. А. Основы вычислительной математики. -М.: Наука, 1966, 664 с.
  59. И.И., Цейтман М. С. ДАН СССР, 137, N2/295, с. 161.э.Никитенко Б. Ф., Казаков Н. С., Кузнецов В. Ш-Пути повышения достоверности и точности анализа эмиссионной спектроскопии. -М.: ЦНИИИ и ТЭИ, 1989, 53 с.
  60. З.Прохоренко Е. Ф., Сычева C.B., Моисеева В. В. Оценка воспроизводимости спектрального анализа проволоки различного диаметра в зависимости от способа подготовки проб. //Заводская лаборатория, 1989, N1 с. 103−104.
  61. Устройство спектрального анализа: положительное решение о выдаче патента РФ N4855490/25 от 20.05.91 /А.И. Одинец, Е.Ф. Никитен-ко, В. П. Кузнецов, A.A. Кузнецов.
  62. A.A. Математические методы и ЭВМ в химии. М.: Наука, 1989, 354 с.
  63. В.В. Применение математической статистики при анализе вещества. -М.: Наука, 1960.
  64. Ю.В., Кузнецов В. П., Корнев К. П., Никитенко Б. Ф. Метод определения процентного содержания элементов при фотографическом спектральном анализе. //Изв. вузов СССР, Приборостроение, 1991, N2, с. 67−70.
  65. Способ определения массовых долей элементов в материалах и сплавах. /Н.С. Казаков, Е. Ф. Никитенко, В. П. Кузнецов, A.A. Кузнецов. //Передовой производственный опыт, 1991, N1.
  66. Патент 1 828 696, Россия, МКИ (З), GDI N 21/67. Способ определения содержания массовых долей элементов в материалах- и сплавах. /Б.Ф. Никитенко, А. И. Одинец, Н. С. Казаков, В. П. Кузнецов, A.A. Кузнецов. Билл., N5, 1995.
  67. Зб.Закускин C.B. Математическое обеспечение автоматизированных систем аналитического контроля. /Дисс.. кандидата техн. наук. .-М.: 1986
  68. Н.М., Саенко O.A., Слепченко Н. И. Спектральное определение титана в лигатуре алюминий-титан с применением стандартных образцов предприятия. //Заводская лаборатория, 1989, N4, с. 103−104.
  69. A.A. Разработка и исследование способов диагностики материалов в атомно-эмиссионном экспресс-анализе. /Дисс. кандидата техн. наук. Омск, 1995.
  70. В.И., Введение в экспериментальную спектроскопию. -М. .-Наука 1979, 420 с.
  71. Ю.М. Фотоэлектрические методы спектрального анализа металлов и сплавов. -М.: Металлургия, 1984, 225 с.
  72. А.Е. Методы спектрального анализа. -Л.: Машиностроение, 1975, 330 с. i2.Никольский A.n., Замараев В. П., Бердичевский Г. В. Автоматизированный экспресс-контроль состава материалов в черной металлургии. -М.: Металлургия, 1985, 104 С.
  73. З.Верховский В. И. и др. Автоматизация аналитического контроля в металлургии. //Заводская лаборатория, 1982, N2, с. 37−40.
  74. Ю.И., Забродин А. Н. Теоретический выбор формы уравнениясвязи при РСА пульповых продуктов цветной металлургии. /В сб.: Автоматизация горно-обогатительных процессов цветной металлургии. -М. ВШ1КИ, «Цветметавтоматика», 1981, с. 40−47.
  75. Ш. И. и др. Использование рассеянного первичного излучения при РСА методом теоретических поправок. //Заводская лаборатория, 1984, 50, N11, с. 20−23.
  76. .Д., Карамышев Н. Й., Плотников Р. Н., Вершинин A.C. Учетизменения эффективной длины волны в рентгеноспектральном анализе способом теоретических поправок. //Заводская лаборатория, 1985.
  77. Э. Симаков В. А., Сорокин И. В. Использование метода фундаментальных параметров при РСА. //Заводская лаборатория, 1984, Т.50, N4, с. 24.
  78. DO.Mantler M. LAMA 111-a computer program for quantitative XRFA of bulk specimens and thin film layers. //Advances in X-ray analysis, 1984, V. 27, p. 433−440.
  79. Л.Першин H.B., Голубев A.A., Мосичев В. И. О возможностях повышенияточности метода фундаментальных параметров. //Заводская лаборатория, 1991, N11, с. 51−55.
  80. Ю.И., Павлинский Г. В., Ревенко А. Г. Программа расчета интенсивностей аналитических линий рентгеновского спектра флуоресценции. //Заводская лаборатория, 1977, 43, N4, с. 433−436.
  81. В.П., Гуничева Т. Н., Пискунова Л. Ф. Рентгено-флуоресцентный силикатный анализ. -Новосибирск: Наука, «1984.
  82. Об.Зайдель А. Н. Погрешности измерения физических величин. -Л.: Наука, 1985, 431 с.
  83. Об.Никитенко Б. Ф., Казаков Н. С., Кузнецов A.A. Повышение эффективности атомно-эмиссионного экспресс анализа. //Передовой производственный опыт, 1991, N1.
  84. Н.О., Никитенко Б. Ф., Кузнецов В. П., Кузнецов A.A. Способ определения массовой доли химических элементов в материалах и сплавах. //Передовой производственный опыт, 1991, N4.
  85. .Ф., Казаков Н. С., Кузнецов A.A. Разработка и использование автоматизированных измерительных систем в спектральном анализе. -М.: НТЦ «Информтехника», 1990, 80 с.
  86. И.В., Вешкурцев Ю. М. Метод подбора оптимальных интервалов количественного содержания элементов в спектральном анализе. //Дефектоскопия, У0 РАН, N, 1998, с.
  87. Ш. Вест Ч. Голографическая интерферометрия. -М.: МИР, 1982, 504 с.
  88. А.с. COOP 1 826 359, кл. В 23 Q 15/00 //G Ol W 3 /58. Способ определения износа инструмента./Пякилля И.В., Скворцов В. М. 1992.113.А.с. СССР
  89. K.M. Ферромагнетики, -М.-Л.: ГЭИ, 1957, 419 с.
  90. Автоматизация фотографического спектрального анализа. /Никитенко Б.Ф., Казаков Н. С., Кузнецов A.A. //Тезисы докладов на 3-ей Региональной конференции «Аналитика Сибири-90», Иркутск, 1990.
  91. М. Физика оптических явлений. -М.: Энергия, 1967, 374 с.
  92. Born М. Z. Physik, 1926, 37, 863.
  93. Born М. Z. Physik, 1926, 36, 803.
  94. И.В., Никитенко Б. Ф., Кузнецов А.А.Принцип построения систем автоматического корректирования в атомно-эмиссионном анализе.
  95. Ю.М., Пякилля И. В., Казаков Н. С. Алгоритм количественного спектрального с автоматической коррекцией стандартных образцов. //Дефектоскопия, УО РАН, N, 1998, с.
  96. Н.П. Методы вычислений. -М.: Наука, 1966, т.1, 632 с.
  97. Г. И. Теория физического вакуума, -М.: изд-во НТ-ЦЕНТР, 1993, 362 с.
  98. А.П. Кручение пространства-времени. -М.: препринт, N6, изд-во «НТЦ ВЕНТ», 1991, 75 с.171
Заполнить форму текущей работой

Заказал и сдал!